-
公开(公告)号:CN1879007A
公开(公告)日:2006-12-13
申请号:CN200480033199.2
申请日:2004-10-28
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: G01C19/5621 , G01C19/5628 , G01C19/5783
Abstract: 本发明提供一种在使用振子的物理量测定装置中,可以降低检测信号的零点温度漂移这样的振子支撑构造。提供一种通过连接线(26)来支撑振子(1A)的支撑部件(22)。支撑部件(22)具有形成有应该配置在振子1A正下方的开口(25)的支撑板(40)以及连接线(26),该连接线(26)具有:应该连接固定在振子(1A)上的连接端部(29);固定到支撑板(40)上的固定部(26a);以及存在于开口(25)下的折曲部(28)。连接线(26)从支撑板(40)的突出开始位置(39)与折曲部(28)的间隔(L1)是折曲部(28)与连接端部(29)的间隔(L2)的10%或者10%以上。
-
公开(公告)号:CN1609555A
公开(公告)日:2005-04-27
申请号:CN200410076604.0
申请日:2004-08-19
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: G01N29/022 , G01G3/16 , G01N29/024 , G01N2291/0256 , G01N2291/0426 , G01N2291/0427
Abstract: 质量测量的装置1包括振子2,用于激发振子2中的基振的驱动装置3A、3B、3C和3D,用于探测振子2中的振动位移的探测装置4A和4B,和能够吸附探测物质的吸附薄膜5。质量是基于在质量未测时,从探测装置4A和4B获得的振动位移探测值和在该质量测量时从探测装置4A和4B获得的振动位移探测值之间的差值测得的。
-
公开(公告)号:CN100494893C
公开(公告)日:2009-06-03
申请号:CN200410076604.0
申请日:2004-08-19
Applicant: 日本碍子株式会社
CPC classification number: G01N29/022 , G01G3/16 , G01N29/024 , G01N2291/0256 , G01N2291/0426 , G01N2291/0427
Abstract: 质量测量的装置1包括振子2,用于激发振子2中的基振的驱动装置3A、3B、3C和3D,用于探测振子2中的振动位移的探测装置4A和4B,和能够吸附探测物质的吸附薄膜5。质量是基于在质量未测时,从探测装置4A和4B获得的振动位移探测值和在该质量测量时从探测装置4A和4B获得的振动位移探测值之间的差值测得的。
-
-