公开(公告)号：CN113983952A

公开(公告)日：2022-01-28

申请号：CN202111144570.4

申请日：2021-09-28

Applicant: 北京科技大学

Inventor： 周靖 ,  苗吉行 ,  王宝雨 ,  刘晋平 ,  杨翠萍 ,  郑振华 ,  王佳鹏

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明涉及零件测量领域，提供了一种大型轴类零件外轮廓非接触精确测量装置及方法，所示装置包括夹持单元、回转单元、非接触测量单元、驱动控制单元和机架；夹持单元用于限制轴类零件的移动，回转单元用于轴类零件绕轴线的控制旋转，非接触测量单元用于轴类零件外轮廓的非接触测量，驱动控制单元用于所述回转单元、非接触测量单元的控制，夹持单元、回转单元、非接触测量单元均固定安装在所述机架上。本发明可实现较大直径轴类件外轮廓精确测量，且结构简单，成本较低，具有广阔应用前景。

公开(公告)号：CN113983952B

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202111144570.4

申请日：2021-09-28

Applicant: 北京科技大学

Inventor： 周靖 ,  苗吉行 ,  王宝雨 ,  刘晋平 ,  杨翠萍 ,  郑振华 ,  王佳鹏

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明涉及零件测量领域，提供了一种大型轴类零件外轮廓非接触精确测量装置及方法，所示装置包括夹持单元、回转单元、非接触测量单元、驱动控制单元和机架；夹持单元用于限制轴类零件的移动，回转单元用于轴类零件绕轴线的控制旋转，非接触测量单元用于轴类零件外轮廓的非接触测量，驱动控制单元用于所述回转单元、非接触测量单元的控制，夹持单元、回转单元、非接触测量单元均固定安装在所述机架上。本发明可实现较大直径轴类件外轮廓精确测量，且结构简单，成本较低，具有广阔应用前景。