公开(公告)号：CN118585439A

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202410687188.5

申请日：2024-05-30

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司

Inventor： 董瀚 ,  梁昭庆 ,  张海晶 ,  肖斌 ,  雷少波 ,  李建强 ,  王祥 ,  李延

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明提供一种安全芯片的算法测试方法、装置和系统，属于计算机技术领域。方法包括：响应于算法测试参数配置指令，获取待测安全芯片的算法测试参数；生成与算法测试参数匹配的测试数据；发送测试数据和算法测试参数至待测安全芯片，以及接收待测安全芯片基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第一测试结果；从算法库和国密资质卡中确定与算法类型匹配的目标测试主体，以及获取目标测试主体基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第二测试结果；基于第一测试结果和第二测试结果的对比结果，确定算法测试结果。本发明解决现有安全芯片的算法测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低，无法保证测试结果的正确性的问题。

公开(公告)号：CN118897810B

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411401823.5

申请日：2024-10-09

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 张海晶 ,  周斌 ,  曲胜波 ,  李建强 ,  王祥

IPC: G06F11/3668 ,  G06F11/22

Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。

公开(公告)号：CN119440750A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411318411.5

申请日：2024-09-20

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 刘春桥 ,  李延 ,  袁艳芳 ,  李琨 ,  胡启龙 ,  张磊 ,  刘立宗 ,  高福生 ,  李宗南 ,  薛兵兵 ,  张海晶 ,  张静 ,  丰廷政 ,  江海朋

IPC: G06F9/48

Abstract: 本发明提供一种接口通信方法、装置、系统、存储介质及电子设备，属于通信技术领域。所述接口通信方法应用于主控设备，所述主控设备通过通信接口连接有多个外部设备，包括：获取多个业务指令，每一个业务指令均包括外部设备信息；分别基于各个业务指令，在预置的业务线程集中确定出对应的业务线程，所述预置的业务线程集包括多个业务线程，每一个业务线程对应一个外部设备；由所述对应的业务线程调用驱动接口，并通过所述驱动接口与对应的外部设备进行数据交互。自动合理的多任务调度处理，实现自动配置支持多个外部设备的数据传输的要求，从而实现通过多线程技术完成多个外部设备的并行访问，增加了数据交互的性能，提高了通信效率。

公开(公告)号：CN119415342A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411332643.6

申请日：2024-09-24

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网辽宁省电力有限公司营销服务中心

Inventor： 聂睿 ,  解卫华 ,  薛激光 ,  王丹 ,  李延 ,  李建强 ,  张海晶 ,  曲胜波 ,  周斌 ,  时凯

IPC: G06F11/26 ,  G06F11/273

Abstract: 本申请公开了一种掉电测试电路及系统，属于硬件测试技术领域。掉电测试电路包括：多个接口，具有多种总线标准；多个输出电压控制电路，配置为提供多种输出电压，各输出电压控制电路与各接口对应电连接；电源电路，与各输出电压控制电路电连接，且配置为将接入电源转换为各输出电压控制电路所需的供电电压；主控芯片，与各输出电压控制电路电连接，且配置为根据目标上电时间信息和目标掉电时间信息控制各输出电压控制电路上电或掉电。

公开(公告)号：CN118897810A

公开(公告)日：2024-11-05

申请号：CN202411401823.5

申请日：2024-10-09

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 张海晶 ,  周斌 ,  曲胜波 ,  李建强 ,  王祥

IPC: G06F11/36

Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。