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公开(公告)号：CN119090756A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202410997350.3
申请日：2024-07-24
Applicant: 北京理工大学
IPC: G06T5/70 , G06T5/60 , G06T5/50 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/084
Abstract: 本发明公开一种双编码器分支U型结构网络的图像复合噪声去噪方法，属于图像处理技术领域。本发明实现方法为：分析两种噪声成分的特征尺度差异，构建具有两个编码器分支的U型网络结构。U型网络结构包括两个不同尺度的编码器分支、一个解码器分支和特征融合连接模块。常规尺度注意力的编码器分支用于学习高斯噪声特征，扩大尺度注意力的编码器分支用于学习条纹噪声特征。特征融合模块用于融合两个编码器分支获取的特征，实现高斯噪声和条纹噪声特征的融合。解码器分支通过获取编码器分支提供的深度特征图以及特征融合模块提供的融合特征图。结合上采样操作逐步去除高斯随机噪声和时空域行列条纹噪声，恢复去噪后的图像，提高成像仪器图像质量。
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公开(公告)号：CN116642596A
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310368701.X
申请日：2023-04-10
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J5/80
Abstract: 本发明公开的基于偏振片反射偏振特性的红外分焦平面偏振校正方法，属于偏振成像和测试计量技术领域。本发明实现方法为：添加修正系数调整附加辐射得到前置偏振片红外偏振成像系统辐射传输修正模型；采用非线性方法拟合图像灰度与入射辐射的关系，实现前置偏振片红外偏振成像系统的响应校正；利用前置偏振片红外偏振成像系统对温控可调红外偏振辐射源进行标定；构建红外分焦平面偏振成像系统辐射传输模型；利用温控可调红外偏振辐射源对红外分焦平面偏振成像系统进行响应校正和偏振校正。本发明相比在黑体前放置高消光比偏振片，能够避免微偏振片阵列参数的过校正，提高红外分焦平面偏振成像系统的校正精度。
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公开(公告)号：CN114187196A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111439718.7
申请日：2021-11-30
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种自适应多积分时间红外图像序列择优方法，属于高动态红外成像技术领域。本发明实现方法为：基于区域生长点分割序列图像，对分割后的图像分别寻找常温目标和强辐射目标的最优函数，根据常温目标和强辐射目标的最优函数从输入的序列图像中分别得到局部最优图像，尽可能地保留图像细节，采用高积分时间曝光方式使得常温目标能够清晰成像，采用低积分时间曝光方式使得强辐射目标能够清晰成像；基于灰度信息评价指标从输入序列图像中筛选出全局最优图像，消除基于区域生长点分割方法选择出的局部最优图像的不连续性；通过融合局部最优图像和全局最优图像，得到红外高动态范围HDR图像，并进行增强显示，提高高动态场景下的成像质量。
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公开(公告)号：CN114674428B
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202111596003.2
申请日：2021-12-24
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种温控偏振度可调中波红外偏振辐射源及偏振度测量方法，属于光电探测领域。本发明将中波红外线偏振片置于变温透射支架中，利用液态惰性气体对变温透射支架及其内部的中波红外线偏振片降温，通过改变黑体源和变温透射支架温度，调制偏振辐射源总辐射中的完全偏振辐射成分占比，进而实现中波红外偏振辐射源偏振度可调。同时，降低变温透射支架变温仓温度，能够有效减少中波红外线偏振片自发辐射和变温透射支架杂散光的负面干扰，提高辐射源出射光偏振度的调制精度。根据偏振度测量结果，标定偏振辐射源出射光场偏振度与黑体源温度、变温透射支架温度的函数关系；根据标定的函数关系实现对温控偏振度可调中波红外偏振辐射源偏振度的预测。
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公开(公告)号：CN118010168A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410333165.4
申请日：2024-03-22
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开的非制冷红外偏振热成像系统的综合校正方法，属于偏振成像和测试计量技术领域。本发明目的之一是提供非制冷红外偏振热成像系统的综合校正方法，通过分析非制冷红外探测器响应随机芯温度变化的实验数据，确定响应增益系数G和偏置系数b随机芯温度的变化模型；分析机芯温度、焦平面温度和环境温度的影响，得到考虑温漂的前置偏振片式非制冷红外偏振系统的改进模型；利用实验室面型黑体和最小二乘法，实现对前置偏振片式非制冷红外偏振系统的标定和校正。在此基础上，本发明的目的之二是通过分析辐射传输模型中各参量受工作温度的影响，利用实验室面型黑体和最小二乘法，实现对非制冷红外分焦平面偏振相机的标定和校正。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110595625B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201910880734.6
申请日：2019-09-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种“十”字型五孔径视场部分重叠仿生热成像系统，属于光电探测和图像处理技术领域。本发明包括探测成像模块、系统供电电源板、FPGA信号处理板、PC机处理显示模块。所述探测成像模块包括五个单孔径探测成像子模块，每个单孔径探测成像子模块包括光学镜头、探测器及探测器驱动电路板。本发明通过“十”字型五孔径视场部分重叠仿生热成像布局，构造类似人眼视觉的中心高分辨成像、周边大视场搜索的视觉模式，缓减常规热成像系统视场与分辨率的矛盾，并利用“十”字型五孔径视场部分重叠仿生热成像系统实现仿生全偏振热成像或双色热成像，提高光学系统的灵敏度，增强复杂背景下运动目标的探测与识别能力。
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公开(公告)号：CN110595624A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910877281.1
申请日：2019-09-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种“十”字型四孔径视场部分重叠仿生热成像系统，属于光电探测和图像处理技术领域。本发明包括探测成像模块、系统供电电源板、FPGA信号处理板、PC机处理显示模块。探测成像模块包括四个单孔径探测成像子模块，每个单孔径探测成像子模块包括光学镜头、探测器及探测器驱动电路板。本发明通过“十”字型四孔径视场部分重叠仿生热成像布局，构造类似人眼视觉的中心高分辨成像、周边大视场搜索的视觉模式，缓减常规热成像系统视场与分辨率的矛盾，并利用“十”字型四孔径视场部分重叠仿生热成像系统实现仿生全偏振热成像或双色热成像，提高光学系统的灵敏度，增强复杂背景下运动目标的探测与识别能力。
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公开(公告)号：CN110595624B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201910877281.1
申请日：2019-09-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种“十”字型四孔径视场部分重叠仿生热成像系统，属于光电探测和图像处理技术领域。本发明包括探测成像模块、系统供电电源板、FPGA信号处理板、PC机处理显示模块。探测成像模块包括四个单孔径探测成像子模块，每个单孔径探测成像子模块包括光学镜头、探测器及探测器驱动电路板。本发明通过“十”字型四孔径视场部分重叠仿生热成像布局，构造类似人眼视觉的中心高分辨成像、周边大视场搜索的视觉模式，缓减常规热成像系统视场与分辨率的矛盾，并利用“十”字型四孔径视场部分重叠仿生热成像系统实现仿生全偏振热成像或双色热成像，提高光学系统的灵敏度，增强复杂背景下运动目标的探测与识别能力。
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公开(公告)号：CN119067880A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202410920983.4
申请日：2024-07-10
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的基于局部梯度和通道相关性的分焦平面偏振去马赛克方法，属于偏振成像和图像处理领域。本发明实现方法为：对于偏振马赛克图像，通过下采样获得稀疏图像。利用相邻其他偏振方向的像素计算当前像素的局部梯度，并设计平滑度权重以优化双线性插值过程，从而生成初始去马赛克图像。通过归一化互相关系数和引导滤波，计算最小化代价函数与归一化互相关系数之间的关系，并设计具有对称性特征的偏振通道相关性权重。在偏振通道差分模型中应用该权重，进一步优化去马赛克结果。本发明能够在实际应用场景中更准确地反映强度、线偏振度和偏振角的分布特性，提高偏振去马赛克效果，降低分焦平面偏振马赛克图像的瞬时视场误差。
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公开(公告)号：CN114674428A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202111596003.2
申请日：2021-12-24
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的一种温控偏振度可调中波红外偏振辐射源及偏振度测量方法，属于光电探测领域。本发明将中波红外线偏振片置于变温透射支架中，利用液态惰性气体对变温透射支架及其内部的中波红外线偏振片降温，通过改变黑体源和变温透射支架温度，调制偏振辐射源总辐射中的完全偏振辐射成分占比，进而实现中波红外偏振辐射源偏振度可调。同时，降低变温透射支架变温仓温度，能够有效减少中波红外线偏振片自发辐射和变温透射支架杂散光的负面干扰，提高辐射源出射光偏振度的调制精度。根据偏振度测量结果，标定偏振辐射源出射光场偏振度与黑体源温度、变温透射支架温度的函数关系；根据标定的函数关系实现对温控偏振度可调中波红外偏振辐射源偏振度的预测。
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