一种纯位相反射型液晶空间光调制器相位标定系统及方法

    公开(公告)号:CN116698361A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202210181046.2

    申请日:2022-02-25

    Abstract: 本发明公开了一种利用纯位相反射型液晶空间光调制器产生稳定干涉条纹的系统及方法,系统包括:光源模块、激光准直滤波扩束模块、纯位相反射型液晶空间光调制器(SLM)控制模块和CCD图像采集模块。系统通过在SLM上加载灰度渐变的相息图,能够产生稳定的双孔光斑,替代了传统物理光学干涉实验中用光刻掩膜版产生双孔光斑的方式,不需借助另外的器件便能达到最终结果,简单便于操作。此外,与泰曼—格林、马赫—增德尔等传统干涉系统相比,输出的干涉条纹不会抖动,不影响后期条纹移动量的计算,具有运行稳定、控制灵活、计算准确的特点。

    一种适用于平板冲击的试验方法

    公开(公告)号:CN112697616A

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN202011496555.1

    申请日:2020-12-17

    Abstract: 本发明公开了一种适用于平板冲击的试验方法,利用高压气枪发射高强度子弹在水平方向上冲击试验试件,在这一过程中通过试件上的应变片和激光位移传感器采集试件的应变数据和试件中心位置变形数据。冲击过程结束后,将冲击试件取下在试件位置两侧布置铝箔纸试件,采用相同压力将子弹在次从高压气枪发射,对子弹穿透两侧铝箔纸的时刻进行记录,通过子弹穿过两铝箔纸的时间差可算得冲击速度,进一步通过动能方程可求得冲击能量。本发明解决了传统落锤冲击的回弹和底部空间限制的问题,此试验方法成本较低,可实施性强且试验结果较为准确。

    一种适用于平板冲击的试验方法

    公开(公告)号:CN112697616B

    公开(公告)日:2022-07-05

    申请号:CN202011496555.1

    申请日:2020-12-17

    Abstract: 本发明公开了一种适用于平板冲击的试验方法,利用高压气枪发射高强度子弹在水平方向上冲击试验试件,在这一过程中通过试件上的应变片和激光位移传感器采集试件的应变数据和试件中心位置变形数据。冲击过程结束后,将冲击试件取下在试件位置两侧布置铝箔纸试件,采用相同压力将子弹在次从高压气枪发射,对子弹穿透两侧铝箔纸的时刻进行记录,通过子弹穿过两铝箔纸的时间差可算得冲击速度,进一步通过动能方程可求得冲击能量。本发明解决了传统落锤冲击的回弹和底部空间限制的问题,此试验方法成本较低,可实施性强且试验结果较为准确。

    一种轴向旋转装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109813586B

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN201910145691.7

    申请日:2019-02-27

    Abstract: 本发明涉及聚焦离子束双束仪器样品制备领域,具体涉及一种轴向旋转装置。装置包括:转移针尖:用于转移样品;转移针尖夹持台:用于夹持转移针尖,转移针尖在转移针尖夹持台中可轴向旋转设置;旋转主轴:前端设置呈倒“T”型槽,转移针尖固定在所述槽中;旋转手柄:与旋转主轴连接,带动旋转主轴转动,从而带动转移针尖转动。本发明装置通过将针尖固定于旋转主轴上并旋转旋转手柄来旋转针尖,由角度控制台精确控制旋转角度,且角度控制台与旋转主轴通过螺纹连接,保证了转转的稳定,整个装置满足了在聚焦离子束双束仪器制备样品过程中任意方向制样的现实需求,增大聚焦离子束双束仪器制样技术的灵活度,突破了现阶段的标准取样方法。

    基于特征提取的可见光与红外图像融合方法

    公开(公告)号:CN114612359A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210231396.5

    申请日:2022-03-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于特征提取的可见光与红外图像融合方法,首先,对红外图像采用混合滤波算法进行预处理;其次,扩展图像的灰度直方图,使其充满整个灰度范围,凸显红外目标并弱化背景影响;接着,分别对不同光谱图像做高斯图像金字塔处理,再通过拉普拉斯金字塔分别得到不同尺度下图像的显著性区域;然后,对红外感兴趣区域计算,通过优势信息比较策略,对不同光谱的显著性区域进行比较,得到各个尺度下的红外图像感兴趣区域;最后,把不同尺度下的红外感兴趣区域融合入可见光图像中,得到不同光谱的融合结果。本发明的多光谱图像融合方法,细节信息保留完整、鲁棒性强,解决了单一可见光传感器光谱探测范围有限的问题。

    基于MATLAB的FIB制备三维原子探针样品过程的模拟方法

    公开(公告)号:CN109900929B

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN201910205111.9

    申请日:2019-03-18

    Abstract: 本发明属于FIB加工领域,尤其是涉及一种基于MATLAB的使用聚焦离子束进行三维原子探针样品加工过程的模拟方法。包括,S1:位置标记;S2:第一侧面切削模拟:通过设置样品台旋转角度R1、倾转角度T1和切削深度H1,进行第一侧面切削过程模拟;S3:第二侧面切削模拟:同上进行第二侧面切削过程模拟;S4:样品提取模拟:通过设置样品台的旋转角度R3和倾转角度T3,进行样品提取过程模拟;S5:样品转移模拟;S6:落样模拟;S7:环切模拟。本申请通过MATLAB程序对被检测材料中的目标微观组织结构的空间位置进行标记,并模拟FIB加工过程中样品台的旋转、倾转、平移等动作,实现对FIB加工APT样品的过程模拟和FIB加工参数优化设计,提高FIB加工的目的性及成功率。

    基于MATLAB的FIB制备三维原子探针样品过程的模拟方法

    公开(公告)号:CN109900929A

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201910205111.9

    申请日:2019-03-18

    Abstract: 本发明属于FIB加工领域,尤其是涉及一种基于MATLAB的使用聚焦离子束进行三维原子探针样品加工过程的模拟方法。包括,S1:位置标记;S2:第一侧面切削模拟:通过设置样品台旋转角度R1、倾转角度T1和切削深度H1,进行第一侧面切削过程模拟;S3:第二侧面切削模拟:同上进行第二侧面切削过程模拟;S4:样品提取模拟:通过设置样品台的旋转角度R3和倾转角度T3,进行样品提取过程模拟;S5:样品转移模拟;S6:落样模拟;S7:环切模拟。本申请通过MATLAB程序对被检测材料中的目标微观组织结构的空间位置进行标记,并模拟FIB加工过程中样品台的旋转、倾转、平移等动作,实现对FIB加工APT样品的过程模拟和FIB加工参数优化设计,提高FIB加工的目的性及成功率。

    一种轴向旋转装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109813586A

    公开(公告)日:2019-05-28

    申请号:CN201910145691.7

    申请日:2019-02-27

    Abstract: 本发明涉及聚焦离子束双束仪器样品制备领域,具体涉及一种轴向旋转装置。装置包括:转移针尖:用于转移样品;转移针尖夹持台:用于夹持转移针尖,转移针尖在转移针尖夹持台中可轴向旋转设置;旋转主轴:前端设置呈倒“T”型槽,转移针尖固定在所述槽中;旋转手柄:与旋转主轴连接,带动旋转主轴转动,从而带动转移针尖转动。本发明装置通过将针尖固定于旋转主轴上并旋转旋转手柄来旋转针尖,由角度控制台精确控制旋转角度,且角度控制台与旋转主轴通过螺纹连接,保证了转转的稳定,整个装置满足了在聚焦离子束双束仪器制备样品过程中任意方向制样的现实需求,增大聚焦离子束双束仪器制样技术的灵活度,突破了现阶段的标准取样方法。

Patent Agency Ranking