公开(公告)号：CN101506671A

公开(公告)日：2009-08-12

申请号：CN200680050610.6

申请日：2006-12-04

Applicant: 佛姆法克特股份有限公司

Inventor： B·N·埃尔德里奇 ,  E·D·霍博斯 ,  G·L·马修 ,  M·S·欣德 ,  A·H·斯洛克姆

IPC: G01R31/02

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01R31/31905

Abstract: 可以相对于探针卡组件的元件调节探针卡组件的探针，该元件可以是探针卡组件的这样一个元件，它能够使探针卡组件更容易地安装到测试装置上。然后，探针卡组件可以被安装在测试装置中，并且可以相对于测试装置(比如测试装置的结构部分或连接到测试装置的结构元件)来调节探针卡组件的取向。

公开(公告)号：CN100578860C

公开(公告)日：2010-01-06

申请号：CN200580027426.5

申请日：2005-06-15

Applicant: 佛姆法克特股份有限公司

Inventor： B·N·埃尔德里奇 ,  B·巴斯克斯 ,  M·S·欣德 ,  G·L·马蒂厄 ,  N·A·斯帕克

IPC: H01R11/18

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R1/0416 ,  G01R1/07307

Abstract: 一种晶片测试组件包括分块排列的多个探针头基片，其中连接器附加于一侧而探针在相反侧得到支撑。在一实施方式中，柔性电缆连接器将探针头块上的连接器直接连接于测试头，而在另一实施方式中柔性电缆将探针头块连接于向探针头连接器提供水平布线的PCB。在一实施方式中，校平销提供连接于附加在块上的夹持元件的简化支撑结构，以用于施加推-拉校平力。测试头连接器接口框架使测试头和探针卡之间的连接器重新排列，以提供全晶片接触或部分晶片接触。测试头连接器通过可在轨道上滑动、或可插入并可不插入来重新排列，从而允许一定范围的位置上移动。

公开(公告)号：CN101002363A

公开(公告)日：2007-07-18

申请号：CN200580027426.5

申请日：2005-06-15

Applicant: 佛姆法克特股份有限公司

Inventor： B·N·埃尔德里奇 ,  B·巴斯克斯 ,  M·S·欣德 ,  G·L·马蒂厄 ,  N·A·斯帕克

IPC: H01R11/18

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R1/0416 ,  G01R1/07307

Abstract: 一种晶片测试组件包括分块排列的多个探针头基片，其中连接器附加于一侧而探针在相反侧得到支撑。在一实施方式中，柔性电缆连接器将探针头块上的连接器直接连接于测试头，而在另一实施方式中柔性电缆将探针头块连接于向探针头连接器提供水平布线的PCB。在一实施方式中，校平销提供连接于附加在块上的夹持元件的简化支撑结构，以用于施加推－拉校平力。测试头连接器接口框架使测试头和探针卡之间的连接器重新排列，以提供全晶片接触或部分晶片接触。测试头连接器通过可在轨道上滑动、或可插入并可不插入来重新排列，从而允许一定范围的位置上移动。