混合信号处理微系统模拟开关和ADC单元的测试系统及方法

    公开(公告)号:CN119916173A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202411882864.0

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 混合信号处理微系统模拟开关和ADC单元的测试系统及方法,属于集成电路测试领域;包括上位机和测试板;测试板包括电源模块、测试信号源模块、显示模块、微系统辅助电路、外置存储模块和混合信号处理微系统;混合信号处理微系统包括模拟开关、ADC单元、存储单元和FPGA单元。模拟开关控制ADC单元接收模拟信号的通道;ADC单元采集测试信号源模块产生的模拟信号并将其转换为数字信号;FPGA单元对模拟开关和ADC单元进行控制,读取ADC单元状态信息并采集和处理其输出的数字信号;存储单元存储FPGA配置程序;外置存储模块存储测试数据;显示模块显示测试状态信息;上位机控制测试流程,读取和处理外置存储模块中的数据,得到ADC单元和模拟开关的性能参数。

    一种针对FPGA的ATE测试向量快速迁移方法

    公开(公告)号:CN118113593A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202311435710.2

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 一种针对FPGA的ATE测试向量快速迁移方法,包括:(1)根据测试需求,修改Vivado工程源文件,每个工程形成一个文件夹,多个工程形成源文件集;(2)利用FPGA批量仿真工具将步骤(1)的源文件集批量并行运行,生成Vivado工程并进行综合、实现,生成FPGA配置文件,生成仿真相关脚本文件;(3)批量并行运行步骤(2)中的仿真相关脚本文件,生成仿真波形文件。本发明方法通过简洁的人机交互界面,批量并行生成FPGA配置文件,脚本化进行Vivado与ModelSim联合仿真,批量并行生成仿真波形文件,自动化迁移FPGA测试向量,克服了通过IDE或手工输入脚本进行仿真耗时、不友好的缺点,提高了FPGA的ATE测试向量开发效率。

    一种面向SDR处理微系统的多功能辐照效应试验系统

    公开(公告)号:CN118068110A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410169450.7

    申请日:2024-02-06

    Abstract: 本发明提供的一种面向SDR处理微系统的多功能辐照效应试验系统中,微系统测试模块可以对被测微系统及各存储模块进行测试,同时采集微系统测试模块温度,接收多功能监测模块的信息,并通过多功能监测模块发出的指令进行各项测试;多功能监测模块可以监测被测微系统状态信息,包括被测微系统各路电流、存储模块状态、功能接口状态及高速通信接口状态等,用于实时监测微系统工作状态并根据反馈进行控制;人机交互模块负责实时显示被测微系统实时状态信息,同时通过指令进行控制被测微系统及多功能监测模块工作状态。本发明用以克服现有微系统辐照试验系统功能单一、精度不高及难以控制等缺陷,有效提高了实验人员对实验结果的分析准确度。

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