安全芯片的算法测试方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN118585439A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410687188.5

    申请日:2024-05-30

    Abstract: 本发明提供一种安全芯片的算法测试方法、装置和系统,属于计算机技术领域。方法包括:响应于算法测试参数配置指令,获取待测安全芯片的算法测试参数;生成与算法测试参数匹配的测试数据;发送测试数据和算法测试参数至待测安全芯片,以及接收待测安全芯片基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第一测试结果;从算法库和国密资质卡中确定与算法类型匹配的目标测试主体,以及获取目标测试主体基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第二测试结果;基于第一测试结果和第二测试结果的对比结果,确定算法测试结果。本发明解决现有安全芯片的算法测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低,无法保证测试结果的正确性的问题。

    测试方法、测试系统和计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115048256B

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202210978784.X

    申请日:2022-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括:创建预设对象以占用目标空间,目标空间为Java卡的存储空间的至少部分;获取第一空间参数,第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量;在完成对目标空间的占用后,执行测试流程以回收预设对象;获取第二空间参数,第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量;根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法,通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境,并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果,从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力,进而可评估Java卡的技术竞争力。

    测试方法、测试系统和计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115048317B

    公开(公告)日:2022-11-29

    申请号:CN202210978814.7

    申请日:2022-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括:在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象,目标空间为Java卡的存储空间的至少部分,目标空间包括多个物理存储页;创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新;根据预设事务在提交后的执行情况,确定Java卡对被更新的内容的测试参数;根据测试参数确定测试结果。上述测试方法,通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间,并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境,根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果,从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力,进而可评估Java卡的技术竞争力。

    安全芯片操作系统测试装置

    公开(公告)号:CN109918338A

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201910180286.9

    申请日:2019-03-11

    Abstract: 本发明公开了一种安全芯片操作系统测试装置,是通过Python语言构建的,其包括PCSC通信接口层、算法库接口层、功能指令接口层、基本算法接口层、脚本编写和执行层。通过PCSC通信接口层实现与待测安全芯片的通信。算法库接口层用于封装待测安全芯片所应用的多种安全算法的接口。功能指令接口层用于封装待测安全芯片的操作系统中的功能指令。基本算法接口层用于对算法库接口层的接口进行二次组合封装,同时新增运算函数。脚本编写和执行层用于存储、执行和修改测试脚本,脚本编写和执行层通过组合和调用PCSC通信接口层、算法库接口层、功能指令接口层以及基本算法接口层从而实现对测试。该安全芯片操作系统测试装置能够有效地提高测试脚本的编写和调试速率。

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