一种V93000平台下的ADC参数测试方法

    公开(公告)号:CN117749178A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311649320.5

    申请日:2023-12-01

    Abstract: 本发明公开了一种V93000平台下的ADC参数测试方法。该V93000平台下的ADC参数测试方法包括:在V93000平台上对待测ADC芯片进行测试,并采集第一种数据和第二种数据;其中,第一种数据为满足输入信号具有谐波失真,并对输入信号进行非相干采样;第二种数据为满足输入信号幅度范围超出ADC的满量程范围,并对输入信号进行非相干采样;对第一种数据进行基波谐波二次估计;对第二种数据进行削波识别与替换。由此可知,通过基波谐波二次估计法可以极大改善由非相干采样引起的频谱泄漏现象,同时通过基波谐波二次估计法可以极大改善由非相干采样引起的频谱泄漏和去除由超量程输入引起的大量杂散失真,提高测试准确性。

    一种看门狗芯片的板上测试方法、装置及测试系统

    公开(公告)号:CN117270499A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202311267951.0

    申请日:2023-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种看门狗芯片的板上测试方法、装置及测试系统。该方法包括:响应于上电启动信号,触发板内应用程序正常生成喂狗信号,并通过第一端口向测试模块发送第一波形信号,以标识看门狗芯片处于正常清零状态;在通过第二端口接收到测试模块发送的测试启动信号时,触发应用程序停止发送喂狗信号,并同步通过第一端口向测试模块发送第二波形信号;在被测单板经看门狗芯片成功复位后,重新通过第一端口向测试模块发送第一波形信号。本发明实施例的技术方案利用测试装置触发被测单板上的程序指令,从而模拟真实环境下由于不可控因素导致的程序异常等情况,实现了自动化测试,能更好地保障系统程序以及高效完成程序失控后的自动恢复工作。

    实时时钟补偿电路及其补偿控制方法、万年历

    公开(公告)号:CN117193474A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311342345.0

    申请日:2023-10-16

    Abstract: 本发明公开了一种实时时钟补偿电路及其补偿控制方法、万年历,涉及电力芯片技术领域。本发明实施例提供的实时时钟补偿电路包括温度检测模块、补偿控制模块和秒脉冲生成模块,温度检测模块与补偿控制模块连接,补偿控制模块与秒脉冲生成模块连接,补偿控制模块根据实时获取的晶振的环境温度与预设补偿曲线确定出当前时刻下的温度所对应的目标补偿信息,并根据目标补偿信息控制秒脉冲生成模块输出根据温度调整后的秒脉冲,进而实现对温度的补偿,保证实时时钟可以在宽温环境下运行,提高实时时钟输出的秒脉冲的精度。

    应用于芯片的功耗调节方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115657835A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211419927.X

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种应用于芯片的功耗调节方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取芯片中各运行节点同步产生的待处理运行数据;基于当前运行节点的待处理运行数据,确定当前运行节点所对应的待使用运行数据,并基于待使用运行数据确定功耗信息;基于各运行节点的功耗信息和相应的预设功耗阈值,确定异常运行节点;基于各异常运行节点的功耗信息和相应的调配任务属性,确定目标调节数据,以使在基于目标调节数据调整各异常运行节点的工作频率时调节芯片的功耗。解决了现有技术中通过调节工作频率调节芯片功耗,导致存在降低芯片功耗效果差的问题,实现提高功耗计算准确性,提高工作频率调节的准确性,达到提高降低芯片功耗效果的效果。

    基于低延迟互联网通信系统的芯片

    公开(公告)号:CN116662249A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310559048.5

    申请日:2023-05-17

    Abstract: 本申请涉及一种基于低延迟互联网通信系统的芯片。芯片包括采用低延迟互联网通信系统的若干节点;节点包括GMAC单元,以及均连接GMAC单元的处理器单元、MC单元和NIC单元;其中,GMAC单元被配置为响应于接收到来自本地节点或外部节点的处理器单元的访问请求,将访问请求传输给MC单元或NIC单元;节点还包括全局同步单元,全局同步单元分别连接处理器单元和NIC单元;全局同步单元被配置为响应于接收到同步请求,将同步请求传输给相应的处理器单元,本地节点或外部节点的处理器单元基于接收到的同步请求调整计算进程,以与各节点执行同步操作。本申请通过为芯片中的各个节点配置全局同步单元,保证各节点之间的计算进程同步,提升并行计算的正确性和稳定性。

    ADC芯片的校准方法和可靠性验证方法

    公开(公告)号:CN117411482A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202311487966.8

    申请日:2023-11-08

    Abstract: 本发明公开了一种ADC芯片的校准方法和可靠性验证方法,属于模数转换器技术领域。ADC芯片的校准方法包括:基于预设模拟输入信号与实际模拟输入信号之间的误差,对所述ADC芯片的校准函数中的校准参数进行迭代调整,直至满足迭代停止条件,得到目标校准函数;其中,所述校准函数用于对所述ADC芯片的输出信号进行校准;获取所述ADC芯片根据用于校验的模拟输入信号转换得到的输出信号,基于所述目标校准函数校准所述输出信号得到目标校准信号;若所述目标校准信号与所述用于校验的模拟输入信号对应的标准输出信号之间的误差在第一预设范围内,确认所述ADC芯片完成校准。本发明实施例可以提高ADC芯片的信号转换精度。

    芯片评估方法、装置、计算机设备、介质和计算机产品

    公开(公告)号:CN117371389A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311312167.7

    申请日:2023-10-10

    Abstract: 本申请涉及一种芯片评估方法、装置、计算机设备、介质和计算机产品。所述方法包括:获取芯片内部各金属导线在电迁移失效情况下的历史电流密度数据和历史电场强度数据;确定历史电流密度数据和历史电场强度数据的对数线性关系,根据对数线性关系得到目标电迁移失效模型;获取实时电场强度数据,输入实时电场强度数据到目标电迁移失效模型,得到实时电流密度数据,对实时电流密度数据与预设阈值进行比较,得到与电迁移失效风险关联的判断结果,根据判断结果对芯片的可靠性进行评估。采用本方法计算简单,评估效率快,还对芯片内部金属导线电迁移失效风险进行监控,提高了芯片的可靠性和安全性。

    用于配电模组的功能测试系统和方法

    公开(公告)号:CN117148018A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202311405341.2

    申请日:2023-10-27

    Abstract: 本申请涉及一种用于配电模组的功能测试系统和方法,其中,该系统包括功能底板、连接器、待测模组和上位机;测试接口模块,用于接收待测模组发出的测试报文;主控单元,用于根据测试报文生成对应的响应报文,并将响应报文返回至对应的待测模组;待测模组,用于根据待测模组的测试需求,向对应的测试接口模块发送测试报文,并根据接收到的响应报文,对待测模组的功能进行验证;分析定位模块,用于在验证结果为待测模组的功能异常时,调用分析定位服务接口对验证结果进行分析,并根据分析结果确定待测模组中的问题元件。通过本申请,解决了配电模组功能测试不通过时,无法快速定位配电模组的问题元件的问题,实现了提高问题定位分析效率。

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