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公开(公告)号:CN119148370A
公开(公告)日:2024-12-17
申请号:CN202411290342.1
申请日:2024-09-14
Applicant: 北京理工大学重庆微电子研究院
Abstract: 本发明公开了一种MEMS微位移平台及其位置检测方法,属于MEMS器件检测领域,主要在MEMS微镜的附近放一块位置感应元器件,将感应元器件集成到MEMS微镜中,当MEMS微镜的镜面偏转靠近感应元器件时,感应元器件会产生相应的电信号,放置感应元器件后,通过TSV或者TGV等工艺将信号传递给驱动控制电路,从而实时获取镜面的位置。本发明将器件检测与TSV或TGV工艺相结合,大大提高现有检测器件的集成度,且可以大批量低成本量产,有较高的市场前景。
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公开(公告)号:CN118954418A
公开(公告)日:2024-11-15
申请号:CN202411049351.1
申请日:2024-08-01
Applicant: 北京理工大学重庆微电子研究院
Abstract: 本发明公开了一种CMOS‑MEMS集成电热微镜及制备方法,属于微机电系统领域。在硅晶圆上设置读出/控制电路,其介质层上设置光学吸收层或电容位置检测电路下电极,功能层上设置导电支撑结构与顶层金属通过金属钨塞连接,在导电支撑结构上设置电热微镜。电热微镜有同层和双层两种结构。而电热微镜的镜面结构间设置连续的缝隙或不连续的孔。该集成电热微镜通过在硅晶圆上制备读出/控制电路,其上依次沉积功能层、牺牲层、导电支撑结构和光学微镜,最后去除牺牲层得到。本发明通过结构设计和调控驱动结构的应力,可实现电热微镜释放后的初始位置控制;所设计的多种功能可以集成到同一层拓展功能层的层结构中,该拓展功能层可以提高电热微镜的功能集成度。
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