制造集成电路的方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107887381A

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201710724345.5

    申请日:2017-08-22

    Abstract: 本公开提供一种制造集成电路的方法,包括接收具有在两个第二区域之间的第一区域的集成电路布局,布局包括具有第一部件的第一层与在第一区域中具有第二、第三部件的第二、第三层,第二、第三部件共同形成第一部件的切割图案;以及通过掩模设计工具修改第二、第三部件,产生已修改第二、第三部件,其共同形成用于第一部件的已修改切割图案,第二、第三部件的修改满足至少一个条件:相邻的已修改第二(第三)部件之间的总间距大于相邻的第二(第三)部件之间的总间距,以及已修改第二(第三)部件的总长度小于第二(第三)部件的总长度。

Patent Agency Ranking