公开(公告)号：CN106645986A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201611076877.4

申请日：2016-11-29

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 温家宝 ,  王西国 ,  王丰 ,  刘丽丽 ,  张华庆 ,  乔冰

IPC: G01R29/08

CPC classification number: G01R29/08

Abstract: 本发明涉及测试验证领域，公开了一种场强测量设备，应用于测量非接读卡器场强，该设备具有场强测量，距离测量，载波频率测量三个测量功能，能够离线存储测量结果，并支持测量结果的查询；作为一种手持测量设备，可应用于不同的测量场景，与传统应用示波器测量场强相比，便携性强，可靠性高，精度高。

公开(公告)号：CN102540060A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201010622301.X

申请日：2010-12-27

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 边海波 ,  张华庆 ,  李焕春

IPC: G01R31/3177

Abstract: 本发明提供一种基于测试向量的测试系统，实现对数字集成电路的功能测试，功能测试主要测试芯片在一定时序下的逻辑功能，其基本原理是借助于测试向量，对芯片施加激励，观察其响应是否和设想的一致。功能测试可以覆盖极高比例逻辑电路的失效模型。该调试技术支持单步测试系统包括两大部分：运行于PC机的测试向量文件转换软件和数字集成电路芯片测试机组成。数字集成电路芯片测试机由CPU+FPGA的架构组成，CPU负责pattern文件存储、转换，测试过程控制、与主机通信等功能。pattern控制的逻辑电路由一块FPGA实现，FPGA完成波形产生、Pattern RAM的控制和采样控制，同时控制驱动器及比较器以实现对被测对象的测试控制。