芯片以及数据处理装置、方法

    公开(公告)号:CN114281243A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111363827.5

    申请日:2021-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种芯片以及数据处理装置、方法,装置包括:用于存储应用数据的第一存储器,用于存储程序数据的第二存储器;与第一存储器连接的第一存储控制器,与第二存储器连接的第二存储控制器;DMA控制器,用于在接收到第一指令时,接收通信数据;CPU处理器,用于在接收到第二指令时,控制第一存储控制器启动应用数据擦写,并在启动应用数据擦写或者DMA控制器接收通信数据结束后,控制第二存储控制器读取第二存储器中的程序数据,以及在同时存在应用数据擦写和通信数据时,先利用读取到的程序数据处理通信数据,待通信数据处理完成后,等待应用数据擦写完成。该数据处理装置,可提升存储器擦写寿命和数据处理效率。

    芯片以及数据处理装置、方法

    公开(公告)号:CN114281243B

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202111363827.5

    申请日:2021-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种芯片以及数据处理装置、方法,装置包括:用于存储应用数据的第一存储器,用于存储程序数据的第二存储器;与第一存储器连接的第一存储控制器,与第二存储器连接的第二存储控制器;DMA控制器,用于在接收到第一指令时,接收通信数据;CPU处理器,用于在接收到第二指令时,控制第一存储控制器启动应用数据擦写,并在启动应用数据擦写或者DMA控制器接收通信数据结束后,控制第二存储控制器读取第二存储器中的程序数据,以及在同时存在应用数据擦写和通信数据时,先利用读取到的程序数据处理通信数据,待通信数据处理完成后,等待应用数据擦写完成。该数据处理装置,可提升存储器擦写寿命和数据处理效率。

    嵌入式芯片的引导加载方法

    公开(公告)号:CN112083961A

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN202010779915.2

    申请日:2020-08-05

    Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域,公开一种嵌入式芯片的引导加载方法,嵌入式芯片内的ROM被配置为:用于存储嵌入式芯片的寄存器的配置流程的第一ROM;及用于存储嵌入式芯片的用户程序的引导流程的第二ROM。所述引导加载方法包括:基于第一一次性可编程存储器内的配置数据与第一ROM内的所述配置流程,对嵌入式芯片的寄存器进行配置;将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式;及在所述测试下载模式下,响应于指令指针由所述第一ROM跳转到所述第二ROM,基于第二一次性可编程存储器内的配置数据与所述第二ROM内的所述引导流程,执行相应的用户程序的引导操作。本发明可降低不同流程代码的耦合性,且能更有针对性地保护敏感数据不被随意读写,从而提高芯片的安全性。

    嵌入式芯片的引导加载方法

    公开(公告)号:CN112083961B

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202010779915.2

    申请日:2020-08-05

    Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域,公开一种嵌入式芯片的引导加载方法,嵌入式芯片内的ROM被配置为:用于存储嵌入式芯片的寄存器的配置流程的第一ROM;及用于存储嵌入式芯片的用户程序的引导流程的第二ROM。所述引导加载方法包括:基于第一一次性可编程存储器内的配置数据与第一ROM内的所述配置流程,对嵌入式芯片的寄存器进行配置;将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式;及在所述测试下载模式下,响应于指令指针由所述第一ROM跳转到所述第二ROM,基于第二一次性可编程存储器内的配置数据与所述第二ROM内的所述引导流程,执行相应的用户程序的引导操作。本发明可降低不同流程代码的耦合性,且能更有针对性地保护敏感数据不被随意读写,从而提高芯片的安全性。

    芯片动态功耗测试系统及方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115113019A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210553120.9

    申请日:2022-05-20

    Abstract: 本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法,属于芯片评价技术领域。所述系统包括:测试设备,用于作为测试芯片的工作电源,以及控制所述测试芯片执行预设测试算法;示波器,所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接,第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接,所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息;所述电流探头,用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。

    数据处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质

    公开(公告)号:CN115150056A

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202210761094.9

    申请日:2022-06-29

    Abstract: 本公开实施例公开了一种数据处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质,所述方法包括:获取从密码设备采集的侧信道信息;所述侧信道信息为所述密码设备在执行双线性对运算时,待破解私钥所参与的运算过程中泄露的物理信息;从所述侧信道信息中选取目标信息;所述目标信息为所述待破解私钥在被搬移过程中对应的所述侧信道信息;将所述目标信息与多个候选密钥对应的预设信息模板进行匹配;所述预设信息模板包括所述候选密钥对应的参照信息;基于匹配结果将所述多个候选密钥中的其中一个确定为破解后的私钥。该技术方案能够基于私钥参与的运算过程在初期搬迁私钥时容易泄露信息的特性破解私钥,提高了攻击成功率。

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