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公开(公告)号：CN113759237A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202111149062.5
申请日：2021-09-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，智能卡功耗波动对13.56Mhz载波的异常扰动，导致读卡器接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，可配置接收灵敏度的读卡器模块，测试方法包括读卡器向智能卡发送命令启动智能卡执行大功率运算，通过配置不同的读卡器接收灵敏度，在智能卡执行运算期间检测智能卡引起的13.56Mhz载波扰动对读卡器接收的影响。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。
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公开(公告)号：CN106646039B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201611100535.1
申请日：2016-12-02
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，易受到外界噪声干扰导致智能卡接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，读卡器模块，噪声生成模块，测试方法包括在读卡器发送正确数据的各个阶段加入噪声干扰，并测试非接触智能卡的抗干扰能力。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。
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公开(公告)号：CN103699163A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310665341.6
申请日：2013-12-10
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 王丰
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，提供一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器，包括嵌入式处理器、可控电压转换模块、电压反馈模块、可控开关模块、智能卡电平转换模块。本发明通过嵌入式处理器配置可控电压转换模块及可控开关模块并根据电压反馈模块的返回值进行电压修正，实现被测智能卡供电电压的精准控制。解决了被测智能卡在其标称的所有供电电压条件下的性能测试及在可控电源断电条件下的性能测试的问题。
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公开(公告)号：CN110995913A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911110429.5
申请日：2019-11-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 针对非接触智能卡与不同型号的NFC手机之间存在的数据通信兼容性问题，本发明公开了一种基于NFC功能智能手机的非接触智能卡测试方法。该基于NFC功能智能手机的非接触智能卡测试方法包括：手机端编写测试脚本，测试脚本解析，智能卡指令发送，智能卡响应接收，数据处理。本发明通过建立完整的测试流程，实现具有NFC功能的手机与非接触智能卡的完整数据测试和交易流程，该数据流程还包括判定非接触智能卡和具有NFC功能手机之间的异常处理，以及测试数据的存储和格式判定。本发明涉及到非接触智能卡的测试验证领域，应用于非接触智能卡和不同型号的具有NFC功能的智能手机之间的测试，从而达到兼容性测试的目的。
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公开(公告)号：CN106646039A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611100535.1
申请日：2016-12-02
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，易受到外界噪声干扰导致智能卡接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，读卡器模块，噪声生成模块，测试方法包括在读卡器发送正确数据的各个阶段加入噪声干扰，并测试非接触智能卡的抗干扰能力。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106645986A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611076877.4
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，公开了一种场强测量设备，应用于测量非接读卡器场强，该设备具有场强测量，距离测量，载波频率测量三个测量功能，能够离线存储测量结果，并支持测量结果的查询；作为一种手持测量设备，可应用于不同的测量场景，与传统应用示波器测量场强相比，便携性强，可靠性高，精度高。
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公开(公告)号：CN109150896A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811072157.X
申请日：2018-09-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 王丰
IPC: H04L29/06
CPC classification number: H04L69/22
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对非接触智能卡与非接触读卡器通信中出现的交互异常问题，需要抓取并分析交互过程中的全部数据，提出了一种非接触智能卡通信协议分析装置。该非接触智能卡通信协议分析装置包括：低耦合高频天线、读卡器数据解析模块、卡片数据解析模块、读卡器发送数据波特率监控模块、嵌入式处理器和PC端显示模块。本发明可以在非接触智能卡与非接触读卡器交互过程中，在不影响通信状态的情况下，抓取交互数据，为快速高效分析交互异常问题提供支撑。
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公开(公告)号：CN209120221U
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201821504280.X
申请日：2018-09-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 王丰
IPC: H04L29/06
Abstract: 本实用新型涉及测试验证领域，针对非接触智能卡与非接触读卡器通信中出现的交互异常问题，需要抓取并分析交互过程中的全部数据，提出了一种非接触智能卡通信协议分析装置。该非接触智能卡通信协议分析装置包括：低耦合高频天线、读卡器数据解析模块、卡片数据解析模块、读卡器发送数据波特率监控模块、嵌入式处理器和PC端显示模块。本实用新型可以在非接触智能卡与非接触读卡器交互过程中，在不影响通信状态的情况下，抓取交互数据，为快速高效分析交互异常问题提供支撑。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN203587759U
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201320802934.8
申请日：2013-12-10
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 王丰
IPC: G01R31/28
Abstract: 本实用新型涉及测试验证领域，提供一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器，包括嵌入式处理器、可控电压转换模块、电压反馈模块、可控开关模块、智能卡电平转换模块。本实用新型通过嵌入式处理器配置可控电压转换模块及可控开关模块并根据电压反馈模块的返回值进行电压修正，实现被测智能卡供电电压的精准控制。解决了被测智能卡在其标称的所有供电电压条件下的性能测试及在可控电源断电条件下的性能测试的问题。
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公开(公告)号：CN206832914U
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201620958741.5
申请日：2016-08-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/01
Abstract: 本实用新型涉及测试验证领域，提供一种非接触通信芯片(包括但不局限于近距离高频非接触智能卡芯片和非接触读卡器芯片)的全自动化测试装置以及测试方法，解决了非接触通信芯片手工测试、简单机械测试存在的测试效率低、空间测试位置不全面的问题，在目前对于射频通信芯片的要求越来越严苛的背景下，提高了非接触通信芯片测试验证的效率和全面性。
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