一种航天器表面铺覆材料的强电磁场辐照式试验方法

    公开(公告)号:CN114325172A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111477399.9

    申请日:2021-12-06

    Abstract: 本发明公开了一种航天器表面铺覆材料的强电磁场辐照式试验方法,包括下步骤:一组试验件放置于空间环境模拟容器的内部,所述一组试验件由多个试验件单体组成,在真空、低温耦合环境下以辐照方式模拟强场,并对一组试验件的状态进行采集、记录。本发明中,对于试验件放电阈值主要基于半数损毁阈值,即基于模型预示下,一半试验件发生放电损伤的场强,通过引入半数损毁阈值的评价方法,可以在大量试验数据中提取共性,降低放电发生随机性的影响,对阈值数据、分布规律进行记录处理,得到出损伤阈值的总体分布。

    一种应用于NV色心系综磁强计荧光收集装置的微波天线

    公开(公告)号:CN113064106A

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN202110290733.3

    申请日:2021-03-18

    Abstract: 本申请提供一种应用于NV色心系综磁强计荧光收集装置的微波天线,使得微波通过微波天线发射后进入荧光收集装置的金刚石内,金刚石表面设为激光入射区及激光非入射区,微波天线设置微波入射区及微波非入射区,微波入射区对应激光入射区设置,微波入射区内设有微纳结构,微纳结构包括若干条平行设置的微纳线。本申请的有益效果是:解决由于金刚石表面安装探测器元件而无法直接使得微波天线贴合金刚石表面安装的问题,使得微波产生器经放大器后经过微纳结构后向金刚石内耦合微波的问题,实现NV色心系综磁强计高灵敏度测磁。

    辐照试验的控温方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102455715B

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201010512684.5

    申请日:2010-10-20

    Abstract: 本发明公开了一种辐照试验中的样品温度控制方法,该方法利用高反光、高导热材料制成的反光片遮挡固定样品的靶台,同时靶台与反光片之间使用隔热材料支撑,且使反光片通过导热桥与低温结构相连,及时将反光片获得的热量传导出去。通过这种方法最大限度减弱了靶台被加热的效果,降低了温控系统的负荷,利用有限的控温能力保证了样品的理想温度,解决了在辐照源加热作用强烈的试验中样品温度容易过高的问题。

    一种航天器表面铺覆材料的强电磁场辐照式试验方法

    公开(公告)号:CN114325172B

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202111477399.9

    申请日:2021-12-06

    Abstract: 本发明公开了一种航天器表面铺覆材料的强电磁场辐照式试验方法,包括下步骤:一组试验件放置于空间环境模拟容器的内部,所述一组试验件由多个试验件单体组成,在真空、低温耦合环境下以辐照方式模拟强场,并对一组试验件的状态进行采集、记录。本发明中,对于试验件放电阈值主要基于半数损毁阈值,即基于模型预示下,一半试验件发生放电损伤的场强,通过引入半数损毁阈值的评价方法,可以在大量试验数据中提取共性,降低放电发生随机性的影响,对阈值数据、分布规律进行记录处理,得到出损伤阈值的总体分布。

    多同频设备发射互调抑制评估方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN117833941A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410009350.8

    申请日:2024-01-02

    Abstract: 本申请公开了一种多同频设备发射互调抑制评估方法、装置、设备及介质,该方法包括:获取多个发射设备中每个发射设备输出端口的输出功率;对于每个发射设备,计算发射设备的输出功率达到发射天线端口的功率;计算发射设备的发射天线和接收设备的接收天线之间的隔离度;根据发射设备的输出功率达到发射天线端口的功率和隔离度,计算发射设备对接收设备的互调抑制指标;根据所有发射设备的互调抑制指标,确定所有发射设备和接收设备之间的互调抑制最终指标。该方案提高了互调抑制最终指标的准确度,快速完成对同平台内有多台同频发射干扰情况下,接收机的互调抑制的评估和计算,以便更好的评估互调干扰,为后续设备的试验验证提供有效的数据支撑。

    提高NV色心系综磁强计系综灵敏度的荧光收集结构

    公开(公告)号:CN113064107A

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN202110290739.0

    申请日:2021-03-18

    Abstract: 本申请提供一种提高NV色心系综磁强计系综灵敏度的荧光收集结构,包括在金刚石侧面设的侧面荧光反射部或侧面荧光探测部,对应金刚石下方设的第一底面荧光探测部及第二底面荧光探测部;金刚石的激光非入射区表面设有荧光全反射层;侧面荧光探测部用于检测金刚石侧面射出的荧光光子;第一底面荧光探测部用于检测金刚石底面射出的荧光光子;侧面荧光反射部用于将水平方向的荧光光子反射向金刚石的底面方向;第二底面荧光探测部用于检测金刚石底面及侧面荧光反射部底面射出的荧光光子。本申请的有益效果是:在金刚石的上表面、侧面及底面设置荧光反射或者荧光探测装置,从而提高荧光光子的收集效率,提高NV色心系综磁强计的灵敏度。

    辐照试验的控温方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102455715A

    公开(公告)日:2012-05-16

    申请号:CN201010512684.5

    申请日:2010-10-20

    Abstract: 本发明公开了一种辐照试验中的样品温度控制方法,该方法利用高反光、高导热材料制成的反光片遮挡固定样品的靶台,同时靶台与反光片之间使用隔热材料支撑,且使反光片通过导热桥与低温结构相连,及时将反光片获得的热量传导出去。通过这种方法最大限度减弱了靶台被加热的效果,降低了温控系统的负荷,利用有限的控温能力保证了样品的理想温度,解决了在辐照源加热作用强烈的试验中样品温度容易过高的问题。

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