氮化硅粉末、氮化硅烧结体和电路基板、以及氮化硅粉末的制造方法

    公开(公告)号:CN106470939B

    公开(公告)日:2018-09-04

    申请号:CN201580036058.4

    申请日:2015-06-16

    摘要: 本发明的课题在于提供兼具高的导热率和高的机械强度的氮化硅烧结体和电路基板、作为其原料的氮化硅粉末及其制造方法。提供氮化硅粉末、由该氮化硅粉末得到的氮化硅烧结体和电路基板、以及该氮化硅粉末的制造方法。该氮化硅粉末的特征为:比表面积为4.0~9.0m2/g,β相的比例小于40%,氧含量为0.20~0.95质量%,通过由激光衍射散射法测定体积基准的粒度分布而得到的频率分布曲线具有2个峰,该峰的峰顶在0.4~0.7μm的范围和1.5~3.0μm的范围,上述峰顶的频率比(粒径0.4~0.7μm范围的峰顶的频率/粒径1.5~3.0μm范围的峰顶的频率)为0.5~1.5,由上述粒度分布测定得到的中位直径D50(μm)与由上述比表面积计算的比表面积当量直径DBET(μm)之比D50/DBET(μm/μm)为3.5以上。

    氮化硅粉末、氮化硅烧结体和电路基板、以及氮化硅粉末的制造方法

    公开(公告)号:CN106470939A

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201580036058.4

    申请日:2015-06-16

    摘要: 本发明的课题在于提供兼具高的导热率和高的机械强度的氮化硅烧结体和电路基板、作为其原料的氮化硅粉末及其制造方法。提供氮化硅粉末、由该氮化硅粉末得到的氮化硅烧结体和电路基板、以及该氮化硅粉末的制造方法。该氮化硅粉末的特征为:比表面积为4.0~9.0m2/g,β相的比例小于40%,氧含量为0.20~0.95质量%,通过由激光衍射散射法测定体积基准的粒度分布而得到的频率分布曲线具有2个峰,该峰的峰顶在0.4~0.7μm的范围和1.5~3.0μm的范围,上述峰顶的频率比(粒径0.4~0.7μm范围的峰顶的频率/粒径1.5~3.0μm范围的峰顶的频率)为0.5~1.5,由上述粒度分布测定得到的中位直径D50(μm)与由上述比表面积计算的比表面积当量直径DBET(μm)之比D50/DBET(μm/μm)为3.5以上。

    板状的氮化硅质烧结体及其制造方法

    公开(公告)号:CN114787105A

    公开(公告)日:2022-07-22

    申请号:CN202080085992.6

    申请日:2020-12-10

    摘要: 本发明提供得到兼具高的热导率和优异的机械特性(强度和断裂韧性)的板状的氮化硅质烧结体的方法。制备在氮化硅原料中添加有烧结助剂的起始组合物,通过片成形工艺由起始组合物制作生片,将生片在含氮气体压力为0.15MPa以上且3MPa以下的加压气氛下、在最高保持温度为1790℃以上且1910℃以下的温度范围内保持而进行烧结,由此制造碱土金属含量与稀土金属含量的比率及氧含量高度受控的板状的氮化硅质烧结体,其中,所述氮化硅原料中配混有β百分率为0%以上且10%以下并且具有特定的氧含量、比表面积及平均粒径的第一氮化硅粉末和β百分率为60%以上且100%以下并且具有特定的氧含量、比表面积、平均粒径及长径比的第二氮化硅粉末。还提供原料粉末配混物及氮化硅质烧结体。