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公开(公告)号:CN118693008A
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202410723628.8
申请日:2024-06-05
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: H01L23/34 , H01L23/427
Abstract: 本发明提出一种电子芯片温度调控结构及其温度调控方法,其结构包括:半导体材料基芯片、加热电阻、温度传感器、金属外壳及回液柱,其中:加热电阻、温度传感器集成在芯片上或芯片所处的散热结构金属基蒸发面上;金属外壳呈凹形,其凹底装配有回液柱,回液柱周围烧结金属粉末形成吸液芯结构;芯片的背面与金属外壳形成空腔,内灌充工质;加热电阻与温度传感器与外部控制器相连。外部控制器接收温度测量信息,当温度超过阈值则对加热电阻加电、使其对内部工质加热;工质吸收热量转变为气相,接触到金属壳体及回液柱后冷凝转为液态,将热量传导出去。本发明具有低功耗、可实现多工况下自适应高效温度调节的优点,并且与芯片的常规封装方式可兼容。
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公开(公告)号:CN116245413A
公开(公告)日:2023-06-09
申请号:CN202310194155.2
申请日:2023-02-24
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06Q10/0635 , G06Q50/04
Abstract: 电子元器件生产厂供应能力的评价系统及方法,包括:评价因素确定模块,建立供应能力评价因素集U;评价等级划分模块对各评价因素给出评价等级并得到等级矢量V;评价因素权重确定模块,利用层次分析法确定各评价因素的权重得到模糊权矢量A;模糊关系矩阵确立模块,基于所述评价因素确定每个评价因素对全部评价因素的隶属程度,根据所述隶属程度得到模糊关系矩阵R;多指标综合评价模块,利用模糊合成算子将模糊权矢量A与模糊关系矩阵R合成得到各被评价对象的模糊综合评价结果矢量B,根据模糊综合评价结果矢量B和等级矢量V相乘确定综合评价成绩;基于综合评价成绩得到元器件的稳定供应风险项。本发明可评价生产厂稳定供应能力,找到风险项。
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公开(公告)号:CN116910995A
公开(公告)日:2023-10-20
申请号:CN202310773439.7
申请日:2023-06-27
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F30/27 , G06F18/10 , G06F18/214 , G06F119/02
Abstract: 本发明涉及一种基于Pyraformer模型的二极管可靠性分析方法,属于微电子技术领域;选择反向漏电流、正向导通电流和正向导通压降作为特征数据;对特征数据进行异常值的处理;对特征数据进行降噪处理;对特征数据进行特征缩放处理;对特征数据进行集合划分;扩大训练集的规模;建立Pyrafomer模型;获得高精度Pyraformer模型;判断高精度Pyraformer模型是否建立完成;将后续采集的正向导通电流和正向导通压降作为高精度Pyraformer模型的输入,输出二极管的反向漏电流,后续根据反向漏电流实现对二极管可靠性的分析;本发明提高了模型的计算效率和精度,减少可靠性计算成本,同时解决传统建模方法在处理复杂和非线性关系时的困难。
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