陶瓷结构体、其制法及半导体制造装置用部件

    公开(公告)号:CN107135560B

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201710073140.5

    申请日:2017-02-10

    Abstract: 本发明涉及一种陶瓷结构体、其制法及半导体制造装置用部件。陶瓷结构体(10)在圆盘状的AlN陶瓷基体(12)的内部内置有加热电极(14)。加热电极(14)是使主成分WC中含有与AlN相比电阻率低且热膨胀系数高的金属填料(例如Ru、RuAl)而得到的。AlN陶瓷基体(12)与加热电极(14)在40~1000℃下的热膨胀系数的差值的绝对值|ΔCTE|为0.35ppm/℃以下。

    烧结体、电路元件及烧结体的制造方法

    公开(公告)号:CN110997597B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN201780093781.5

    申请日:2017-08-18

    Abstract: 烧结体中,作为主相,包含氧化铝相,还包含非晶质相及堇青石相,该非晶质相含有Si和Mn。气孔率为1.1%以上5.0%以下。优选为,将利用XRD衍射法得到的、堇青石的主峰强度设为I1,将氧化铝的主峰强度设为I2时,I1/(I1+I2)为0.20以上0.45以下。在烧结体的制造中,制备如下粉末,该粉末包含:70质量%以上85质量%以下的氧化铝、按SiO2换算计3质量%以上7质量%以下的Si成分、按MnO换算计3质量%以上6.5质量%以下的Mn成分、以及8质量%以上15质量%以下的堇青石,且这4种成分的合计为85质量%以上。由粉末得到成型体,对成型体进行烧成,得到烧结体。

    烧结体、电路元件及烧结体的制造方法

    公开(公告)号:CN110997597A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201780093781.5

    申请日:2017-08-18

    Abstract: 烧结体中,作为主相,包含氧化铝相,还包含非晶质相及堇青石相,该非晶质相含有Si和Mn。气孔率为1.1%以上5.0%以下。优选为,将利用XRD衍射法得到的、堇青石的主峰强度设为I1,将氧化铝的主峰强度设为I2时,I1/(I1+I2)为0.20以上0.45以下。在烧结体的制造中,制备如下粉末,该粉末包含:70质量%以上85质量%以下的氧化铝、按SiO2换算计3质量%以上7质量%以下的Si成分、按MnO换算计3质量%以上6.5质量%以下的Mn成分、以及8质量%以上15质量%以下的堇青石,且这4种成分的合计为85质量%以上。由粉末得到成型体,对成型体进行烧成,得到烧结体。

    陶瓷部件及半导体制造装置用部件

    公开(公告)号:CN104064534B

    公开(公告)日:2018-06-05

    申请号:CN201410108729.0

    申请日:2014-03-21

    Inventor: 渡边笃 西村升

    CPC classification number: H01L21/6833

    Abstract: 本发明提供一种陶瓷部件以及半导体制造装置用部件,其在包含氧化镁的陶瓷部件以及半导体制造装置用部件中,具有性能得到改进的电极。半导体制造装置用部件20具有基材部22以及形成于基材部22上的陶瓷部件30。本发明的陶瓷部件30具有陶瓷基体32和设置在陶瓷基体32的一部分上的电极34,其中陶瓷基体32包含氧化镁、规定成分固溶于氧化镁中的氧化镁固溶体以及氧化锆中的至少一种,电极34包含作为电极成分的钌铝合金。陶瓷部件30是平板状部件,其具有电极34被埋设在其内部的结构。该电极34与从陶瓷部件30的下侧插入的供电部件26连接,由该供电部件26供给电力。

    层叠结构体及半导体制造装置部件

    公开(公告)号:CN113451172B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202110228008.3

    申请日:2021-03-02

    Abstract: 本发明提供层叠结构体及半导体制造装置部件,层叠结构体(10)具备:第一结构体,其由包含AlN及MgAl2O4作为主相的复合烧结体形成;以及第二结构体,其由陶瓷烧结体形成,且层叠并接合于该第一结构体。并且,该第一结构体与该第二结构体的线性热膨胀系数之差为0.3ppm/K以下。由此,能够抑制由热应力所导致的第一结构体与第二结构体之间的接合部受损。

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