-
公开(公告)号：CN114511197B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202210026036.1
申请日：2022-01-11
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种标准曲面特征参数评价算法的评定方法，属于计量软件算法评定领域。本发明基于典型标准曲面的几何特征量标准方程进行点集采样，对采样获得的若干离散点集添加符合正态分布的随机扰动，获得一系列标准输入数据，同时考虑点集受空间分布位置及姿态的影响，将点集进行旋转和平移，得到系列标准输入数据集；针对标准数据集建立参数化特征模型并求解相关参数，利用最小二乘拟合算法使得偏移误差的平方和最小，计算出被测对象的形状误差；并与待评定算法得到的曲面参数进行比较，得到评定结果，进行算法输出修正。本发明涵盖参数全、可靠性高，解耦设备硬件等因素对软件评价结果的影响，可实现标准曲面几何量参数评价算法的溯源。
-
公开(公告)号：CN119492751A
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202411596330.1
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/954 , G01N21/88 , G01N21/01 , G06T7/00 , G06V10/762 , G06V10/26
Abstract: 本发明公开了一种筒状内壁表面缺陷自动测量装置和识别评价方法，装置包括测量单元、支撑平台、运动平台、加长轴和控制系统；测量单元包括一组或多组激光轮廓传感器，搭载在加长轴的末端，用于测量被测工件的内壁表面的形貌数据，测量单元通过加长轴与运动平台相连接，支撑平台为V型支撑平台，用于放置被测工件；运动平台包括X轴直线运动平台、Z轴直线运动平台和回转轴运动平台，测量单元能够通过运动平台的运动实现水平扫描测量和回转扫描测量以及测量范围的调整；控制系统用于对X轴直线运动平台、Z轴直线运动平台和回转轴运动平台进行闭环反馈控制。本发明能够高精度高效率地实现筒状内壁表面缺陷的自动测量、识别和评价。
-
公开(公告)号：CN115655174A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211220828.9
申请日：2022-10-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种叶片叶根倒角圆半径参数的测量方法，属于航空发动机测试领域。本发明通过测量获取叶根区域的三维坐标点，生成三维网格数据，构造初始截平面并进行空间旋转，截平面与三维网格数据相交构造拟合圆，利用三维点云数据迭代逼近拟合的方法计算半径，实现对叶片叶根倒角圆半径参数测量。本发明使用叶片三维模型结合接触式或非接触式测量方式扫描叶根倒角圆区域，没有增加硬件成本和人员成本，减少测具的使用，测量效率高，能够满足批量测量的需求。本发明通过构造网格拓扑关系、交点点集、拟合圆等关系能够进一步提高测算的精度和操作便利性。本发明适合于各类风扇、压气机、涡轮和整体叶盘叶片的叶根倒角圆半径的测量。
-
公开(公告)号：CN115597526A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211055839.6
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所(CN)
IPC: G01B11/28
Abstract: 本发明公开的一种基于点云数据的导向器喉道面积测算方法，属于几何参数精密测量领域。本发明包括导向器的扫描测量数据文件进行解析和拓扑关系重建、涡轮导向器的点云数据的自动分割、双联导向叶片喉道面积的计算和涡轮导向器喉道面积的输出。本发明通过构造空间平面与双联导向叶片的相交方法求得的喉道面积，不涉及经验公式，测算精度更高。本发明通过叶片的圆柱面截面数据的自动分割结果“衍射”出涡轮导向器的点云数据自动分割出全部相邻的双联导向叶片数据，避免分割点云的人为操作，在利用双联导向叶片数据集计算叶片喉道面积基础上求出涡轮导向器的喉道面积。本发明还具有重复性强、测量效率高和测量周期短、避免叶片表面划伤等优点。
-
公开(公告)号：CN119469010A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411596213.5
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种旋转平台角位置参数校准方法，包括：将待校准的旋转平台与坐标测量机连接，将多个高精度定位标准球固定在待校准的旋转平台的四周；通过坐标测量机测量所述高精度定位标准球，计算并确定所述旋转平台静止时的初始坐标系；使所述旋转平台的回转轴和俯仰轴按固定角度间隔运动，通过坐标测量机测量每次运动后的高精度定位标准球，建立回转轴和俯仰轴运动后位姿坐标系；通过高精度定位标准球的姿态变化，对回转轴和俯仰轴的角位置参数进行精密校准。本发明能够利用坐标测量机原位校准角位置参数，提高被测旋转轴角位置参数的校准效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119468975A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411596223.9
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种零件三维自动扫描测量装置及方法，所述装置包括协作机器人、多线激光扫描仪、电动转台以及信息交换处理装置；多线激光扫描仪用于对零件进行扫描，得到零件的实测模型；协作机器人用于夹持固定多线激光扫描仪；电动转台用于承载被测零件，能够调整旋转角度；信息交换处理装置用于控制多线激光扫描仪、协作机器人和电动转台执行规划的扫描路径得到实测模型，识别孔洞特征及扫描缺失区域，计算扫描有效率，规划二次扫描路径，直到扫描有效率达到设定值，信息处理装置包括坐标系标定及转换模块、粗扫描路径规划模块和二次精细扫描路径模块。本发明能够自动规划粗扫描路径和二次扫描路径，提高自动扫描的效率，减少人为操作的误差。
-
公开(公告)号：CN117629117A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311584849.3
申请日：2023-11-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B15/00 , G06T7/10 , G06T7/62 , G06T7/60 , G06T7/70 , G01B21/00 , G01B21/14 , G01B21/22 , G01B21/20
Abstract: 本发明公开了一种叶片气膜孔测量和评价方法，包括：利用复合测量射线坐标机对叶片气膜孔进行测量，得到叶片气膜孔的测量点云数据；对叶片气膜孔MBD模型文件进行解析，建立叶片气膜孔的理论设计参数表；基于解析建立的叶片气膜孔理论设计参数表，对叶片气膜孔的测量点云数据进行自动分割，得到叶片中每个气膜孔的实测点云数据；基于自动分割后的叶片气膜孔实测点云数据，进行气膜孔圆柱面的拟合和评价，得到气膜孔的几何参数。本发明能够实现叶片气膜孔的高精度测量和气膜孔几何参数的自动评价。
-
公开(公告)号：CN114511197A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202210026036.1
申请日：2022-01-11
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种标准曲面特征参数评价算法的评定方法，属于计量软件算法评定领域。本发明基于典型标准曲面的几何特征量标准方程进行点集采样，对采样获得的若干离散点集添加符合正态分布的随机扰动，获得一系列标准输入数据，同时考虑点集受空间分布位置及姿态的影响，将点集进行旋转和平移，得到系列标准输入数据集；针对标准数据集建立参数化特征模型并求解相关参数，利用最小二乘拟合算法使得偏移误差的平方和最小，计算出被测对象的形状误差；并与待评定算法得到的曲面参数进行比较，得到评定结果，进行算法输出修正。本发明涵盖参数全、可靠性高，解耦设备硬件等因素对软件评价结果的影响，可实现标准曲面几何量参数评价算法的溯源。
-
公开(公告)号：CN117629117B
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202311584849.3
申请日：2023-11-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B15/00 , G06T7/10 , G06T7/62 , G06T7/60 , G06T7/70 , G01B21/00 , G01B21/14 , G01B21/22 , G01B21/20
Abstract: 本发明公开了一种叶片气膜孔测量和评价方法，包括：利用复合测量射线坐标机对叶片气膜孔进行测量，得到叶片气膜孔的测量点云数据；对叶片气膜孔MBD模型文件进行解析，建立叶片气膜孔的理论设计参数表；基于解析建立的叶片气膜孔理论设计参数表，对叶片气膜孔的测量点云数据进行自动分割，得到叶片中每个气膜孔的实测点云数据；基于自动分割后的叶片气膜孔实测点云数据，进行气膜孔圆柱面的拟合和评价，得到气膜孔的几何参数。本发明能够实现叶片气膜孔的高精度测量和气膜孔几何参数的自动评价。
-
公开(公告)号：CN118836772A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202411154514.2
申请日：2024-08-21
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤低相干干涉的三维形貌测量装置及方法，所述装置包括扫频光源、耦合器、环形器、参考臂、测量臂、信号探测及处理模块和指示光源；扫频光源通过光纤与第一耦合器连接，第一耦合器通过光纤分别与第一环形器和第二环形器的第一接口连接，第一环形器和第二环形器的第二接口分别通过光纤与参考臂和测量臂连接，第一环形器和第二环形器的第三接口通过光纤与第二耦合器连接，第二耦合器通过光纤与信号探测及处理模块连接，待测样品放置在测量臂中，指示光源发出的光经第三耦合器进入测量臂，在待测样品上形成指示光斑。本发明能够快速、高精度地实现带有微小孔的待测样品的孔内几何特征参数和孔外其他区域缺陷检测。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
12
records
(took 0.051 seconds)
