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公开(公告)号：CN105627916B
公开(公告)日：2018-07-27
申请号：CN201410602861.7
申请日：2014-11-02
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 本发明属于六自由度测量技术领域,具体涉及种建立跟踪仪地理坐标系及六自由度测量的方法,目的在于解决现有技术难以实现快速布设测量的问题。该方法包括设备安装、转换点布置、计算坐标系转换关系测量四个步骤。本发明涉及种建立跟踪仪地理坐标系及六自由度测量的方法,利用3个转换点,求解电子经纬仪与激光跟踪仪仪器坐标系之间的转换关系,建立激光跟踪仪的地理坐标系。3台建立统地理系的激光跟踪仪组合测量,将三维点位测量转换为六自由度测量,有效地提高六自由度测量范围,而激光跟踪仪的高精度点位测量将得到高精度的姿态输出,相比激光跟踪仪的单机姿态测量组件(如T‑Mac),在测量精度与测量范围上有大幅度提高。
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公开(公告)号：CN106403961A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201510463338.5
申请日：2015-07-31
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01C21/26
Abstract: 本发明属于动态定位技术领域，具体涉及一种利用磁地标组合编码识别的原理来实现车辆行进过程中的动态位置定位，解决了磁定位领域中在绝对位置定位应用上的不足之处，使磁道钉在使用中从车辆导航转向了车辆的绝对位置定位的一种组合型磁地标定位方法；组合型磁地标在使用过程中维护费用低，使用寿命长，作为定位系统的定位基准实现车辆行进中的位置定位，组合型磁地标的数量以及组成定位识别编码的磁地标数量可以根据需求进行变化，以适应各种情况下的应用，为车载定位系统提供了一种适应性强精度高的定位基准源，对车载定位系统的定位精度提供了保障。
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公开(公告)号：CN106403713A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201510463000.X
申请日：2015-07-31
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: F41G3/32
Abstract: 本发明属于红外导引头测试领域，具体涉及一种实现红外目标模拟器小型化，达到模拟特定红外目标的目的小型红外目标模拟装置，包括光学准直系统、电动靶标及黑体，其中，所述光学准直系统包括：镜筒(1)、镜安装组件(2)、镜盖(3)、次镜安装组件(4)、电动靶轮(5)、连接板(6)、离轴抛物面反射镜(7)及平面反射镜(8)，所述镜安装组件(2)设于镜筒内部的左侧，镜安装组件(2)的左侧设有镜盖(3)，所述离轴抛物面反射镜设于镜安装组件的右侧，次镜安装组件设于镜筒的右侧壁上，平面反射镜安装于次镜安装组件上，镜筒的镜身上设有连接板，平面反射镜上方位于镜筒筒壁外侧设有电动靶轮，电动靶轮的上方设有黑体。
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公开(公告)号：CN106403961B
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201510463338.5
申请日：2015-07-31
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01C21/26
Abstract: 本发明属于动态定位技术领域，具体涉及一种利用磁地标组合编码识别的原理来实现车辆行进过程中的动态位置定位，解决了磁定位领域中在绝对位置定位应用上的不足之处，使磁道钉在使用中从车辆导航转向了车辆的绝对位置定位的一种组合型磁地标定位方法；组合型磁地标在使用过程中维护费用低，使用寿命长，作为定位系统的定位基准实现车辆行进中的位置定位，组合型磁地标的数量以及组成定位识别编码的磁地标数量可以根据需求进行变化，以适应各种情况下的应用，为车载定位系统提供了一种适应性强精度高的定位基准源，对车载定位系统的定位精度提供了保障。
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公开(公告)号：CN106338221B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201510420612.0
申请日：2015-07-17
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: F41G3/32
Abstract: 本发明提供了一种红外导引头成像阵地检测装置，包括校正黑体(1)、红外成像模拟装置(2)、工作台(4)、控制箱(14)、步进电机(8)、直线导轨(15)，校正黑体(1)和红外成像模拟装置(2)安放在工作台(4)上，工作台(4)由步进电机(8)带动在直线导轨(15)上移动，控制箱(14)与校正黑体(1)、红外成像模拟装置(2)通过电控线缆连接。本发明设计的红外导引头成像阵地检测装置检测过程简单、便于人工操作、可在阵地或其他场合任意移动，集成化的解决了现有导引头测试过程中繁琐、复杂、操作不方便的问题，解决了现有导引头测试无法测试导引头成像参数的问题，同时维修容易。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106403910A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201510463350.6
申请日：2015-07-31
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01C15/00
CPC classification number: G01C15/004
Abstract: 本发明属于高精度光电自准直测试设备技术领域，具体涉及一种提升光电自准直系统的测量分辨率、测量稳定性和降低环境对测量的影响，提升光电自准直系统的环境适应性的新型光电自准直系统分划板；分划板整体结构为圆形，在其中心位置设置四条横向刻度，其中两条刻度位于圆盘横向中轴线上方，另外两条刻度位于圆盘横向中轴线下方；所述分划板直径11mm，四条刻度线的宽度为0.05mm，四条刻度线之间的距离为0.05mm，误差为≤0.001mm；横轴线上方的两条刻度线与横轴线下方的两条刻度线，相对于横轴线对称；本分划板适用于8um像素的CCD传感器实现6个像素的覆盖范围。
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公开(公告)号：CN106338221A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201510420612.0
申请日：2015-07-17
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: F41G3/32
Abstract: 本发明提供了一种红外导引头成像阵地检测装置，包括校正黑体(1)、红外成像模拟装置(2)、工作台(4)、控制箱(14)、步进电机(8)、直线导轨在工作台(4)上，工作台(4)由步进电机(8)带动在直线导轨(15)上移动，控制箱(14)与校正黑体(1)、红外成像模拟装置(2)通过电控线缆连接。本发明设计的红外导引头成像阵地检测装置检测过程简单、便于人工操作、可在阵地或其他场合任意移动，集成化的解决了现有导引头测试过程中繁琐、复杂、操作不方便的问题，解决了现有导引头测试无法测试导引头成像参数的问题，同时维修容易。(15)，校正黑体(1)和红外成像模拟装置(2)安放
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公开(公告)号：CN105627916A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201410602861.7
申请日：2014-11-02
Applicant: 北京航天计量测试技术研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Abstract: 本发明属于六自由度测量技术领域，具体涉及一种建立跟踪仪地理坐标系及六自由度测量的方法，目的在于解决现有技术难以实现快速布设测量的问题。该方法包括设备安装、转换点布置、计算坐标系转换关系测量四个步骤。本发明涉及一种建立跟踪仪地理坐标系及六自由度测量的方法，利用3个转换点，求解电子经纬仪与激光跟踪仪仪器坐标系之间的转换关系，建立激光跟踪仪的地理坐标系。3台建立统一地理系的激光跟踪仪组合测量，将三维点位测量转换为六自由度测量，有效地提高六自由度测量范围，而激光跟踪仪的高精度点位测量将得到高精度的姿态输出，相比激光跟踪仪的单机姿态测量组件(如T-Mac)，在测量精度与测量范围上有大幅度提高。
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公开(公告)号：CN110596488A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910826226.X
申请日：2019-09-03
Applicant: 中国运载火箭技术研究院 , 北京航天长征飞行器研究所
Abstract: 一种基于HPI接口的DSP电离总剂量辐射效应检测装置，包括DSP测试板、FPGA控制系统和底板硬件系统，所述DSP测试板由待测DSP芯片及其正常工作所需的外围电路组成，DSP测试板使待测DSP器件处于正常工作状态；所述FPGA控制系统通过HPI总线与DSP测试板进行连接，加载测试程序和接收测试数据，并对测试结果进行存储，通过RS422总线与上位机进行连接，实现上位机和所述FPGA控制系统之间数据交互；底板硬件系统由供电模块、电流和电压检测模块和接口检测模块组成，供电模块是将220V交流电转化为FPGA控制系统和DSP测试板的各器件工作所需的直流电压。本发明便携，一人就可完成携带和试验测试操作，便于电离总剂量辐照现场试验开展与实施。
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公开(公告)号：CN107450178A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710796233.0
申请日：2017-09-06
Applicant: 北京航天长征飞行器研究所 , 中国运载火箭技术研究院
Inventor： 李志峰 , 张力 , 李建华 , 牛振红 , 束逸 , 孟刚 , 水涌涛 , 刘佳琪 , 刘鑫 , 刘洪艳 , 高路 , 赵巨岩 , 杜润乐 , 薛莲 , 薛峰 , 赵茜 , 蔡雯琳 , 方艺忠 , 尹含 , 张鹏 , 汪大鹏
IPC: G02B26/08
Abstract: 本发明公开了一种二维MEMS微镜驱动控制系统和方法，其中，所述系统包括：数字控制器、第一DAC、微镜偏转驱动回路和MEMS微镜芯片；MEMS微镜芯片，包括：MEMS微镜；数字控制器，用于从接收到的外部指令中提取得到偏转角度指令，对偏转角度指令进行解码，得到MEMS微镜驱动数字波形；第一DAC，用于将MEMS微镜驱动数字波形转换为MEMS微镜驱动模拟波形；微镜偏转驱动回路，用于将MEMS微镜驱动模拟波形，转换为MEMS微镜驱动电流；MEMS微镜，用于在MEMS微镜驱动电流的驱动作用下进行偏转。通过本发明提高了磁驱动模式MEMS微镜的指向控制精度。
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