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公开(公告)号：CN101571378B
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200910148328.7
申请日：2009-06-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种回转体突变截面轴向尺寸高精度自动测量方法。其原理是利用高精度线阵CCD光学成像技术和高精密运动控制技术，通过对回转体纵截面轮廓线的快速测量得到回转体的轮廓数据，计算回转体轮廓线的曲率变化，求取轮廓线上曲率变化的局部极值点，得到突变截面的轴向位置，从而计算出突变截面的轴向尺寸。该方法适用于对各种复杂回转体零件中沟槽、台阶及锥台等轴向尺寸的快速测量，尤其适用于具有小间距的沟槽以及采用接触法不容易测量的回转体零件。
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公开(公告)号：CN101109714B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200710142854.3
申请日：2007-08-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/954
Abstract: 本发明提供一种可以有效方便地对孔腔检测装置自动定心的孔腔内移动装置，其结构简单，适应一定范围内的深孔直径变化。其包括：移动装置主体，支撑爪，联动件以及力加载构件，其中，所述支撑爪至少为3个，这些支撑爪沿移动装置主体的周向等间隔配置于其上，该支撑爪的基端与移动装置主体铰接，使各支撑爪均能够相对于移动装置主体以相同的动作打开或闭合；该联动件分别与各支撑爪配合，从而使各支撑爪之间实现联动；该力加载构件对各支撑爪朝向使该各支撑爪从移动装置主体向外打开的方向施加力。
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公开(公告)号：CN101109716A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710142856.2
申请日：2007-08-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/954
Abstract: 本发明提供一种孔内表面的光学检测方法，其具体包括以下步骤：a.将照明光源放入孔内并使其发光照明孔内周面；b.用沿孔轴线方向设置的成像装置拾取照明光源照射到孔内壁上反射回来的光；c.使照明光源和成像装置沿孔轴线同步移动，并对由成像装置识别到的信号进行处理，获得孔内表面展开图像。可实现对孔内表面的精确检测，而且条件限制小，检测速度快，检测范围广，检测精度高，检测结果容易进行图形化直观表达。
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公开(公告)号：CN101109621A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710142859.6
申请日：2007-08-01
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供一种孔容积的光学测量方法，其包括以下步骤：a.将激光光源放入待测孔内并使其发光；b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；c.采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装置沿孔的轴线方向匀速前进；d.通过光拾取装置反复拾取孔壁反射的光，取得孔待测终点前的所有数据，对所述数据进行处理得出孔容积。这样，可通过非接触的方式实现孔容积的高精度的测量。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN101109621B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200710142859.6
申请日：2007-08-01
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供一种孔容积的光学测量方法，其包括：将激光光源放入待测孔内并使其发光，该激光经锥镜一次反射后投射到被测孔内表面上；用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光；采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装置沿孔的轴线方向匀速前进；在上述匀速前进的过程中，由计算机触发同步信号，控制光拾取装置进行图像采样，其频率根据孔数字化模型的曲率变化而变化，范围为0.5～2Hz，同时返回光拾取装置或激光光源的轴向位置，取得所需数据；建立数字化模型，导入孔电子塞规，将孔的实际测量数据同电子塞规作相关性处理，以相关系数最高的轴向位置为孔的待测部分的终点，从起点到终点，采用分段积分的方法得到被测孔的容积。
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公开(公告)号：CN101629816A
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200910148334.2
申请日：2009-06-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/245
Abstract: 本发明属于测量仪器制造及测量技术领域，特别是一种可消除零件定位误差的复杂回转体轮廓测量方法及装置。本发明的装置包括由可发射平行光幕的发射器和高精度线阵CCD构成的接收器组成的第一测量头和第二测量头、回转工作台、基座、立式导轨和浮动架组成的立式导轨系统。被测回转体零件置于回转工作台上，第一测量头和第二测量头可随浮动架沿立式导轨上下运动，且第一测量头和第二测量头在被测回转体工件的两侧径向对称分布，测量头的测量范围大于被测回转体的半径变化量。使用该方法和装置测量复杂回转体时，能够有效地自动消除零件定位误差的影响，快速测量复杂回转体的轮廓尺寸和轮廓度误差。
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公开(公告)号：CN101109625A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710142860.9
申请日：2007-08-01
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供一种光学测孔内螺旋导轨旋转角度的方法，该方法以非接触的方式，准确且便利地测量孔内螺旋导轨。该方法包括以下步骤：a.将激光发生器按与待测孔同轴的方式放入该待测孔内，并使之工作；b.利用与待测孔同轴配置的光拾取元件拾取图像，并制作模板；c.沿待测孔轴向，同时移动激光发生器和光拾取元件；d.再次拾取图像，并与上述模板对比，记录对比数据；e.进行一次以上的上述步骤c和d之后，通过得到的上述数据，得到螺旋导轨的相关参数。
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