一种蒸发源装置、蒸镀设备及蒸镀方法

    公开(公告)号:CN114318238B

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202111651965.3

    申请日:2021-12-30

    IPC分类号: C23C14/24 C23C14/54

    摘要: 本发明公开一种蒸发源装置、蒸镀设备及蒸镀方法,该蒸发源装置包括:坩埚,用于容纳蒸镀材料,所述坩埚设有用于输出所述蒸镀材料的多个喷口,多个所述喷口至少排列为一排;风扇部件,可转动地设置于所述坩埚的喷口处,以使所述蒸镀材料通过所述风扇部件向外喷射;加热部件,用于对所述坩埚内的蒸镀材料进行加热气化;以及多个驱动装置,分别用于驱动所述风扇部件旋转。本发明的蒸发源装置通过对风扇部件的转速控制,可对坩埚内压进行调控,从而调控蒸镀材料喷出的范围,随着风扇部件的旋转速度增加,喷射蒸镀材料的区域越集中,该区域内的材料沉积的越多,从而调整该区域的膜层厚度。

    温度检测装置及蒸镀设备
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113355639A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202110637531.1

    申请日:2021-06-08

    IPC分类号: C23C14/24 C23C14/54

    摘要: 本申请公开了一种温度检测装置及蒸镀设备,其中,温度检测装置,包括第一温度检测单元,用于设置在所需测温的工作腔内;第二温度检测单元,用于设置在所述工作腔外;测量单元,用于设置在所述工作腔外,至少确定所述第一温度检测单元或所述第二温度检测单元的检测温度;连接选择单元,用于设置在所述工作腔外,通过连接导线,选择性的将所述第一温度检测单元或所述第二温度检测单元与所述测量单元电连接。由于连接选择单元可以通过连接导线,选择性的将所述第一温度检测单元或所述第二温度检测单元与所述测量单元电连接,就可以在工作腔不停机的情况下来定位异常是出现在温度检测单元,还是出现在与温度检测单元连接的导线。

    晶振盘结构及其使用方法

    公开(公告)号:CN114395755B

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202210015407.6

    申请日:2022-01-07

    IPC分类号: C23C14/54 C23C14/24

    摘要: 本发明涉及OLED制备技术领域,公开了一种晶振盘结构及其使用方法,该结构包括外壳、盘体、和驱动组件;盘体包括内圆和外环;驱动组件包括第一驱动装置以及第二驱动装置,第一驱动装置用于驱动内圆旋转,第二驱动装置用于驱动外环旋转;内圆的第一面设有多个晶振片,内圆的第二面设有多个第一电极,多个第一电极与多个设置于内圆的第一面的晶振片一一对应设置;外环的第一面设有多个晶振片,外环的第二面设有多个第二电极,多个第二电极与设置于外环的第一面的晶振片一一对应设置,第一电极和第二电极用于模拟数据传输;盘体安装于外壳,外壳上具有通孔,通孔用于将一个位于内圆的晶振片和/或一个位于外环的晶振片露出。

    温度检测装置及蒸镀设备
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113355639B

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202110637531.1

    申请日:2021-06-08

    IPC分类号: C23C14/24 C23C14/54

    摘要: 本申请公开了一种温度检测装置及蒸镀设备,其中,温度检测装置,包括第一温度检测单元,用于设置在所需测温的工作腔内;第二温度检测单元,用于设置在所述工作腔外;测量单元,用于设置在所述工作腔外,至少确定所述第一温度检测单元或所述第二温度检测单元的检测温度;连接选择单元,用于设置在所述工作腔外,通过连接导线,选择性的将所述第一温度检测单元或所述第二温度检测单元与所述测量单元电连接。由于连接选择单元可以通过连接导线,选择性的将所述第一温度检测单元或所述第二温度检测单元与所述测量单元电连接,就可以在工作腔不停机的情况下来定位异常是出现在温度检测单元,还是出现在与温度检测单元连接的导线。