半导体器件及其形成方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115911010A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211272395.1

    申请日:2022-10-18

    Abstract: 方法包括形成第一半导体器件的第一晶体管。第一半导体器件包括第一沟道区域以及位于第一沟道区域上的栅电极。第二半导体器件通过设置在第一半导体器件和第二半导体器件之间的接合层而接合至第一半导体器件。形成第二半导体器件的第二晶体管,第二半导体器件包括第二沟道区域以及位于第二沟道区域上的第二栅电极。接合层设置在第一晶体管的第一栅电极和第二晶体管的第二栅电极之间。本申请的实施例还涉及半导体器件及其形成方法。

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