一种全数字的开关电容sigma-delta调制器可测性设计电路及方法

    公开(公告)号:CN101783687A

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN200910077073.X

    申请日:2009-01-19

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种全数字的开关电容sigma-delta调制器可测性设计(DFT)方法,包括:根据已设计的待测sigma-delta调制器结构进行修改,在进行测试时,原始的输入端连接到Gnd;复用待测sigma-delta调制器本身包含的一位反馈DAC,将其重新配置为三个输出级Vref+、Gnd和Vref-;由量化器数字输出(D0)与施加的数字激励(Ds)之差决定该反馈DAC的输出,并通过分析数字激励及量化器数字输出测得待测sigma-delta调制器的性能。本发明还提出一种对应的DFT电路。本发明的技术方案提供了一种全数字的开关电容sigma-delta调制器DFT方法,不需要采用昂贵的模拟激励源测试调制器,测试成本很低,测试时间较短,具有at-speed测试能力,能够有效地降低产品time-to-market时间。

    一种全数字的开关电容sigma-delta调制器可测性设计电路及方法

    公开(公告)号:CN101783687B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN200910077073.X

    申请日:2009-01-19

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种全数字的开关电容sigma-delta调制器可测性设计(DFT)方法,包括:根据已设计的待测sigma-delta调制器结构进行修改,在进行测试时,原始的输入端连接到Gnd;复用待测sigma-delta调制器本身包含的一位反馈DAC,将其重新配置为三个输出级Vref+、Gnd和Vref-;由量化器数字输出(D0)与施加的数字激励(Ds)之差决定该反馈DAC的输出,并通过分析数字激励及量化器数字输出测得待测sigma-delta调制器的性能。本发明还提出一种对应的DFT电路。本发明的技术方案提供了一种全数字的开关电容sigma-delta调制器DFT方法,不需要采用昂贵的模拟激励源测试调制器,测试成本很低,测试时间较短,具有at-speed测试能力,能够有效地降低产品time-to-market时间。

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