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公开(公告)号：CN119233069A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411353460.2
申请日：2024-09-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N23/60
Abstract: 本发明涉及成像系统技术领域，尤其涉及一种具有高电磁兼容性能的成像系统，包括配电器、线阵焦面组、面阵焦面组、成像处理器组、激光器组和控制器，配电器接收外部输入的一次电源，为各设备提供二次电源的独立供电；各设备的机壳均与各自对应线缆的屏蔽地连接，同时各设备的机壳均与舱板连接；配电器内部的二次地和激光器组内部的二次地均不与自身的机壳连接；线阵焦面组内部的二次地、面阵焦面组内部的二次地、成像处理器组内部的二次地和控制器内部的二次地均通过铺铜接地方式与自身的机壳压接。本发明能够提高成像系统的电磁兼容性能，还能避免成像系统内各部分之间的相互干扰。
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公开(公告)号：CN119182902A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411205508.5
申请日：2024-08-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及成像系统设计检测技术领域，尤其涉及一种成像系统的设计检测方法，本发明对成像系统的功能模块进行了描述，对于拓扑层次分别从顶层系统和底层具体各模块角度制定了不同的检测策略，制定了设计复核的具体内容和要点以及对应的检测方法；对于设计流程阶段，分别从原理图和线路板两阶段的角度进行各检测项目的制定措施，充分利用原理图的电气规则检测和线路板的分组等长检测和仿真工作进行辅助检测。
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公开(公告)号：CN115170382A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210794336.4
申请日：2022-07-07
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 基于多工作模式低资源占用率的数据处理系统，涉及CMOS探测器应用技术领域，解决现有线阵CMOS探测器实现高行频工作过程中，存在占用较多的逻辑资源，导致出现资源占用率过高等问题，本发明的数据处理系统，对于所有的全色谱段图像数据，仅使用一个写使能和写地址；多光谱谱段使用另一个写使能和写地址；同时相应的乘法操作使用乘法器资源来实现；缓存的数据地址区域是连续递增排布而非留出间隔区域，可大大降低逻辑资源的使用。对于每行的写操作首地址，采用集成的乘法器实现而非使用逻辑资源，进一步降低资源占用率。
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公开(公告)号：CN113179359B
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202110427711.7
申请日：2021-04-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种基于同步字的串行图像数据训练系统，涉及CMOS图像传感器的训练系统，解决现有由于CMOS探测器的温度变化较大或热控措施不能保证探测器在小的温度范围内变化，导致在成像过程中出现由于温漂而出现图像出现乱码现象的问题，该系统包括成像探测器、驱动和控制电路、成像控制器、存储器和数传接口电路；成像控制器产生的驱动和控制信号，经驱动和控制电路后，送入成像探测器；成像探测器输出的数字图像数据，经成像控制器处理后，经数传接口电路输出；包括空闲阶段、基于伴随时钟的位校正阶段、基于伴随时钟的字校正阶段、基于同步字的通道校正阶段以及训练结果的写入阶段；本发明可以适应大范围温度变化，不需要专门进行动态训练。
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公开(公告)号：CN111586324B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202010445752.4
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N5/374 , H04N5/3745 , H04N17/00
Abstract: 一种适应行周期实时变化的串行CMOS图像数据训练方法，涉及CMOS图像数据的训练方法，解决现有CMOS图像数据训练方法无法满足线阵TDI探测器推扫成像的连续行周期调整应用要求的问题，包括CMOS数据训练系统，主要包含CMOS图像传感器和数据处理器两部分组成。数据处理器内部包含iodelay1、iserdes1、数据异步FIFO、控制异步FIFO、gearbox、ram based shifer和控制器组成。控制器作为CMOS数据训练系统的核心，控制各部分协调工作。CMOS图像传感器在控制器的控制下，输出串行图数据经iodelay1、iserdes1、数据异步FIFO、gearbox、ram based shifer最终转换为位宽p的并行图像数据。本发明提出基于可控移位寄存器的改进训练方法，保证单脉冲训练字的正确性，同时保证行周期的连续可调性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111510647B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202010341988.3
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N5/355 , H04N5/3745
Abstract: 一种多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制方法，涉及多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制技术领域，解决现有多谱段TDI图像传感器的电荷转移存在图像的干扰，同时存在全色和多光谱之间的谱段干扰，在控制器内部存在多组的乘法和除法运算，存在占用的资源大或实时性差以及对不同行周期进行编码，对各跳变沿位置进行映射，存在操作复杂等问题，本发明提出将探测器全色的最小行周期对应的最小像素时钟个数为2的整数次幂，在实时计算行周期长度时不需要进行除法运算，仅需要乘法运算后截取高位数据。将各部分进行分区，统计各区域的跳变沿位置，然后进行编码。通过对全色的最小行周期的限定，保证敏感区域内尽可能少的跳变沿位置，减小存储寄存器的使用量。
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公开(公告)号：CN113179359A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110427711.7
申请日：2021-04-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种基于同步字的串行图像数据训练系统，涉及CMOS图像传感器的训练系统，解决现有由于CMOS探测器的温度变化较大或热控措施不能保证探测器在小的温度范围内变化，导致在成像过程中出现由于温漂而出现图像出现乱码现象的问题，该系统包括成像探测器、驱动和控制电路、成像控制器、存储器和数传接口电路；成像控制器产生的驱动和控制信号，经驱动和控制电路后，送入成像探测器；成像探测器输出的数字图像数据，经成像控制器处理后，经数传接口电路输出；包括空闲阶段、基于伴随时钟的位校正阶段、基于伴随时钟的字校正阶段、基于同步字的通道校正阶段以及训练结果的写入阶段；本发明可以适应大范围温度变化，不需要专门进行动态训练。
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公开(公告)号：CN112055157B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202010993503.9
申请日：2020-09-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 多组TDI成像的摄像同步性控制系统，涉及多组成像控制系统，解决现有多组TDI成像系统中，存在增加电缆和连接器的制造成本或存在软行周期长度的变化滞后硬行周期信号等问题，相机控制器通过菊花链结构的422总线经由底台对各成像组进行控制；对于每组成像组，输出独立的行周期信号经由底台进行摄像的同步控制；同时输出一组单端控制信号，经由底台分为n路后分发到n个成像组。在一组单端控制信号中，包含时序复位信号。底台上的时钟源经时钟分路器分为多路后，转换为差分信号送入n个成像组，形成n个同源时钟。本发明可实现各组的摄像同步性偏差在一个像素时钟范围内。
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公开(公告)号：CN112118441B
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202011000049.9
申请日：2020-09-22
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 一种位校正改进的串行CMOS图像数据训练方法，涉及CMOS图像数据训练方法，解决现有高速串行通道进行图像数据的传输中，数据稳定的标准设置不正确，可能出现误判，导致检测出的跳变沿位置错误，引起数据采样位置错误，最终导致训练失败等问题，本发明通过对位校正循环周期长度的限定，保证每次进行数据稳定性检测时iodelay的设置延迟已经发挥作用而且状态已经稳定，避免出现误判或者处于不稳定的过渡阶段。通过对iodelay的延迟次数限定，保证即使仅检测出一个跳变沿位置，也能形成另1个虚拟的跳变沿位置，设置出稳定可靠的采样点位置。本发明避免在检测到第一个跳变沿后检测不到第二个有效的虚拟跳变沿而出现位校正的采样位置不正确。
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公开(公告)号：CN109660790B
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN201811535502.9
申请日：2018-12-14
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 一种TDICMOS探测器的筛选测试方法，涉及一种TDICMOS探测器的筛选测试系统，解决现有技术无法满足高空间分辨率的成像应用的问题，采用CTE和TDI两种工作模式结合的筛选测试方法。针对不同像素增益(电荷电压转换比)及PGA增益，不同温度和不同积分级数及单级积分时间长度下的暗电流将影响测试获得的满阱电荷数，从而获得的最大信噪比和动态范围是不同的，为准确的进行评估，在低温下采用短曝光时间进行暗噪声的测试，在恒定的低温下采用改变入射光能量的方式获得满阱电荷数；然后根据入射的光能量的等效光子数计算最大动态范围和信噪比的成像参数。
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