用于半导体激光器波长控制的方法和设备

    公开(公告)号:CN101558653B

    公开(公告)日:2012-02-29

    申请号:CN200780046303.5

    申请日:2007-10-11

    Abstract: 本发明的特定实施例一般地涉及半导体激光器和激光器扫描系统,尤其涉及用于控制半导体激光器的方案。根据本发明一实施例,激光器被配置用于编码数据的光发射。光发射的至少一个参数因变于注入半导体激光器的增益段的驱动电流I增益以及一个或多个附加驱动电流I/V相位、I/VDBR。半导体激光器中的模式选择通过使用扰动信号I/VPTRB扰动附加驱动电流I/V相位、I/VDBR中的至少一个以改变半导体激光器中的模式选择来改变,以使在目标发射周期上在半导体激光器中选择多个不同的发射模式。如此,激光器的波长或强度曲线中的图案化变化可被破坏以掩盖否则在激光器的输出中容易可见的图案化缺陷。

    用于评估DBR激光二极管的操作特性的方法和设备

    公开(公告)号:CN102369640A

    公开(公告)日:2012-03-07

    申请号:CN201080015787.9

    申请日:2010-03-26

    CPC classification number: H01S5/0014 H01S5/0021 H01S5/06256

    Abstract: 根据本发明的一个实施例,提供了一种评估DBR激光二极管的操作特性的方法。根据该方法,诊断电流(II)被注入该DBR激光器的波长调谐区中,以在该波长调谐区中产生光的放大自发发射(ASE)。从该波长调谐区发射的光被增益区吸收,且增益区中吸收的光所产生的光电流(ISAIN)被测量。所测得的增益区中的光电流(ISAIN)可与DBR激光二极管的操作特性的评估相联系。例如,当所测得的光电流(ISAIN)偏离给定光电流度量超过可接受的量时,所测得的光电流(ISAIN)可与达不到标准的操作特性相联系。替代地,当所测得的光电流(ISAIN)偏离给定光电流度量可接受的量时,所测得的光电流(ISAIN)可与经验证合格的操作特性相联系。公开并要求保护其它实施例。

    激光源中的功率变化的校正

    公开(公告)号:CN102197552A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN200980142618.9

    申请日:2009-10-22

    CPC classification number: H01S5/06832 H01S5/0092 H01S5/06256 H04N9/3129

    Abstract: 本发明一般涉及半导体激光器和激光器投影系统。根据本发明的一个实施例,提供一种校正半导体激光器中的输出功率变化的方法。根据该方法,利用输出功率反馈环来产生光强度反馈信号,该光强度反馈信号表征激光源针对图像信号的离散部分V1,Vi,……Vj的实际输出功率。生成误差信号E1,Ei,……Ej,这些误差信号E1,Ei,……Ej代表实际投影输出功率偏离图像信号的离散部分V1,Vi,……Vj的目标投影输出功率的程度。利用这些误差信号E1,Ei,……Ej来将经校正控制信号G1′,Gi′,……Gj′施加于半导体激光器的增益区段以投影图像信号的兼容离散部分V1′,Vi′,……Vj′。根据本发明的另一实施例,提供一种生成投影激光图像的系统。

    半导体激光器中的强制波长啁啾

    公开(公告)号:CN101711444A

    公开(公告)日:2010-05-19

    申请号:CN200880002767.0

    申请日:2008-01-18

    Inventor: M·H·胡

    CPC classification number: H01S5/06256 H01S5/06251 H04N9/3129

    Abstract: 提供控制半导体激光器的方法,其中通过以相对高的频率调制驱动电流而拓宽半导体激光器经时间平均的光谱。总地来说,驱动电流调制的频率足够高以引起在增益电流信号中编码的数据周期中的波长啁啾。还给出了根据所公布的方法操作的激光器控制器和投影系统。

    用于评估DBR激光二极管的操作特性的方法和设备

    公开(公告)号:CN102369640B

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201080015787.9

    申请日:2010-03-26

    CPC classification number: H01S5/0014 H01S5/0021 H01S5/06256

    Abstract: 根据本发明的一个实施例,提供了一种评估DBR激光二极管的操作特性的方法。根据该方法,诊断电流(II)被注入该DBR激光器的波长调谐区中,以在该波长调谐区中产生光的放大自发发射(ASE)。从该波长调谐区发射的光被增益区吸收,且增益区中吸收的光所产生的光电流(ISAIN)被测量。所测得的增益区中的光电流(ISAIN)可与DBR激光二极管的操作特性的评估相联系。例如,当所测得的光电流(ISAIN)偏离给定光电流度量超过可接受的量时,所测得的光电流(ISAIN)可与达不到标准的操作特性相联系。替代地,当所测得的光电流(ISAIN)偏离给定光电流度量可接受的量时,所测得的光电流(ISAIN)可与经验证合格的操作特性相联系。公开并要求保护其它实施例。

    用于激光投影系统的半导体激光器中的波长控制

    公开(公告)号:CN101523674B

    公开(公告)日:2011-05-11

    申请号:CN200780038362.8

    申请日:2007-10-11

    CPC classification number: H04N9/3129

    Abstract: 本发明一般地涉及半导体激光器和激光器扫描系统,尤其涉及用于控制半导体激光器中波长的方案。根据本发明一实施例,提供了一种将半导体激光器中的激光器波长变化最小化的方法。根据该方法,激光器驱动电流中的一个或多个被配置成包括驱动部分A和波长恢复部分B。驱动电流的波长恢复部分包括不同于驱动振幅ID的恢复振幅IR以及小于驱动持续时间tD的恢复持续时间tR。恢复振幅IR和持续时间tR足以恢复由恢复之前的增益压缩效应扭曲的载流子密度分布。揭示并要求保护其它实施例。

    用于激光投影系统的半导体激光器中的波长控制

    公开(公告)号:CN101523674A

    公开(公告)日:2009-09-02

    申请号:CN200780038362.8

    申请日:2007-10-11

    CPC classification number: H04N9/3129

    Abstract: 本发明一般地涉及半导体激光器和激光器扫描系统,尤其涉及用于控制半导体激光器中波长的方案。根据本发明一实施例,提供了一种将半导体激光器中的激光器波长变化最小化的方法。根据该方法,激光器驱动电流中的一个或多个被配置成包括驱动部分A和波长恢复部分B。驱动电流的波长恢复部分包括不同于驱动振幅ID的恢复振幅IR以及小于驱动持续时间tD的恢复持续时间tR。恢复振幅IR和持续时间tR足以恢复由恢复之前的增益压缩效应扭曲的载流子密度分布。揭示并要求保护其它实施例。

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