公开(公告)号：CN119849404A

公开(公告)日：2025-04-18

申请号：CN202411821384.3

申请日：2024-12-11

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 魏志超 ,  王博 ,  梅博 ,  孙毅 ,  吕贺 ,  张海明 ,  张延伟 ,  张洪伟 ,  孙明

IPC: G06F30/367 ,  G16C10/00

Abstract: 本发明公开了一种双极型带隙基准电路单粒子效应自动化仿真方法，包括：S1，对电路网表文件进行分析，提取出晶体管名称和节点信息；S2，对电路进行直流特性仿真，得到各晶体管的直流工作点，并确定各晶体管的类型；S3，建立晶体管模型，进行管级单粒子效应仿真，得到晶体管级单粒子效应仿真结果；S4，建立瞬态脉冲波形数据库、峰值数据库；S5，筛选得到敏感晶体管；S6，选取一个敏感晶体管，提取得到其对应的瞬态脉冲数据；S7，对电路网表文件进行修改，并进行电路级单粒子瞬态特性仿真，得到瞬态特性仿真结果数据；S8，重复上述步骤S6～S7，得到全部敏感晶体管对应的瞬态特性仿真结果数据。本发明实现了模拟类器件效应薄弱环节定位。

公开(公告)号：CN114218758B

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202111404835.X

申请日：2021-11-24

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 屈若媛 ,  张海明 ,  吕倩倩 ,  张伟 ,  张延伟 ,  张磊 ,  肖波 ,  祝名 ,  谷瀚天

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 一种用于形式验证的宇航通用门级逻辑建模方法，对宇航级大规模集成电路的抗辐射加固逻辑门电路进行抗辐射冗余特点分析和建模，可基于该模型对宇航级大规模集成电路进行基于形式验证的安全属性评测和逻辑完备性检查，解决了空间辐射环境和航天器高可靠应用条件下的宇航大规模集成电路安全属性评测难题，操作简便、自动化程度高、评测效率高，减少了评测的操作环节，提高了评测的可操作性。

公开(公告)号：CN114548026A

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：CN202111404836.4

申请日：2021-11-24

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 屈若媛 ,  薄鹏 ,  张伟 ,  张延伟 ,  张磊 ,  祝名 ,  谷重阳 ,  姜贸公 ,  李培蕾

IPC: G06F30/398 ,  G06F30/3947

Abstract: 一种用于多阱嵌套CMOS工艺版图级漏电自动检查方法，通过对多阱嵌套CMOS工艺下阱间寄生产生机理，在传统CMOS BSIM 3V3仿真四端口模型的基础上，增加阱间寄生效应建模的两端口，同时改进了成熟EDA设计检查规则，可实现对多阱嵌套工艺版图的阱间寄生效应进行自动排查，可有效对版图进行全局漏电识别，操作简便、自动化程度高、评测效率高，减少了因阱间漏电导致的再流片周期和成本损失，提高了评测可操作性和裸片可靠性。

公开(公告)号：CN102565669B

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201110409851.8

申请日：2011-12-09

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 张磊 ,  龚欣 ,  夏泓 ,  张延伟 ,  孙吉兴 ,  陈雁 ,  王旭 ,  张伟 ,  段超 ,  刘豫东

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种数字信号处理器件的结构分析方法，包括：将数字信号处理器件分解成各个结构单元；对于各个结构单元的结构要素进行评价。本发明能够克服现有的基于试验项目的结构分析方法在分析覆盖性和深度方面的不足。

公开(公告)号：CN103115868A

公开(公告)日：2013-05-22

申请号：CN201310072232.3

申请日：2013-03-07

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 王旭 ,  段超 ,  陈雁 ,  孟猛 ,  龚欣 ,  张伟 ,  姬青 ,  张延伟

IPC: G01N19/04

Abstract: 本发明公开了一种器件芯片拉脱力测试的固定装置，该装置包括一底座，底座上套入一旋转握持器，还包括一紧固螺钉用于垂直方向上固定旋转握持器。所述的旋转握持器上配装有夹持器及支架，一芯片粘接器穿过支架上的孔并固定其上。该装置结构简单，安装方便，垂直精度高，可靠性强，测试精度高，制造成本低廉，市场前景好。

公开(公告)号：CN102564944A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN201110409635.3

申请日：2011-12-09

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 陈雁 ,  张伟 ,  王建国 ,  张延伟 ,  孙吉兴 ,  龚欣 ,  王旭 ,  段超 ,  刘豫东

IPC: G01N19/04

Abstract: 本发明提供了一种用于精准弯曲印刷电路板的装置，包括：基座；基座上的两个垫片，用于承载印刷电路板；千分尺，包括旋转部、固定部以及与旋转部相连动的轴部；固定臂，固定到基座上，用于固定千分尺的固定部；压块，可旋转地固定到千分尺的轴部上。

公开(公告)号：CN119788579A

公开(公告)日：2025-04-08

申请号：CN202411753401.4

申请日：2024-12-02

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 万旺 ,  屈若媛 ,  庄仲 ,  张大宇 ,  张松 ,  祝名 ,  张延伟

IPC: H04L43/50 ,  H04L12/40

Abstract: 本发明涉及一种1553B总线安全性测试装置，包括一个BC节点、两个RT节点、一个MT节点以及一个伪装节点。伪装节点接入总线，同时伪装节点能够动态切换BC模式和RT模式，在BC模式时，伪装节点发出与正常BC节点不同的数据，发起总线控制行为；在RT模式时，伪装节点地址将会被配置为总线中已存在的RT节点地址，模拟RT节点功能访问总线。采用本发明的装置可用于1553B总线协议架构安全性评测，检测1553B总线中是否存在安全性漏洞，验证总线中是否可嵌入恶意攻击节点，以及总线中的关键节点是否会被攻击者恶意利用，导致关键信息泄露或系统异常等后果。

公开(公告)号：CN116737529A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202211706527.7

申请日：2022-12-29

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 吕贺 ,  梅博 ,  张洪伟 ,  张延伟 ,  孙毅 ,  魏志超 ,  薛玉雄 ,  曹荣幸 ,  于庆奎

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公开了一种多维度的软件数据可靠性验证方法，包括：选取对标软件对应功能，比较其输入输出参数是否一致；测试样本选取；数据存储；数据类型判断；确定评估方案：根据应用目的以及数据特性确定评估方案，具体包括功能的一致性、数据一致性、趋势一致性三个方面，获取所述数据之间的差异，并生成相应的差异性报告；基于数据之间的差异，调整软件的相关参数。本发明解决了针对某特定的数据类型，单一的模型验证方法并不能准确的进行可靠性评估的问题。通过合理的可信度评估流程，人们可以及时修正仿真系统建设和运行过程中的不合理和错误之处，降低仿真应用风险，提高可靠性验证精度。

公开(公告)号：CN116204878A

公开(公告)日：2023-06-02

申请号：CN202211706524.3

申请日：2022-12-29

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 孙佳佳 ,  张延伟 ,  屈若媛 ,  孟猛 ,  龚欣 ,  王旭 ,  吴凯莲 ,  王贺 ,  田阳 ,  张磊

IPC: G06F21/56 ,  G06F21/14

Abstract: 一种基于计算机视觉辅助的硬件木马自动排查判读方法，属于芯片技术领域。本发明在中小规模芯片版图分析中，基于计算机视觉技术，通过版图比对快速高效的识别异常非设计电路结构，由于木马的设计和植入需要引入新的功能结构，如晶体管、三极管等，因此版图比对的重点在于排查新版图结构，重点分析可能被植入硬件木马的版图区域；通过开发自动化版图分析装置，简化芯片异常结构(木马)单元比对提取工作，形成基于计算机视觉辅助自动版图提取、比对模型，以便后续自动客观识别，缩短周期，提高检测效率，减小安全风险。

公开(公告)号：CN104409103A

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201410484659.9

申请日：2014-09-22

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 祝名 ,  张磊 ,  朱恒静 ,  张伟 ,  张延伟

IPC: G11C29/42 ,  G11C29/44

Abstract: 一种宇航用存储器二维编码加固方法，所述加固方法引入了一种低复杂度的多位错误探测和修正方法，所述多位错误探测和修正方法可以对任意多位错误进行探测和修正。所述加固方法步骤如下：步骤1，读入存储器字的宽度，在逻辑连接上把一个位宽为N的字转化为一个(k1,k2)的二维矩阵形式。步骤2，确定二维矩阵的行数k1和列数k2。步骤3，每一行加入水平错误探测码，每一列加入垂直奇偶效验码；步骤4，当存储器的一个字发生多位翻转后，所述水平错误探测码和垂直奇偶校验码分别指示错误出现的行和列，当不连续多位错误的间隔小于L时，所述水平错误探测码仍然可以给出一个错误信号。步骤5，根据修正的信息位修正所在的信息位，修正完毕。