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公开(公告)号:CN116472499A
公开(公告)日:2023-07-21
申请号:CN202180078715.7
申请日:2021-11-17
申请人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
IPC分类号: G03F7/20
摘要: 本发明涉及一种用于光刻设备(100A、100B)的场分面系统(300A、300B、300C、300D、300E、300F、300G、300H),所述系统包括:光学元件(302),该光学元件(302)包括基体(204)和可弹性变形的分面部分(306),该分面部分连接到基体(204)并具有光反射的光学有效表面(308);以及多个致动元件(332、334、336、338),用于使分面部分(306)变形,以便改变光学有效表面(308)的曲率半径(K1、K2),致动元件(332、334、336、338)可操作地连接到分面部分(306),以便将致动元件(332、334、336、338)的热致偏转与分面部分(306)隔离,从而使曲率半径(K1、K2)不受致动元件(332、334、336、338)的所述热致偏转影响。
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公开(公告)号:CN118946850A
公开(公告)日:2024-11-12
申请号:CN202380030164.6
申请日:2023-03-22
申请人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
摘要: 本发明涉及一种光学设备(1),特别是用于光刻系统(100、200),包括:具有至少一个光学表面(3)的至少一个光学元件(2);具有用于倾斜光学元件(2)的光学表面(3)的一个或多个致动器(4);以及具有用于感测光学表面(3)从静止位置的倾斜的测量装置(5)。根据本发明,测量装置(5)包括形成闭合测量部分(7)的至少一个波导(6),其中波导(6)被设计为输入耦合并传播测量光束(8)的一种或多种模式,并且其中波导(6)被布置为使得光学表面(3)的倾斜影响传播通过波导(6)的测量光束(8),其中测量装置(5)被设计为感测由光学表面(3)的倾斜引起的对测量光束(8)的影响。
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公开(公告)号:CN118103739A
公开(公告)日:2024-05-28
申请号:CN202280068756.2
申请日:2022-10-06
申请人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
摘要: 本发明揭露一种含有多反射镜单元(MU)的EUV多反射镜布置(MMA),这些反射镜单元以取网格布置而逐一布置在载体结构(TS)上,其中每个反射镜单元具有底座组件(BE)及单独可倾斜的反射镜元件(ME),该反射镜元件与该底座组件(BE)相对并且具有反射镜基板(SUB),该反射镜基板在背对该底座组件的正面上带有反射涂层(REF),用于形成反射EUV辐射的反射镜面(MS)。在每个反射镜单元(MU)中,在该底座组件(BE)与该反射镜元件(ME)之间布置:悬架系统(SUS)的多个组件,其用于将该反射镜元件(ME)可移动式安装在该底座组件(BE)上;致动器系统(AKS)的多个致动器,其用于使该反射镜元件(ME)相对于该底座组件(BE)运动,作为对接收控制信号的反应;及传感器系统(SENS)的多个传感器,其用于捕获这些反射镜元件(ME)的位置。该致动器系统(AKS)具有多个压电致动器(AKT)。该传感器系统(SENS)具有多个电容式传感器(KPS)。
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