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公开(公告)号:CN118263309A
公开(公告)日:2024-06-28
申请号:CN202410544762.1
申请日:2024-04-30
Applicant: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
IPC: H01L29/778 , H01L29/40 , H01L21/335
Abstract: 本发明公开了一种具有p型半导体场板的增强型场效应晶体管及其制备方法。具有p型半导体场板的增强型场效应晶体管包括外延结构、MIS栅极结构以及源极、漏极,外延结构包括至少一异质结,异质结内具有载流子沟道,外延结构的栅极区域设置有栅极凹槽,载流子沟道被栅极凹槽隔断;MIS栅极结构包括p型半导体结构层、栅介质层、栅极和p型半导体场板,当向栅极施加正向电压时,p型半导体结构层内反型产生电子,位于栅极凹槽两侧的载流子沟道经电子电连接;p型半导体场栅极与漏极之间,在关态下,增强型场效应晶体管内部的电场被p型半导体场板束缚在p型半导体场板与漏极之间的区域。该具有p型半导体场板的增强型FET具有更高的可调节阈值电压。
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公开(公告)号:CN116960182A
公开(公告)日:2023-10-27
申请号:CN202310912208.X
申请日:2023-07-24
Applicant: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/06
Abstract: 本发明公开了一种增强型场效应晶体管及其制备方法。增强型场效应晶体管包括外延结构、MIS/MOS栅极结构以及源极、漏极,所述外延结构包括至少一异质结,所述异质结内形成有载流子沟道,所述外延结构的栅极区域设置有栅极凹槽,所述栅极凹槽的槽底位于所述第一半导体层内,槽口位于所述第二半导体层,所述载流子沟道被所述栅极凹槽隔断;所述MIS/MOS栅极结构包括沿所述选定方向依次层叠设置的第三半导体层、栅介质层和栅极,当向所述栅极施加正向电压时,所述第三半导体层内反型产生电子,位于所述栅极凹槽两侧的所述载流子沟道经所述电子电连接。本发明具有更高的栅极正向击穿电压和阈值电压。
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