公开(公告)号：CN112083961B

公开(公告)日：2022-01-14

申请号：CN202010779915.2

申请日：2020-08-05

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

Inventor： 陈雷 ,  甘杰 ,  崔炳荣 ,  王赟 ,  刘浩 ,  蒋大伟 ,  王林鹏

IPC: G06F9/4401 ,  G06F9/445

Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域，公开一种嵌入式芯片的引导加载方法，嵌入式芯片内的ROM被配置为：用于存储嵌入式芯片的寄存器的配置流程的第一ROM；及用于存储嵌入式芯片的用户程序的引导流程的第二ROM。所述引导加载方法包括：基于第一一次性可编程存储器内的配置数据与第一ROM内的所述配置流程，对嵌入式芯片的寄存器进行配置；将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式；及在所述测试下载模式下，响应于指令指针由所述第一ROM跳转到所述第二ROM，基于第二一次性可编程存储器内的配置数据与所述第二ROM内的所述引导流程，执行相应的用户程序的引导操作。本发明可降低不同流程代码的耦合性，且能更有针对性地保护敏感数据不被随意读写，从而提高芯片的安全性。

公开(公告)号：CN112083961A

公开(公告)日：2020-12-15

申请号：CN202010779915.2

申请日：2020-08-05

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

Inventor： 陈雷 ,  甘杰 ,  崔炳荣 ,  王赟 ,  刘浩 ,  蒋大伟 ,  王林鹏

IPC: G06F9/4401 ,  G06F9/445

Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域，公开一种嵌入式芯片的引导加载方法，嵌入式芯片内的ROM被配置为：用于存储嵌入式芯片的寄存器的配置流程的第一ROM；及用于存储嵌入式芯片的用户程序的引导流程的第二ROM。所述引导加载方法包括：基于第一一次性可编程存储器内的配置数据与第一ROM内的所述配置流程，对嵌入式芯片的寄存器进行配置；将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式；及在所述测试下载模式下，响应于指令指针由所述第一ROM跳转到所述第二ROM，基于第二一次性可编程存储器内的配置数据与所述第二ROM内的所述引导流程，执行相应的用户程序的引导操作。本发明可降低不同流程代码的耦合性，且能更有针对性地保护敏感数据不被随意读写，从而提高芯片的安全性。

公开(公告)号：CN111736911B

公开(公告)日：2021-01-22

申请号：CN202010775733.8

申请日：2020-08-05

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司 ,  国家电网有限公司 ,  国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院

Inventor： 陈雷 ,  甘杰 ,  崔炳荣 ,  王赟 ,  刘浩 ,  蒋大伟 ,  王林鹏 ,  董之微

IPC: G06F9/4401

Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域，公开一种嵌入式芯片的验证方法与引导加载方法。该嵌入式芯片被配置有：用于存储第一流程标识的第一一次性可编程存储器、用于存储第二流程标识及与用于验证该嵌入式芯片的验证流程相关的配置数据的第二一次性可编程存储器。该验证方法包括：判断所述第一一次性可编程存储器内的流程标识的类型；在所述第一一次性可编程存储器内的流程标识为快速分支标识的情况下，对所述第二一次性可编程存储器执行初始化；将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式；及基于所述第二一次性可编程存储器内的配置数据与验证流程，对所述嵌入式芯片执行验证过程。本发明可跳过芯片的安全自检阶段并快速进入验证过程，从而增加芯片的可测试性。

公开(公告)号：CN111736911A

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN202010775733.8

申请日：2020-08-05

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司 ,  国家电网有限公司 ,  国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院

Inventor： 陈雷 ,  甘杰 ,  崔炳荣 ,  王赟 ,  刘浩 ,  蒋大伟 ,  王林鹏 ,  董之微

IPC: G06F9/4401

Abstract: 本发明涉及集成电路芯片领域，公开一种嵌入式芯片的验证方法与引导加载方法。该嵌入式芯片被配置有：用于存储第一流程标识的第一一次性可编程存储器、用于存储第二流程标识及与用于验证该嵌入式芯片的验证流程相关的配置数据的第二一次性可编程存储器。该验证方法包括：判断所述第一一次性可编程存储器内的流程标识的类型；在所述第一一次性可编程存储器内的流程标识为快速分支标识的情况下，对所述第二一次性可编程存储器执行初始化；将所述嵌入式芯片切换到测试下载模式；及基于所述第二一次性可编程存储器内的配置数据与验证流程，对所述嵌入式芯片执行验证过程。本发明可跳过芯片的安全自检阶段并快速进入验证过程，从而增加芯片的可测试性。

公开(公告)号：CN116010184A

公开(公告)日：2023-04-25

申请号：CN202310153238.7

申请日：2023-02-13

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司

Inventor： 蒋大伟 ,  王林鹏 ,  王赟 ,  魏斌 ,  成嵩

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明公开了一种测试方法、系统、设备、测试程序的处理方法及芯片。其中，芯片的只读存储器中存储有固件调试指令；测试方法包括：执行固件调试指令中的写指令，以预设数据格式的测试程序数据块为固定数据单元，存储芯片FT测试程序数据至芯片的闪存存储阵列；其中，芯片FT测试程序数据是编译针对FT测试需求编写的芯片FT测试程序代码而得到的；测试程序数据块是根据闪存存储阵列的存储单元容量对芯片FT测试程序数据顺序划分而得到的，且与存储单元容量大小匹配；接收测试指令，基于芯片FT测试程序数据对芯片进行测试能够将芯片FT测试程序数据按照固定数据单元写入芯片的闪存存储阵列中，提高了芯片对芯片FT测试数据的下载速度。