气密性系统级封装元件表贴方法及封装元件

    公开(公告)号:CN117790332A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311808917.X

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本发明涉及一种气密性系统级封装元件表贴方法及封装元件,涉及半导体封装技术领域。包括:对外壳进行清洗,使得外壳表面的焊盘洁净;将焊料放置于所述焊盘表面,将待封装元件贴放结构放置于焊料上方,得到装配好的产品;焊料为无助焊剂固态焊料;将装配好的产品放入共晶烧结设备中,按照共晶焊接工艺曲线,在氮气或真空气氛下进行共晶焊接,得到封装元件。采用固态无助焊剂焊料,在真空或氮气气氛下通过共晶焊接工艺实现元件表贴,避免了常规回流焊接工艺因清洗残留助焊剂或免清洗焊料的助焊剂残留而引入的水汽超标问题,降低了系统级封装产品内部元件因化学腐蚀及电化学腐蚀导致的电性能失效风险,从而实现系统级封装产品气密性封装。

    一种二极管外观检验治具及检测方法

    公开(公告)号:CN116242844A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310179984.3

    申请日:2023-03-01

    Abstract: 一种电子器件外观检验治具及其检验方法,多层翻转复合结构(1)可拆卸安装在所述万向移动平台(2)上,多层翻转复合结构(1)包括至少二层翻转板;每层翻转板包括滑动限位区和放置功能区,放置能区设置网孔矩阵,所述网孔边缘铣圆角;上层翻转板的网孔矩阵的网孔覆盖下层翻转板网孔矩阵的非网孔区域;滑动限位区位于所述翻转板的四个角区域;滑动限位区设置滑动限位机构;两层翻转板利用所述滑动限位机构相互配合层叠安装,两层翻转板通过所述滑动限位机构进行水平滑动,使得上层翻转板网孔矩阵的网孔与下层翻转板对应网孔矩阵的网孔重合;万向移动平台(2)的底部安装万向滑轮(23)。本发明可一次针对多只二极管进行外观检验。

    一种低应力高散热氧化镓器件封装结构与方法

    公开(公告)号:CN119965173A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202411962293.1

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本发明属于半导体封装技术领域,具体涉及了一种低应力高散热氧化镓器件封装结构与方法,旨在解决正置芯片的引线键合封装形式严重制约器件性能问题,本发明包括基板、氧化镓器件和阶梯型金属板,基板的表面设置有金属层,基板的中间区域分布有内焊接区,基板外侧区域分布有外焊接区,氧化镓器件的正面分布有第一电极区,氧化镓器件的背面分布有第二电极区,阶梯型金属板的头部分布有第一焊接区,阶梯型金属板的尾部分布有第二焊接区,第一电极区朝向内焊接区设置,第一焊接区朝向第二电极区设置,第二焊接区朝向外焊接区设置,通过利用阶梯型金属板替代传统的引线键合方式,降低了键合过程中机械应力对器件的损伤,保障了器件的性能与可靠性。

    一种方形电极玻璃二极管标识印制机构

    公开(公告)号:CN113910757B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202111138045.1

    申请日:2021-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种一种方形电极玻璃二极管标识印制机构,包括:硅胶头、阵列轨道工装、钢片、清洁区、X方向伺服机构、Y方向伺服机构和工作平台;其中,所述阵列轨道工装、所述钢片、所述清洁区和所述Y方向伺服机构均设置于所述工作平台上;所述硅胶头与所述X方向伺服机构相连接,所述硅胶头能够沿着X方向伺服机构长度方向移动;所述X方向伺服机构与所述Y方向伺服机构相连接,所述X方向伺服机构能够沿着Y方向伺服机构长度方向移动。本发明攻克了自动化环状标识印制的瓶颈,从而克服了手工制作效率低、一致性差、良率低的缺点。

    一种方形电极玻璃二极管标识印制机构

    公开(公告)号:CN113910757A

    公开(公告)日:2022-01-11

    申请号:CN202111138045.1

    申请日:2021-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种一种方形电极玻璃二极管标识印制机构,包括:硅胶头、阵列轨道工装、钢片、清洁区、X方向伺服机构、Y方向伺服机构和工作平台;其中,所述阵列轨道工装、所述钢片、所述清洁区和所述Y方向伺服机构均设置于所述工作平台上;所述硅胶头与所述X方向伺服机构相连接,所述硅胶头能够沿着X方向伺服机构长度方向移动;所述X方向伺服机构与所述Y方向伺服机构相连接,所述X方向伺服机构能够沿着Y方向伺服机构长度方向移动。本发明攻克了自动化环状标识印制的瓶颈,从而克服了手工制作效率低、一致性差、良率低的缺点。

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