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公开(公告)号:CN105118803B
公开(公告)日:2019-01-22
申请号:CN201510519811.7
申请日:2015-08-21
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC: H01L21/683
Abstract: 本发明涉及一种顶针机构及支撑装置。所述顶针机构包括下支撑单元以及与所述下支撑单元连接的上支撑单元;所述下支撑单元包括至少一个下支撑针,所述上支撑单元包括多个上支撑针,且所述上支撑单元中的上支撑针的数量大于所述下支撑单元中的下支撑针的数量。上述顶针机构可以降低基板的变形幅度,使基板不与下部壁板接触,还可以获得更好的工艺效果;同时所述上支撑针更换方便快捷。
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公开(公告)号:CN105261317B
公开(公告)日:2018-05-29
申请号:CN201510596121.1
申请日:2015-09-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明提供一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。所述数据线短接不良的检测方法用于检测相邻的数据线是否存在短接,以及确定短接发生的位置,所述检测方法包括:仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号,将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮;检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮;在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时,识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素,并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线,该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。上述检测方法可以检测数据线短接不良的位置,从而可以通过修复数据线不良,提供产品的良率。
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公开(公告)号:CN105261317A
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201510596121.1
申请日:2015-09-17
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC: G09G3/00
Abstract: 本发明提供一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。所述数据线短接不良的检测方法用于检测相邻的数据线是否存在短接,以及确定短接发生的位置,所述检测方法包括:仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号,将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮;检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮;在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时,识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素,并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线,该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。上述检测方法可以检测数据线短接不良的位置,从而可以通过修复数据线不良,提供产品的良率。
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公开(公告)号:CN105118803A
公开(公告)日:2015-12-02
申请号:CN201510519811.7
申请日:2015-08-21
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方显示技术有限公司
IPC: H01L21/683
CPC classification number: H01L21/6875 , H01L21/68742 , H01L21/68792 , H01L21/68764 , H01L21/68785
Abstract: 本发明涉及一种顶针机构及支撑装置。所述顶针机构包括下支撑单元以及与所述下支撑单元连接的上支撑单元;所述下支撑单元包括至少一个下支撑针,所述上支撑单元包括多个上支撑针,且所述上支撑单元中的上支撑针的数量大于所述下支撑单元中的下支撑针的数量。上述顶针机构可以降低基板的变形幅度,使基板不与下部壁板接触,还可以获得更好的工艺效果;同时所述上支撑针更换方便快捷。
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