极紫外光容器检查方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109324062B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN201810709621.5

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 本公开提供用于直接检查极紫外光容器的整个内部的单次拍摄测量。可提供包括与极紫外光容器整合的检查工具的一极紫外光容器。在检查过程中,检查工具移入极紫外光容器的主要聚焦区域。当检查工具是设置在主要聚焦区域,并且当通过一照明器向极紫外光容器的内部提供一实质地均匀且恒定的照明度时,极紫外光容器的内部的一全景影像可以通过检查工具的一单次拍摄来获取。之后,极紫外光容器中的多个元件上的锡污染程度可以基于极紫外光容器的内部的全景影像来量化。所量化的污染程度可以与一关键绩效指标做比较,并且可以实行一失控行动计划。

    光刻曝光工艺的方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109814341A

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201811381911.8

    申请日:2018-11-20

    Abstract: 一种光刻曝光工艺的方法。此方法包括以激光光束激化目标液滴,以产生极紫外线(EUV)光。此方法还包括以聚光器反射极紫外线光。此方法亦包括经由安置在聚光器旁的气体分配器排放清洁气体至聚光器上。在清洁气体离开气体分配器之前,一部分的清洁气体被转化为自由基,且自由基与清洁气体一起被排放至聚光器上。

    光刻曝光工艺的方法
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109814341B

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN201811381911.8

    申请日:2018-11-20

    Abstract: 一种光刻曝光工艺的方法。此方法包括以激光光束激化目标液滴,以产生极紫外线(EUV)光。此方法还包括以聚光器反射极紫外线光。此方法亦包括经由安置在聚光器旁的气体分配器排放清洁气体至聚光器上。在清洁气体离开气体分配器之前,一部分的清洁气体被转化为自由基,且自由基与清洁气体一起被排放至聚光器上。

    极紫外光容器检查方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109324062A

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201810709621.5

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 本公开提供用于直接检查极紫外光容器的整个内部的单次拍摄测量。可提供包括与极紫外光容器整合的检查工具的一极紫外光容器。在检查过程中,检查工具移入极紫外光容器的主要聚焦区域。当检查工具是设置在主要聚焦区域,并且当通过一照明器向极紫外光容器的内部提供一实质地均匀且恒定的照明度时,极紫外光容器的内部的一全景影像可以通过检查工具的一单次拍摄来获取。之后,极紫外光容器中的多个元件上的锡污染程度可以基于极紫外光容器的内部的全景影像来量化。所量化的污染程度可以与一关键绩效指标做比较,并且可以实行一失控行动计划。

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