公开(公告)号：CN118113593A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202311435710.2

申请日：2023-10-31

Applicant: 北京微电子技术研究所 ,  北京时代民芯科技有限公司

Inventor： 李晓龙 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  武昊男 ,  魏晓飞 ,  冯国兵 ,  吕冰 ,  王高原 ,  贾森 ,  张昊

IPC: G06F11/36 ,  G06F30/34

Abstract: 一种针对FPGA的ATE测试向量快速迁移方法，包括：(1)根据测试需求，修改Vivado工程源文件，每个工程形成一个文件夹，多个工程形成源文件集；(2)利用FPGA批量仿真工具将步骤(1)的源文件集批量并行运行，生成Vivado工程并进行综合、实现，生成FPGA配置文件，生成仿真相关脚本文件；(3)批量并行运行步骤(2)中的仿真相关脚本文件，生成仿真波形文件。本发明方法通过简洁的人机交互界面，批量并行生成FPGA配置文件，脚本化进行Vivado与ModelSim联合仿真，批量并行生成仿真波形文件，自动化迁移FPGA测试向量，克服了通过IDE或手工输入脚本进行仿真耗时、不友好的缺点，提高了FPGA的ATE测试向量开发效率。

公开(公告)号：CN112953534B

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN202110065921.6

申请日：2021-01-18

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 冯长磊 ,  魏晓飞 ,  陈雷 ,  李光北 ,  胡培峰 ,  田岭 ,  秦贺 ,  武昊男 ,  吴鹏 ,  张涛 ,  贾森

IPC: H03M1/08

Abstract: 本发明一种基于系统级封装的耐辐射混合信号FPGA，由可编程逻辑单元、高速并行模数转换单元、低速串行模数转换单元、数模转换单元和刷新单元组成。采用系统级封装技术，集成上述五颗耐辐射裸芯，实现通用FPGA逻辑、模数转换、数模转换、高速度、并行数据处理、实时刷新等功能。本发明所述的耐辐射混合信号FPGA，具有集成度高、体积小、可靠性高、通用性强等优点，为宇航用陀螺等电子产品混合信号采集、数据处理提供了解决方案。

公开(公告)号：CN112953534A

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：CN202110065921.6

申请日：2021-01-18

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 冯长磊 ,  魏晓飞 ,  陈雷 ,  李光北 ,  胡培峰 ,  田岭 ,  秦贺 ,  武昊男 ,  吴鹏 ,  张涛 ,  贾森

IPC: H03M1/08

Abstract: 本发明一种基于系统级封装的耐辐射混合信号FPGA，由可编程逻辑单元、高速并行模数转换单元、低速串行模数转换单元、数模转换单元和刷新单元组成。采用系统级封装技术，集成上述五颗耐辐射裸芯，实现通用FPGA逻辑、模数转换、数模转换、高速度、并行数据处理、实时刷新等功能。本发明所述的耐辐射混合信号FPGA，具有集成度高、体积小、可靠性高、通用性强等优点，为宇航用陀螺等电子产品混合信号采集、数据处理提供了解决方案。

公开(公告)号：CN116609637A

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202310476572.6

申请日：2023-04-27

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 武昊男 ,  王勇 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  程长征 ,  魏晓飞 ,  李晓龙 ,  贾森 ,  黄耀慷 ,  张昊

IPC: G01R31/28 ,  G11C29/56

Abstract: 一种针对微系统内FPGA及FLASH单元的测试方法，采用由PXI测试仪、多个通用IO测试板卡以及测试夹；PXI测试仪对测试向量进行编码，控制通用IO板卡提供测试通道，测试夹具保障测试对象的电气连接。测试系统具备针对测试对象的自动化测试能力，主要包含以SELECTMAP模式对FPGA编程的能力；以测试向量的形式提供FPGA、FLASH的测试激励的能力；采集并判断FPGA、FLASH测试响应的能力。此外，在FLASH测试过程中，可以使用专用测试适配板进行多路并行测试，有效减少FLASH测试时间，提高测试效率。

公开(公告)号：CN111130545B

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN201911216273.9

申请日：2019-12-02

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 贾森 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  李程 ,  武昊男

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明涉及一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，属于集成电路测试领域；包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；本发明通过微系统ADC单元采集由信号回环模块处理的输入信号，将输入信号由模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的回环数据。

公开(公告)号：CN111130545A

公开(公告)日：2020-05-08

申请号：CN201911216273.9

申请日：2019-12-02

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 贾森 ,  冯长磊 ,  秦贺 ,  李程 ,  武昊男

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明涉及一种数模混合微系统DAC/ADC单元回环测试系统，属于集成电路测试领域；包括上位机和测试板；其中，测试板包括数模混合微系统和带通滤波模块；所述数模混合微系统包括ADC单元、DAC单元、FPGA单元、Flash模块、DSP单元和DDR2模块；其中，FPGA单元包括数字下变频模块和数字上变频模块；本发明通过微系统ADC单元采集由信号回环模块处理的输入信号，将输入信号由模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的回环数据。