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公开(公告)号:CN107230683A
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201710167090.7
申请日:2017-03-20
Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14683 , H01L27/1463 , H01L27/1464 , H05K999/99 , H01L27/14605 , H01L27/14603
Abstract: 本发明的实施例提供了深沟槽隔离(DTI)结构及其形成方法。方法包括在衬底中形成多个感光区。凹槽形成在衬底中,衬底包括第一半导体材料,凹槽插入在相邻的感光区之间。通过沿着凹槽的侧壁去除衬底的被损坏的层以扩大凹槽,从而形成扩大的凹槽。在扩大的凹槽的侧壁和底部上形成外延区,外延区的至少一部分包括第二半导体材料,第二半导体材料与第一半导体材料不同。在外延区上形成介电区,外延区沿介电区的侧壁延伸。本发明的实施例还提供了一种半导体结构及其形成方法。