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公开(公告)号：CN118192499A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410317940.7
申请日：2024-03-20
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种控制模块的测试装置与控制系统，其中，所述控制模块的测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块以及信号采集模块；继电器模块包括FPGA与至少两个继电器；信号激励模块的输出端与继电器的输入端电连接，继电器的输出端与控制模块电连接；FPGA用于响应于第一控制信号控制继电器的通断；信号激励模块用于响应于第二控制信号产生测试信号；信号采集模块用于采集控制模块响应于测试信号后产生的反馈信号。本发明通过在测试装置中设置包括FPGA的继电器模块，通过FPGA来控制继电器的通断，具有较大的灵活性和通用性，并且，也能够很好的满足控制模块对于时序的要求，降低人工成本，提升测试的效率与准确性。
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公开(公告)号：CN117392929A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311399523.3
申请日：2023-10-25
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
Abstract: 本公开提供了一种画面仿真测试方法、装置及电子设备。该方法包括：获取预设仿真测试数据；基于预设仿真测试数据生成测试数据包；向待测显示装置发送测试数据包，以对待测显示装置进行测试。本公开通过对多条待测控件的预设仿真测试数据实现自动组包和发送，以对待测显示装置的画面显示功能进行测试，可以解决现有技术中测试工作量大、测试效率低、测试成本高以及测试误差大的缺陷。并且，还可以根据自定义的预设数据表，应用于各种工业的冒烟测试、控件功能测试及软硬件集成测试，覆盖画面测试全周期与范围。
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公开(公告)号：CN115575795A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211160320.4
申请日：2022-09-22
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种电路板卡的老化测试装置及方法。该老化测试装置包括控制器、分别与所述控制器通信连接的老化处理模块、参数监控模块和散热模块，老化处理模块与电路板卡电连接；老化处理模块用于根据控制器配置的设定功率参数提供电路板卡信号激励；参数监控模块用于获取电路板卡的实际工作参数，实际工作参数包括电路板卡的实际工作温度并发送至控制器；控制器用于在实际工作温度超出设定温度范围时，控制老化处理模块和/或散热模块的工作状态，直至将电路板卡的实际工作温度调节至设定温度范围内。本发明为板卡提供信号激励和测试环境，实现电路板卡的带电老化试验，并通过得到多样化的参数数据，实现对电路板卡老化的精准测试。
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公开(公告)号：CN115752544A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211457915.6
申请日：2022-11-21
Applicant: 山东核电有限公司 , 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明实施例公开了一种信号通道校准方法及装置。该方法包括：获取待校准卡件的信号通道编号，根据信号通道编号确定目标信号通道；确定目标信号通道对应的信号源类型和信号值，根据信号源类型和信号值确定校准信号；根据校准信号对目标信号通道进行校准。本实施例通过待校准卡件的信号通道编号确定目标信号通道，使得标准信号源快速完成多通道的待校准卡件的校准工作，同时可以根据校准信号对目标信号通道进行校准，提高了校准工作的效率，同时提高了目标信号通道的校准效率。
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公开(公告)号：CN117707107A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311729577.1
申请日：2023-12-14
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种响应时间的测试系统、方法。测试方法包括：获取被测对象的测试数据；测试数据表征被测对象对控制器发送的控制指令作出响应的数据，且测试数据携带时间信息；根据时间信息判断各控制器之间的时间同步误差是否小于误差阈值；在时间同步误差小于误差阈值的情况下，根据时间信息确定被测对象针对控制指令的响应时间。本发明在计算被测对象的响应时间之间，先判断上位机与各控制器之间是否时间同步，在确定上位机与各控制器之间时间同步的情况下，计算被测对象对控制指令的响应时间可以避免或者尽量避免上位机、各控制器的系统时间不同步引入的计算误差，从而提高响应时间测试的精确度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115685967A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211350545.6
申请日：2022-10-31
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本公开提供一种仪控系统的响应时间测试装置，包括：控制器、信号发生器、串口通信模块、输出信号接口；控制器分别与信号发生器和串口通信模块连接；信号发生器还与输出信号接口连接；串口通信模块与仪控系统的通信节点相连接；向仪控系统发送输出信号时触发时间集合点启动，时间集合点作为第一时间点；串口通信模块监测被测仪控系统响应的通信信号，并且为收到的通信信号的每一个帧和/或包打时间戳作为第二时间点；控制器根据第一时间点和第二时间点确定仪控系统的通信节点对输出信号的响应时间。本公开的仪控系统的响应时间测试装置实现了对于工况中通讯传输过程的信号变化响应时间的直接测试。有效地对仪控系统的响应时间进行全面测试。
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公开(公告)号：CN118232994A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410318912.7
申请日：2024-03-20
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: H04B10/073 , G01R31/00 , G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种光电转换器的测试装置与光电转换系统，其中，该光电转换器的测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块、信号采集模块以及光电转换单元；所述光电转换单元由FPGA构成；继电器模块用于响应于第一控制信号控制继电器的通断；信号激励模块用于响应于第二控制信号产生测试电信号；继电器模块用于将测试电信号输入光电转换器；信号采集模块用于采集光电转换器响应于测试电信号产生的反馈光信号；光电转换单元用于将反馈光信号转换为目标电信号。本发明通过在测试装置中设置由FPGA构成的光电转换单元，使得测试装置可用于测试多种不同规格的光电转换器，从而在测试量巨大时，自动对光电转换器进行测试，提升测试效率与准确性。
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公开(公告)号：CN117033104A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311055192.1
申请日：2023-08-21
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
Abstract: 本发明公开了一种IO模块性能的测试装置、检测系统和测试方法，该测试装置包括：工控机、信号收发设备和图像采集设备；工控机，用于运行预先编译的测试用例，控制向信号收发设备发送测试指令；信号收发设备，用于根据测试指令向IO模块输出模拟量信号后，采集对应于模拟量信号的反馈信号，并将反馈信号发送至所述工控机；图像采集设备，用于采集目标DCS系统中的显控设备对应于模拟量信号输出的视频信号，并将视频信号发送至工控机。本发明利用IO模块性能的测试装置对IO模块进行自动检测，解决了传统手动输入测试数据，操作步骤繁琐的缺陷，有效的降低操作员的人因失误，提升测试效率和测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN115622619A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211226802.5
申请日：2022-10-09
Applicant: 国核自仪系统工程有限公司
IPC: H04B10/077
Abstract: 本发明公开了一种光电转换器的测试装置，该测试装置包括：上位机，用于获取待测光电转换器的类型信息，基于类型信息配置通信数据模块的测试参数，并生成目标测试指令；通信数据模块，用于接收上位机发送的目标测试指令，并基于目标测试指令向待测光电转换器发送目标测试信号，接收光电转换器对目标测试信号进行光电转换处理后发送的目标反馈信号；并对目标反馈信号进行分析处理以得到测试结果。本发明通过包含FPGA单元的通信数据模块，实现高速率的数据发送、数据分析等功能，同时还采用光功率计、光衰减器等光测试设备，实现对不同类型的光电转换器的自动测试，可以降低测试错误率，提高光电转换器的测试效率和稳定性。
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公开(公告)号：CN112630567A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011465166.2
申请日：2020-12-14
Applicant: 山东核电有限公司 , 国核自仪系统工程有限公司
Inventor： 高奇峰 , 黄焜 , 王翔宇 , 李建伟 , 赵瑜龙 , 刘辰星 , 刘哲明 , 聂森 , 范昌 , 黄德祎 , 蒋鹏 , 霍学华 , 阚睿 , 朱立志 , 杨颖 , 宋宜毅 , 刘彪 , 陈斌 , 李灵燚 , 王又文 , 陈星宇
IPC: G01R31/00 , G05B19/042 , G21D3/00
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA技术的自动响应时间测试方案，主要针对核电站反应堆保护系统的响应时间测试，包括模拟保护系统的I/O输入，接收保护系统的I/O输出，计算从I/O输入变化到I/O输出变化的响应时间。本专利采用高度集成的信号输入输出模块和计时模块，做到了适用于现场狭小环境的使用要求。本专利的计时模块基于FPGA技术，利用FPGA卡的高频时钟源作为计时基准，因此其响应时间精度可达到微秒级，同时FPGA卡有通道密度大的特点，能够大大提高系统的集成度以及测试的效率。
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