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公开(公告)号：CN114123155B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202111444888.4
申请日：2021-11-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种低噪声TDICMOS成像系统的供电方法，涉及TDICMOS成像技术领域，解决现有供电过程中存在潜通电压高于刷新芯片内核电压后造成刷新芯片启动加载配置，以及点负载的纹波可能造成输出图像的条纹干扰等问题，本发明单独采用一个外部LDO给刷新芯片的内核供电，而且在FPGA等器件的供电已经稳定后，与刷新芯片的IO供电同步使能输出，保证别的供电已经准备好，同时不会由于FPGA与刷新芯片直接的潜通而出现刷新芯片内核有供电电压的情况，保证执行严格的上电时序，不需要上电过程中对复位管脚控制也能自主加载配置成功，即不受外部控制也能加载成功，提供在正常工作的稳定性和可靠性。
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公开(公告)号：CN114123155A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111444888.4
申请日：2021-11-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种低噪声TDICMOS成像系统的供电方法，涉及TDICMOS成像技术领域，解决现有供电过程中存在潜通电压高于刷新芯片内核电压后造成刷新芯片启动加载配置，以及点负载的纹波可能造成输出图像的条纹干扰等问题，本发明单独采用一个外部LDO给刷新芯片的内核供电，而且在FPGA等器件的供电已经稳定后，与刷新芯片的IO供电同步使能输出，保证别的供电已经准备好，同时不会由于FPGA与刷新芯片直接的潜通而出现刷新芯片内核有供电电压的情况，保证执行严格的上电时序，不需要上电过程中对复位管脚控制也能自主加载配置成功，即不受外部控制也能加载成功，提供在正常工作的稳定性和可靠性。
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公开(公告)号：CN111510647B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202010341988.3
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N5/355 , H04N5/3745
Abstract: 一种多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制方法，涉及多谱段TDICMOS的均匀电荷转移控制技术领域，解决现有多谱段TDI图像传感器的电荷转移存在图像的干扰，同时存在全色和多光谱之间的谱段干扰，在控制器内部存在多组的乘法和除法运算，存在占用的资源大或实时性差以及对不同行周期进行编码，对各跳变沿位置进行映射，存在操作复杂等问题，本发明提出将探测器全色的最小行周期对应的最小像素时钟个数为2的整数次幂，在实时计算行周期长度时不需要进行除法运算，仅需要乘法运算后截取高位数据。将各部分进行分区，统计各区域的跳变沿位置，然后进行编码。通过对全色的最小行周期的限定，保证敏感区域内尽可能少的跳变沿位置，减小存储寄存器的使用量。
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公开(公告)号：CN109522259B
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN201811338281.6
申请日：2018-11-12
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 基于空间应用的在轨刷新重注成像系统，涉及一种在轨刷新重注成像系统，解决现有FPGA内部的逻辑单元在空间粒子的轰击下易出现逻辑翻转问题，本发明基于刷新芯片的在轨刷新重注成像系统，具备三种工作模式：FPGA直接从PROM加载，刷新芯片不工作；刷新芯片工作，FPGA间接加载PROM内存储的程序；刷新芯片工作，FPGA加载Flash内已经更新了成像。刷新芯片的串口由受刷新芯片控制的FPGA来进行控制；对于具备主备份的控制系统，采用外部的组合逻辑电路产生配置加载过程的控制信号，并对刷新芯片的管脚进行硬件配置。本发明通过刷新使能功能，在刷新芯片出现故障时可断开刷新电路，保证FPGA稳定可靠的工作。
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公开(公告)号：CN102385330B
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201110218891.4
申请日：2011-08-02
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G05B19/042 , G03B13/34
Abstract: 一种多部空间相机调焦编码器控制系统，属于光电检测技术领域中涉及的一种控制系统。要解决的技术问题是：提供一种多部空间相机调焦编码器控制系统。技术方案包括第一相机调焦编码器头、第二相机调焦编码器头、第三相机调焦编码器头、第四相机调焦编码器头、信号处理电路、微控制器、供电电源；第一至第四调焦编码器头输出的光电信号都与信号处理电路相连，处理电路与微控制器相连，供电电源分别与信号处理电路、微控制器相连，为各部分电路供电。本发明适用于各种民用、工用、军用、航天多编码器的分时控制，实现了编码器的互换，缩小系统电路的体积。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115127782B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202210756887.1
申请日：2022-06-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 探测器高光性能的评估系统及评估方法，涉及一种探测器高光性能的评估方法，解决现有方法进行高光性能检测过程中，当入射光能量增加到所有探测器都饱和时，进一步增加光强后无法检测出图像是否出现异常的问题，为此，在探测器应用前对探测器的高光性能进行测试，评估在轨成像效果，可减小潜在的损失，提高在轨的观测效率。本发明提出基于方向性光源、带黑白图案的滚筒进行探测器的高光性能评估，利用滚筒进行目标的时刻变化，从而可以进行目标亮暗分区的边界进行判断，避免使用积分球在强光目标下所有的像素均进入饱和状态，掩盖了可能出现的拖尾、高光溢出等现象。
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公开(公告)号：CN119183030A
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202411205506.6
申请日：2024-08-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及CMOS图像训练技术领域，尤其涉及一种CMOS图像数据的训练方法，包括低频CMOS图像数据训练和高频CMOS图像数据训练；其中，针对低频CMOS图像数据训练，使用成像控制器内部的本地时钟进行双沿采样器的双沿采样，拓宽采样时钟对串行图像数据的采样范围，获取最佳的采样位置，并针对低频采样状态下可能出现采样区域覆盖不全面而出现的采样区域不连续的情况设置不同的采样点位置，有利于避免温度漂移的影响；针对高频CMOS图像数据训练，使用成像探测器内部的具有与串行图像数据相同延迟特性的伴随时钟进行采样，并针对不同的采样状态设置不同的采样点位置，从而保证系统工作的稳定可靠。
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公开(公告)号：CN118011714A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410417177.5
申请日：2024-04-09
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于空间相机分时成像的切换机构，属于空间观测技术领域，解决了现有切换机构存在的切换速度慢、结构占用空间大的问题。其中切换机构包括切换机构支座、电机、切换旋转轮、第一切换小轴、切换连杆、第二切换小轴、折叠镜组件支撑件、导轨、折叠镜组件、第一霍尔传感器组件、第二霍尔传感器组件和磁钢组件，采用电机进行驱动，通过切换旋转轮、第一切换小轴、切换连杆和第二切换小轴进行传动，使电机驱动折叠镜组件支撑件沿平行于导轨的方向做直线运动，带动折叠镜切入或者切出主光学系统，从而实现面阵成像或者光谱成像。本发明减速比更小，应用于空间相机分时成像时切换速度快，而且复位精度高，空间需求较小。
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公开(公告)号：CN105142320A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510574110.3
申请日：2015-09-10
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H05B37/03
Abstract: 一种串联发光二极管光源故障的在线检测电路，属于发光二极管光源技术领域中涉及的在线检测电路，解决的技术问题是提供一种串联发光二极管光源故障的在线检测电路，解决的技术方案：包括被检LED光源和检测电路。被检光源供电电源+V与限流电阻R一端相连，限流电阻R的另一端与被检串联LED(Da～Dn)相连，被检串联LED(Da～Dn)通过两两LED相连的引出线与测试连接器座的引脚一一相连，测试连接器座与检测电路中的连接器头一对一连接，连接器头与连接线缆连接，连接线缆与支路限流电阻(Ra～Rn)连接，支路限流电阻(Ra～Rn)与串联可见光发光二极管(Dtesta～Dtestn)相连。本发明适用于各种以串联形式连接的LED光源出现短路、开路故障时的在线检测。
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公开(公告)号：CN103968877A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410206329.3
申请日：2014-05-16
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01D18/00
Abstract: 一种星载光电轴角编码器真空实验装置，属于光电传感器检测、实验技术领域中的一种实验装置。要解决的技术问题：提供一种星载光电轴角编码器温度、真空实验装置。技术方案包括电机控制器、步进电机、齿轮组、光电编码器、支撑架、编码器数据处理显示卡。步进电机、齿轮组与光电编码器安装在支撑架上，电机控制器与步进电机相连，控制步进电机正、反向、快、慢速转动；步进电机与齿轮组、安装架相连，转动时带动齿轮组转动；齿轮组与被测编码器、支撑架相连，带动编码器转动；编码器与支撑架、编码器数据处理显示卡相连，将编码器输出的信号采集、处理并显示测角值。该装置用于检测光电编码器在温度、真空情况下的工作状态。
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