公开(公告)号：CN115962923A

公开(公告)日：2023-04-14

申请号：CN202310102786.7

申请日：2023-02-09

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 徐沧 ,  束轶伦 ,  谢子晗 ,  韩寅驰 ,  唐国永 ,  李灵燚 ,  杨颖

IPC: G01M11/02 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种显示装置的测试装置和测试系统，测试装置包括上位机、光电测试模块和测量仪器；光电测试模块包括光信号发生器和电信号发生器；上位机向光信号发生器发送光测试指令，以及向电信号发生器发送电测试指令；光信号发生器根据光测试指令生成光激励信号并发送至显示装置；电信号发生器根据电测试指令生成电激励信号并发送至显示装置；显示装置响应于光激励信号，产生第一光响应信号，以及响应于电激励信号，产生第一电响应信号；测量仪器对第一光响应信号和第一电响应信号进行测量，并将测量结果发送至上位机。本发明通过对显示装置采用自动化测试代替人工测试，有效缩短测试时间，提高测试效率，降低人因失误率和设备故障率。

公开(公告)号：CN115576304A

公开(公告)日：2023-01-06

申请号：CN202211231297.3

申请日：2022-10-09

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 徐沧 ,  唐国永 ,  韩寅驰 ,  谢子晗 ,  张福举 ,  束轶伦 ,  李灵燚 ,  杨颖

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种优先级控制模块的测试装置，包括：上位机，用于根据预设测试参数生成目标测试指令；信号发生模块，用于接收目标测试指令，并基于目标测试指令给待测模块提供目标测试信号；测量模块，用于接收目标测试指令，并基于目标测试指令测量待测模块的各个目标测试参数；继电器模块，用于接收目标测试指令，并基于目标测试指令生成目标连接方式，目标连接方式对应信号发生模块、测量模块以及接口模块之间的连接关系，以实现对待测模块的测试。本发明通过采用FPGA芯片等继电器模块，实现信号激励复用、信号反馈复用；并根据上位机的预设测试参数，对待测的优先级控制模块进行自动测试，可以提高优先级控制模块测试的准确性和效率。

公开(公告)号：CN113835938A

公开(公告)日：2021-12-24

申请号：CN202111013756.6

申请日：2021-08-31

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 蒋磊 ,  杨颖 ,  黄焜 ,  阚睿 ,  朱立志 ,  陈星宇 ,  李灵燚 ,  宋宜毅

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明公开了一种PMS测试装置及其测试方法、电子设备及介质，其中，PMS测试装置的测试方法包括根据预设的测试规程控制PXI机箱仿真现场传感器的输入信号，得到相应的测试信号，并将测试信号注入待测PMS，同时控制计时设备开始计时；接收待测PMS根据测试信号输出的反馈信号，并控制计时设备停止计时；根据计时设备的计时时长确定待测PMS的响应时间，从而提高了测试执行效率，实现了对待测PMS的响应时间自动化测试，减小了人力成本。

公开(公告)号：CN118192499A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410317940.7

申请日：2024-03-20

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 徐沧 ,  谢子晗 ,  唐国永 ,  韩寅驰 ,  束轶伦 ,  李灵燚 ,  杨颖

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种控制模块的测试装置与控制系统，其中，所述控制模块的测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块以及信号采集模块；继电器模块包括FPGA与至少两个继电器；信号激励模块的输出端与继电器的输入端电连接，继电器的输出端与控制模块电连接；FPGA用于响应于第一控制信号控制继电器的通断；信号激励模块用于响应于第二控制信号产生测试信号；信号采集模块用于采集控制模块响应于测试信号后产生的反馈信号。本发明通过在测试装置中设置包括FPGA的继电器模块，通过FPGA来控制继电器的通断，具有较大的灵活性和通用性，并且，也能够很好的满足控制模块对于时序的要求，降低人工成本，提升测试的效率与准确性。

公开(公告)号：CN115575795A

公开(公告)日：2023-01-06

申请号：CN202211160320.4

申请日：2022-09-22

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 蒋磊 ,  冯雪 ,  何进松 ,  徐沧 ,  杨颖 ,  苏亚南 ,  李灵燚

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种电路板卡的老化测试装置及方法。该老化测试装置包括控制器、分别与所述控制器通信连接的老化处理模块、参数监控模块和散热模块，老化处理模块与电路板卡电连接；老化处理模块用于根据控制器配置的设定功率参数提供电路板卡信号激励；参数监控模块用于获取电路板卡的实际工作参数，实际工作参数包括电路板卡的实际工作温度并发送至控制器；控制器用于在实际工作温度超出设定温度范围时，控制老化处理模块和/或散热模块的工作状态，直至将电路板卡的实际工作温度调节至设定温度范围内。本发明为板卡提供信号激励和测试环境，实现电路板卡的带电老化试验，并通过得到多样化的参数数据，实现对电路板卡老化的精准测试。

公开(公告)号：CN114265770A

公开(公告)日：2022-04-01

申请号：CN202111521295.3

申请日：2021-12-13

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 蒋磊 ,  阚睿 ,  杨静远 ,  黄焜 ,  苏亚南 ,  李灵燚 ,  陈星宇 ,  何进松 ,  刘仰涛

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供一种界面操作的控制方法、系统、设备及存储介质，所述控制方法包括：获取测试操作步骤，所述测试操作步骤对应在目标测试设备的第一显示界面的相应测试位置处执行的操作内容；构建所述测试操作步骤对应的模拟操作数据；所述模拟操作数据的模拟操作与所述操作内容相对应；根据所述模拟操作数据控制在所述目标测试设备的所述第一显示界面中执行测试操作。本发明通过构建测试操作步骤对应的模拟操作数据，能够将键盘鼠标操作自动映射至被测设备的显示界面以进行测试操作，从而实现非侵入式测试，无需依赖目标测试设备的操作系统以及界面程序的源码，简化了测试流程且避免了引入人为失误，提高了安全级画面软件定期试验质量和测试效率。

公开(公告)号：CN117707107A

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202311729577.1

申请日：2023-12-14

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 李灵燚 ,  蒋磊 ,  徐沧 ,  苏亚南 ,  杨颖

IPC: G05B23/02

Abstract: 本发明公开了一种响应时间的测试系统、方法。测试方法包括：获取被测对象的测试数据；测试数据表征被测对象对控制器发送的控制指令作出响应的数据，且测试数据携带时间信息；根据时间信息判断各控制器之间的时间同步误差是否小于误差阈值；在时间同步误差小于误差阈值的情况下，根据时间信息确定被测对象针对控制指令的响应时间。本发明在计算被测对象的响应时间之间，先判断上位机与各控制器之间是否时间同步，在确定上位机与各控制器之间时间同步的情况下，计算被测对象对控制指令的响应时间可以避免或者尽量避免上位机、各控制器的系统时间不同步引入的计算误差，从而提高响应时间测试的精确度。

公开(公告)号：CN115685967A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211350545.6

申请日：2022-10-31

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 韩寅驰 ,  苏亚南 ,  蒋磊 ,  徐沧 ,  唐国永 ,  杨颖 ,  李灵燚 ,  束轶伦 ,  谢子晗 ,  张福举

IPC: G05B23/02

Abstract: 本公开提供一种仪控系统的响应时间测试装置，包括：控制器、信号发生器、串口通信模块、输出信号接口；控制器分别与信号发生器和串口通信模块连接；信号发生器还与输出信号接口连接；串口通信模块与仪控系统的通信节点相连接；向仪控系统发送输出信号时触发时间集合点启动，时间集合点作为第一时间点；串口通信模块监测被测仪控系统响应的通信信号，并且为收到的通信信号的每一个帧和/或包打时间戳作为第二时间点；控制器根据第一时间点和第二时间点确定仪控系统的通信节点对输出信号的响应时间。本公开的仪控系统的响应时间测试装置实现了对于工况中通讯传输过程的信号变化响应时间的直接测试。有效地对仪控系统的响应时间进行全面测试。

公开(公告)号：CN118232994A

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202410318912.7

申请日：2024-03-20

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 徐沧 ,  李灵燚 ,  唐国永 ,  韩寅驰 ,  束轶伦 ,  谢子晗 ,  杨颖

IPC: H04B10/073 ,  G01R31/00 ,  G01M11/00

Abstract: 本发明公开了一种光电转换器的测试装置与光电转换系统，其中，该光电转换器的测试装置包括上位机、继电器模块、信号激励模块、信号采集模块以及光电转换单元；所述光电转换单元由FPGA构成；继电器模块用于响应于第一控制信号控制继电器的通断；信号激励模块用于响应于第二控制信号产生测试电信号；继电器模块用于将测试电信号输入光电转换器；信号采集模块用于采集光电转换器响应于测试电信号产生的反馈光信号；光电转换单元用于将反馈光信号转换为目标电信号。本发明通过在测试装置中设置由FPGA构成的光电转换单元，使得测试装置可用于测试多种不同规格的光电转换器，从而在测试量巨大时，自动对光电转换器进行测试，提升测试效率与准确性。

公开(公告)号：CN117033104A

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN202311055192.1

申请日：2023-08-21

Applicant: 国核自仪系统工程有限公司

Inventor： 蒋磊 ,  王佳承 ,  何进松 ,  徐沧 ,  李灵燚 ,  杨颖 ,  苏亚南 ,  谢子晗

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/263

Abstract: 本发明公开了一种IO模块性能的测试装置、检测系统和测试方法，该测试装置包括：工控机、信号收发设备和图像采集设备；工控机，用于运行预先编译的测试用例，控制向信号收发设备发送测试指令；信号收发设备，用于根据测试指令向IO模块输出模拟量信号后，采集对应于模拟量信号的反馈信号，并将反馈信号发送至所述工控机；图像采集设备，用于采集目标DCS系统中的显控设备对应于模拟量信号输出的视频信号，并将视频信号发送至工控机。本发明利用IO模块性能的测试装置对IO模块进行自动检测，解决了传统手动输入测试数据，操作步骤繁琐的缺陷，有效的降低操作员的人因失误，提升测试效率和测试结果的准确性。