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公开(公告)号:CN106486496A
公开(公告)日:2017-03-08
申请号:CN201610769963.7
申请日:2016-08-30
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/12 , H01L21/762 , H01L21/84
CPC classification number: H01L27/11573 , H01L21/84 , H01L27/11575 , H01L27/1203 , H01L29/0649 , H01L29/4234 , H01L29/66833 , H01L29/792 , H01L27/1207 , H01L21/7624
Abstract: 本公开涉及一种半导体衬底,其包括第一硅层,第一硅层包括上表面,该上表面具有相对于上表面垂直延伸的突起部。隔离层被布置在上表面上方且在界面处与第一硅层交集,并且第二硅层布置在隔离层上方。还提供了一种制造半导体衬底的方法。本发明还提供了一种集成电路以及形成绝缘体上硅(SOI)衬底的方法。