与测试设备一起使用的加强组件

    公开(公告)号:CN101652668A

    公开(公告)日:2010-02-17

    申请号:CN200780048715.2

    申请日:2007-12-08

    CPC classification number: G01R1/07378

    Abstract: 在本文中提供了一种与测试装置一起使用的加强组件。在某些实施例中,一种与测试设备一起使用的加强装置包括:内构件;与内构件主要成间隔开的关系设置的外构件;以及用于使内构件和外构件相对于彼此定向的多个对准机构,其中对准机构将施加到内构件的下表面的力传递给外构件,并在内外构件之间提供主要的导热通道。

    旋转接触元件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101569060A

    公开(公告)日:2009-10-28

    申请号:CN200780048252.X

    申请日:2007-12-06

    Inventor: E·D·霍博斯

    CPC classification number: G01R1/06716 G01R1/06733 Y10T29/49128

    Abstract: 本文提供旋转接触元件及其制造方法。在一个实施例中,一种旋转接触元件包括:针尖,其具有被配置成接触要测试器件的第一面和相反的第二面;以及多个变形的构件,其从针尖的第二面延伸且围绕其中心轴排列,其中针尖在多个变形的构件被压缩时基本围绕该中心轴旋转。

    用于间接平面化的方法和装置

    公开(公告)号:CN101517423A

    公开(公告)日:2009-08-26

    申请号:CN200780035959.7

    申请日:2007-09-27

    CPC classification number: G01R1/07364

    Abstract: 此处提供用于间接平面化衬底的方法和装置。在一个实施例中,用于间接平面化探针卡组件的装置包括:用于控制施加到探针卡组件的探针衬底的力的调整部分;被配置为在与调整部分横向地偏移的位置上向探针衬底施加力的施力部分;以及将调整部分耦合到施力部分的机构。

    调整机构
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101501513A

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200780029051.5

    申请日:2007-08-01

    Abstract: 一种探针板组件,该组件包括支承结构,多个探针可直接地或间接地附连到支承结构。探针可设置成接触要被测试的电子器件。探针板组件还可包括致动器,这些致动器可构造成有选择地改变支承结构相对于基准结构的姿势。探针板组件还可包括多个可锁定的顺从结构。在未锁定时,可锁定的顺从结构可允许支承结构相对于基准结构运动。然而在锁定时,顺从结构可对支承结构相对于基准结构的运动提供机械抗力。

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