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公开(公告)号：CN113205833A
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN202011587086.4
申请日：2020-12-28
申请人： 日本发条株式会社
IPC分类号： G11B5/48
摘要： 磁盘装置用悬架具备具有第1和第2开口的承载梁，具有第1和第2悬臂梁的挠曲件，和第1和第2阻尼材料。第1悬臂梁与承载梁的第1表面相对地沿从基端侧向前端侧的方向横穿第1开口。第2悬臂梁与承载梁的第1表面相对地沿从基端侧向前端侧的方向横穿第2开口。第1阻尼材料粘附于与第1开口重叠的第1悬臂梁的一部分和第1表面上，第2阻尼材料粘附于与第2开口重叠的第2悬臂梁的一部分和第1表面上。第1开口的前端侧的边缘部和第1阻尼材料间隔一段距离，第2开口的前端侧的边缘部和第2阻尼材料间隔一段距离。
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公开(公告)号：CN101341412B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN200680045544.3
申请日：2006-12-04
申请人： 日本发条株式会社
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07371
摘要： 本发明提供一种探针卡，能够可靠地进行基板与空间转换器的电连接，且可容易以低成本进行维修。本探针卡具备：多个探针，其与半导体晶片接触而进行电信号的输入或者输出；对所述多个探针进行收容保持的探针头；具有与生成检测用信号的电路结构相对应的配线图案的基板；安装在所述基板上对所述基板进行加强的加强构件；插入件，其具有在轴线方向上伸缩自如的多个连接端子以及形成有将所述多个连接端子分别进行收容的多个孔部的壳体，该插入件层叠在所述基板上，且将所述基板的配线进行转接；以及空间转换器，其层叠在所述插入件和所述探针头之间，变换由所述插入件转接的配线的间隔，并表露在与所述探针头侧相对的一侧的表面。
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公开(公告)号：CN101496156A
公开(公告)日：2009-07-29
申请号：CN200780028610.0
申请日：2007-07-26
申请人： 日本发条株式会社
CPC分类号： G01R31/2891 , G01R1/07307
摘要： 本发明提供一种即使探针板的安装基准面和作为检查对象的晶片的表面失去平行度，也能够使该探针板保持的探针相对于晶片同样地进行接触的探针板的平行度调整机构。为了该目的，设有构成倾斜度变更机构的至少一部分的调整螺钉(22)，所述倾斜度变更机构用于对保持多个探针(1)的探针板(101)相对于晶片(31)的平行度进行调整，从而变更探针板(101)相对于安装探针板(101)的探测器(201)的安装基准面(S1)的倾斜度，所述探针(1)将作为检查对象的晶片(31)和生成检查用的信号的电路构造之间电连接。
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公开(公告)号：CN101346633A
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200680049212.2
申请日：2006-12-20
申请人： 日本发条株式会社
CPC分类号： G01R1/07378 , G01R1/44 , G01R31/2863 , G01R31/2874
摘要： 提供一种探针卡，该探针卡无论检查时的温度环境如何，都能可靠地使探针与接触对象接触。为了达到上述目的，采用下述结构，包括：多个探针，由导电性材料构成，与所述半导体晶片具有的电极焊盘接触，以进行电信号的输入或输出；探针头，其收容并保持所述多个探针；基板，其具有与所述电路结构对应的布线图案；和间隔变换器，其层叠于所述探针头，改变所述基板具有的所述布线图案的间隔并进行中继，具有对应于该中继后的布线并设置在与所述探针头相对向一侧的表面上的电极焊盘，所述探针的两端，在具有检查所述半导体晶片时的最低温度和最高温度的平均温度的环境下，与所述半导体晶片以及所述间隔变换器分别具有的所述电极焊盘的中央部附近接触。
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公开(公告)号：CN118969026A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202410569914.3
申请日：2024-05-09
申请人： 日本发条株式会社
IPC分类号： G11B5/48
摘要： 头部驱动装置，包括底座部件(17)，头部支撑件(33)，梁构件(31、32、61、62)，压电单元(PZ1、PZ2、PZ3、PZ4)和加强构件(90)。加强构件(90)包括第一构件(90a)和第二构件(90b)。第一构件(90a)沿头部部件(9)的长度方向设置在第一端部(9a)和底座部件(17)之间。第二构件(90b)沿头部部件(9)的长度方向设置在第二端部(9b)和底座部件(17)之间。加强构件(90)允许头部支撑件(33)沿磁带表面沿方向移动，并控制头部支撑件(33)沿头部部件(9)的厚度方向移动。
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公开(公告)号：CN101454676B
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN200780015483.0
申请日：2007-04-25
申请人： 日本发条株式会社
CPC分类号： G01R1/07371 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/06772
摘要： 本发明提供一种导电性触头支架，其通过单纯且容易组装的构成而可以对应高周波信号，并且也可以对应检查对象的高集成化及小型化。该导电性触头支架具备：绝缘性支架部件，其由绝缘性材料形成，且具有第一贯通孔，所述对电路结构进行信号的输入输出的信号用导电性触头在大致全长上直接穿过该第一贯通孔；导电性块状部件，其由导电性材料形成，且具有第二贯通孔，所述接地用导电性触头的一部分可接触地穿过第二贯通孔。
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公开(公告)号：CN101346633B
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200680049212.2
申请日：2006-12-20
申请人： 日本发条株式会社
CPC分类号： G01R1/07378 , G01R1/44 , G01R31/2863 , G01R31/2874
摘要： 提供一种探针卡，该探针卡无论检查时的温度环境如何，都能可靠地使探针与接触对象接触。为了达到上述目的，采用下述结构，包括：多个探针，由导电性材料构成，与所述半导体晶片具有的电极焊盘接触，以进行电信号的输入或输出；探针头，其收容并保持所述多个探针；基板，其具有与所述电路结构对应的布线图案；和间隔变换器，其层叠于所述探针头，改变所述基板具有的所述布线图案的间隔并进行中继，具有对应于该中继后的布线并设置在与所述探针头相对向一侧的表面上的电极焊盘，所述探针的两端，在具有检查所述半导体晶片时的最低温度和最高温度的平均温度的环境下，与所述半导体晶片以及所述间隔变换器分别具有的所述电极焊盘的中央部附近接触。
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公开(公告)号：CN1875281B
公开(公告)日：2010-04-28
申请号：CN200480032566.7
申请日：2004-11-04
申请人： 日本发条株式会社
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0483 , G01R1/06772 , G01R1/07371
摘要： 一种导电性接触件保持器，其具有的结构是：包括具有导电性的保持器基板(11)，该保持器基板(11)形成有收容接地用导电性接触件(16)的第二开口部(9)；第一开口部(8)的内面、信号用导电性接触件(15)及第三开口部(10)的内面、和供电用导电性接触件(17)被电绝缘，而第二开口部(9)的内面和接地用导电性接触件(16)的外周面直接接触。因此，接地用导电性接触件(16)可以从保持器基板(11)接受接地电位的供给，可以对使用的半导体集成电路等供给稳定的接地电位。
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公开(公告)号：CN101467051A
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：CN200780021141.X
申请日：2007-06-04
申请人： 日本发条株式会社
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/06722 , G01R1/07378
摘要： 本发明提供一种能够容易且低成本地实现空间变换器刚性的提高的探针卡。为实现该目的，其具备：平板状的配线基板(11)，其具有与生成检查用的信号的电路构造对应的配线图案；插入件(13)，其层叠于配线基板(11)，并对配线基板(11)的配线进行连接；空间变换器(14)，其层叠于插入件(11)并由粘接剂(19)固接，变换由插入件(13)连接的配线的间隔，并将该配线向与插入件(13)对置的一侧的相反侧的表面露出；探针头(15)，其层叠于空间变换器(14)，并收容保持多个探针。
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