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公开(公告)号：CN109095280B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201811149841.3
申请日：2018-09-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: B65H61/00
Abstract: 本发明公开了一种导线计米取线装置，包括绕线基座及设置于绕线基座上的两根活动绕线杆，活动绕线杆与绕线基座可拆卸安装连接以调节两根活动绕线杆之间的距离，通过在预设间距的活动绕线杆之间以预设的匝数绕线，以截取准确长度的导线。活动绕线杆与基座之间可拆卸，以改变两根活动绕线杆之间的距离，可通过量具等结构准确的标定活动绕线杆之间的距离，令待截取长度与两根活动绕线杆之间的距离的倍数一致，从而在两根活动绕线杆之间以预设的匝数绕线，以此截取到准确的导线长度，由于活动绕线杆与绕线基座可拆卸安装，活动绕线杆之间的距离可自由调节，当需要截取不同长度的导线时，只需对活动绕线杆之间的距离进行对应的调节即可。
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公开(公告)号：CN115389886A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211212771.8
申请日：2022-09-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及电子元器件测试领域，具体提供了一种电子元器件的耐压测试系统，包括测试工装、高压电源、控制器、温度传感器、湿度传感器、电压变换器、采集卡和上位机；测试工装用于固定被测元器件；高压电源用于接收控制器的控制信号；温度传感器、湿度传感器用于将环境温度、湿度信息转换为电信号后发送给控制器；电压变换器用以将高压电源输出的电压衰减为低压；采集卡用以采集经电压变换器转换的电压数据；上位机用以进行高压电源控制、温湿度实时监控、数据采集和数据存储。本发明中的测试系统可对电子元器件进行耐压测试，满足电子元器件二次筛查的测试数据记录、存储和比对需求。
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公开(公告)号：CN112118441B
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202011000049.9
申请日：2020-09-22
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 一种位校正改进的串行CMOS图像数据训练方法，涉及CMOS图像数据训练方法，解决现有高速串行通道进行图像数据的传输中，数据稳定的标准设置不正确，可能出现误判，导致检测出的跳变沿位置错误，引起数据采样位置错误，最终导致训练失败等问题，本发明通过对位校正循环周期长度的限定，保证每次进行数据稳定性检测时iodelay的设置延迟已经发挥作用而且状态已经稳定，避免出现误判或者处于不稳定的过渡阶段。通过对iodelay的延迟次数限定，保证即使仅检测出一个跳变沿位置，也能形成另1个虚拟的跳变沿位置，设置出稳定可靠的采样点位置。本发明避免在检测到第一个跳变沿后检测不到第二个有效的虚拟跳变沿而出现位校正的采样位置不正确。
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公开(公告)号：CN111326925A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201811539274.2
申请日：2018-12-17
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供一种测试用转接电缆，用于电缆测试设备与待测电缆之间的转接，所述测试用转接电缆包括连接器、延长电缆和多个转接线；所述连接器的一端和所述电缆测试设备可拆卸连接，另一端和所述延长电缆的一端相连，所述延长电缆远离所述转接器的一端上设置有多个转接线插孔，多个所述转接线一一对应插设在多个所述转接线插孔中，每个所述转接线远离所述延长电缆的一端设置有接触件。结构简单，纯机械式连接，成本低廉，操作简便。适配能力强，通过选择不同的转接线能够适用于绝大多数电缆的测试工作。
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公开(公告)号：CN109429440B
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN201710780227.6
申请日：2017-09-01
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种贴片元器件翻面装置，包括：元器件托盒，基座，支撑海绵、振动电机、点按开关和干电池组，所述元器件托盒用于放置待贴片使用的元器件，所述振动电机安装在所述元器件托盒下部中央位置，而所述元器件托盒通过所述支撑海绵安装在所述基座上，所述振动电机、点按开关、干电池组串联，所述干电池组为所述振动电机提供电能。本发明用于SMT生产线上小批量贴片需要手工摆置元器件的场合，是一种可以使贴片元器件翻面的装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112118441A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202011000049.9
申请日：2020-09-22
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 一种位校正改进的串行CMOS图像数据训练方法，涉及CMOS图像数据训练方法，解决现有高速串行通道进行图像数据的传输中，数据稳定的标准设置不正确，可能出现误判，导致检测出的跳变沿位置错误，引起数据采样位置错误，最终导致训练失败等问题，本发明通过对位校正循环周期长度的限定，保证每次进行数据稳定性检测时iodelay的设置延迟已经发挥作用而且状态已经稳定，避免出现误判或者处于不稳定的过渡阶段。通过对iodelay的延迟次数限定，保证即使仅检测出一个跳变沿位置，也能形成另1个虚拟的跳变沿位置，设置出稳定可靠的采样点位置。本发明避免在检测到第一个跳变沿后检测不到第二个有效的虚拟跳变沿而出现位校正的采样位置不正确。
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公开(公告)号：CN110678009A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910935701.7
申请日：2019-09-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本申请公开了一种连接器定位装置，包括主杆、至少两个定位夹具、至少两个横向定位部件以及纵向定位部件；定位夹具用于对印制板进行限位，横向定位部件对连接器的横向两侧进行限位，纵向定位部件对连接器的纵向进行限位；且定位夹具和横向定位部件均可套设在主杆上，并可沿主杆的延伸方向滑动或锁止；纵向定位部件可套设在横向定位部件上，并可沿纵向滑动或锁止。本申请所提供的连接器定位装置，结构简单，属于纯机械式定位工具，能够保证很高的定位精度；并且，通过定位夹具、横向定位部件以及纵向定位部件与主杆的套设，实现模块化设计，无需单独设计定位工装，通过更换各功能模块就可以实现各种型号连接器的精确定位任务。
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公开(公告)号：CN110455158A
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201910881836.X
申请日：2019-09-18
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01B5/06
Abstract: 本发明公开一种印制电路板插装件焊点高度检测工装，包括固定板、安装于固定板下方的检测板和固定于固定板两端并向下延伸的支腿，两个支腿的下端面放置于印制电路板的板面并能够沿板面滑动，检测板下板面高于支腿下端面，且两者之间的垂直距离为工艺要求高度，若检测工装沿印制电路板的板面滑动顺利则焊点高度合格。能够批量完成焊点高度的快速检测，提高工作效率，避免遗漏焊点，保证全部检测，提高产品安全性，避免人为误差，提高产品的可靠性。
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公开(公告)号：CN106527587A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610973426.4
申请日：2016-11-04
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
CPC classification number: G06F1/1643 , G06F1/1671 , G06F3/045
Abstract: 一种元器件位号快速输入装置，涉及电子装联领域，解决了计算机的标准键盘体积大、占用操作空间、重复输入、输入效率低的问题。本发明包括计算机；固定在机械键盘上的触摸屏；设置在机械键盘内部与触摸屏相连的控制器；设置在机械键盘上与控制器相连的USB接口，控制器通过USB接口从计算机中导入元器件位号中的英文字母显示于触摸屏上，控制器接收处理触摸屏的点击信息；设置在机械键盘上与控制器相连的机械按键，控制器接收处理机械按键的点击信息；设置在机械键盘上与控制器相连的PS/2接口，控制器将元器件位号转换为PS/2通讯协议并通过PS/2接口传输到计算机中。本发明体积小、便于携带、操作方便、无需重复输入、效率高。
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公开(公告)号：CN117766408A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311585994.3
申请日：2023-11-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种插装晶体管引脚成形装置，其中底座的顶面设有用于容纳插装晶体管的凹槽，凹槽端部的侧边设有与引脚保护套形状匹配的引脚凹槽，引脚保护套放置在引脚凹槽内，用于压紧插装晶体管本体的元器件本体压板和用于压紧插装晶体管引脚根部的元器件引脚压板分别通过螺丝固定在底座顶面凹槽的上方，且元器件引脚压板上设有观察口；引脚成形压板与插装晶体管引脚相接触的侧面设有供引脚嵌入且横截面为U型的引脚导向槽，引脚导向槽的最大直径与引脚的直径相同，底座的侧面设有对引脚成形压板的下压路径进行限位的挡板。本发明使插装晶体管根部在成形过程中能够免受机械应力损伤，同时具有更好的引脚成形一致性，保证成形质量，提高成形效率。
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