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公开(公告)号：CN106405281B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201610750871.4
申请日：2016-08-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 刘丽丽
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，公开了一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，替代传统的使用不同非接触读卡器进行兼容性测试的方法，以及传统的手动调节读卡器发射波形进行兼容性测试的方法，提高测试验证的效率和全面性。
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公开(公告)号：CN106405281A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610750871.4
申请日：2016-08-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 刘丽丽
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，公开了一种非接触智能卡接收信号兼容性自动化测试装置，替代传统的使用不同非接触读卡器进行兼容性测试的方法，以及传统的手动调节读卡器发射波形进行兼容性测试的方法，提高测试验证的效率和全面性。
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公开(公告)号：CN117835205A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410039511.8
申请日：2024-01-10
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司 , 中电华大科技(深圳)有限公司
Abstract: 本说明书提供有近场通信的天线以及阻抗匹配电路的调整方法和装置。所述天线的构成包括微程序控制器、与所述微程序控制器连接的近场通信控制器以及与所述近场通信控制器连接的天线电路；所述天线电路包括电磁兼容性滤波电路、阻抗匹配电路和天线等效电路；其中，所述阻抗匹配电路中的固定电容并联有对应的可调电容；所述可调电容通过连接的电压控制器调整电容值；所述电压控制器与所述微程序控制器连接，并由所述微程序控制器控制所述电压控制器输出电压的电压值。
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公开(公告)号：CN110995913A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911110429.5
申请日：2019-11-14
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 针对非接触智能卡与不同型号的NFC手机之间存在的数据通信兼容性问题，本发明公开了一种基于NFC功能智能手机的非接触智能卡测试方法。该基于NFC功能智能手机的非接触智能卡测试方法包括：手机端编写测试脚本，测试脚本解析，智能卡指令发送，智能卡响应接收，数据处理。本发明通过建立完整的测试流程，实现具有NFC功能的手机与非接触智能卡的完整数据测试和交易流程，该数据流程还包括判定非接触智能卡和具有NFC功能手机之间的异常处理，以及测试数据的存储和格式判定。本发明涉及到非接触智能卡的测试验证领域，应用于非接触智能卡和不同型号的具有NFC功能的智能手机之间的测试，从而达到兼容性测试的目的。
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公开(公告)号：CN106646039A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611100535.1
申请日：2016-12-02
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，易受到外界噪声干扰导致智能卡接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，读卡器模块，噪声生成模块，测试方法包括在读卡器发送正确数据的各个阶段加入噪声干扰，并测试非接触智能卡的抗干扰能力。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106645986A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611076877.4
申请日：2016-11-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，公开了一种场强测量设备，应用于测量非接读卡器场强，该设备具有场强测量，距离测量，载波频率测量三个测量功能，能够离线存储测量结果，并支持测量结果的查询；作为一种手持测量设备，可应用于不同的测量场景，与传统应用示波器测量场强相比，便携性强，可靠性高，精度高。
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公开(公告)号：CN113759237A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202111149062.5
申请日：2021-09-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，智能卡功耗波动对13.56Mhz载波的异常扰动，导致读卡器接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，可配置接收灵敏度的读卡器模块，测试方法包括读卡器向智能卡发送命令启动智能卡执行大功率运算，通过配置不同的读卡器接收灵敏度，在智能卡执行运算期间检测智能卡引起的13.56Mhz载波扰动对读卡器接收的影响。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。
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公开(公告)号：CN106646039B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201611100535.1
申请日：2016-12-02
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，易受到外界噪声干扰导致智能卡接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，读卡器模块，噪声生成模块，测试方法包括在读卡器发送正确数据的各个阶段加入噪声干扰，并测试非接触智能卡的抗干扰能力。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。
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公开(公告)号：CN115495292A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211002863.3
申请日：2022-08-19
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 刘丽丽
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种NFC控制器芯片测试装置及方法。该NFC控制器芯片测试装置包括：主控模块，时序控制模块，增加了同步电路及测试启动电路的NFCC测试模块，其中NFCC测试模块包括非接Reader测试模块，非接Card测试模块，7816测试模块，SPI测试模块，I2C测试模块，SWP测试模块，也可以根据应用再加入其它测试模块。该测试装置还包括PC端的存储介质。本发明通过设计整套测试硬件及测试程序，实现对NFC控制器芯片的各个接口的协同测试，包括同步测试，以及按测试方案设计时序的分步测试。本发明涉及到NFC控制器芯片的测试验证领域，应用于NFC控制器芯片的接口功能和性能的测试，确保NFC控制器芯片功能正确性，协同处理的正确性，提升芯片的兼容性和易用性。
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公开(公告)号：CN103913646A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201210595903.X
申请日：2012-12-28
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及测试验证领域，提供一种非接触通信芯片(包括但不局限于高频非接触卡芯片和非接触读卡器芯片)的高低温测试装置，在保证被测非接触芯片的原有通信模式的前提下，解决了射频场受周围金属、其它射频信号的影响、受空间限制的问题，在对于射频通信来说较恶劣的通信环境中，提高测试验证的效率和结果稳定性。
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