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公开(公告)号：CN113358946A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110667258.7
申请日：2021-06-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法，包括：N倍频器，输出毫米波太赫兹信号；毫米波/太赫兹双定向耦合器，耦合输出参考信号及测试信号；第一毫米波/太赫兹谐波混频器，对参考信号下变频为中频参考信号；第二毫米波/太赫兹谐波混频器，对测试信号下变频为中频测试信号；毫米波/太赫兹定向耦合器，耦合输出噪声功率；M倍频器；毫米波/太赫兹二次谐波混频器，将噪声功率下变频为中频噪声信号；射频/微波开关，切换测试通道。本发明解决了毫米波/太赫兹频段放大器芯片单次连接同时测量噪声系数和S参数的难题，并将测试参考面校准至探针尖处，真正实现了单次连接，单次校准，测试精度高。
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公开(公告)号：CN112530825A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202011348038.X
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明提供一种在片多参数测量装置，包括：毫米波测试系统；合路器，两个输入端分别连接毫米波测试系统的两个测试输出端，将多频段的测试信号施加至探针台；探针台；BDC组件，射频输入端连接探针台的输出端，射频输出端连接毫米波测试系统的测试输入端，噪声输出端连接所述毫米波测试系统的噪声输入端，通过开关切换使实现在片多参数测量。本发明适用于高达110GHz的晶圆级电性能参数的测试；减小由测试连接线缆等造成的测试误差；采用开关切换的方法提升了测试测量的执行效率，保证BDC组件的组成器件不受损坏；同时支持常温测试以及高低温测试；同时支持无源参数测试以及有源参数测试。
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公开(公告)号：CN113922790A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202111181047.9
申请日：2021-10-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03J3/02
Abstract: 本发明提供一种基于群时延调谐的功率合成电路及信号传输系统，包括：低噪声放大器，将电磁信号进行预防大；群时延调谐模块，通过外部电压调谐的方式来调整器件的群时延特性，从而改变功率放大电路的功率合成效果；峰值检波，连接在输出端用于检测信号输出的最大功率，并配合运放电路以及阈值电压控制电路实现对群时延调谐模块的调谐控制，形成完整的反馈回路。本发明可以有效的提升功率合成电路的合成效果，改善功率放大电路的放大效率，降低功耗，且通过反向调谐的方式还可以在一定程度上实现小范围的增益控制与补偿功能，可以应用于平坦群时延电路以及高功率合成效率的电路中。
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公开(公告)号：CN112636843B
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202011520529.8
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种扩频模块及在片测试系统，包括：微波开关，将激励信号发送至第一或第二倍频器；放大器，对第二倍频信号进行放大；定向耦合器，将信号传输至双定向耦合器；双定向耦合器，将定向耦合器的输出信号的一部分直通输出，另一部分耦合输出作为参考信号，并将测试件的反馈信号通过另一耦合支路耦合输出；衰减器，对第一倍频信号进行衰减得到线性参数，将第二倍频信号直接输出得到非线性参数；第一混频器，产生参考中频信号；第二混频器，产生测试中频信号。本发明采用微波开关切换的方式获得小信号和大信号，同时设置在片高低温探针台，进而在高低温环境下完成毫米波太赫兹放大器芯片的线性和非线性参数幅相误差校准及连续频率扫描测试。
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公开(公告)号：CN113381779B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202110662180.X
申请日：2021-06-15
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种超宽带接收机，包括：射频巴伦，将单端射频信号转换为差分射频信号；超宽带变频组件，基于预设频段的本振信号对差分射频信号进行变频并输出差分中频信号；中频巴伦，连接于超宽带变频组件的输出端，将差分中频信号转化为单端中频信号；中频信号处理模块，连接于中频巴伦的输出端，对单端中频信号进行信号处理。本发明可以有效的减小跨频段宽带接收机的体积，减小了搭建宽带接收机的设备量，减小宽带接收机的链路损耗以及功耗，且通过自动增益补偿的形式，大大提高了长期工作时的功率稳定度，从而具备了直接用于系统集成的特点，有效克服了现有技术的缺点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113552540A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202110976643.X
申请日：2021-08-24
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
IPC: G01S7/02
Abstract: 本发明提供一种三维集成微组装雷达前端模块，包括：载板层，设置有一埋置腔体；信号屏蔽层，设置于所述载板层表面；微波射频电路，设置于所述信号屏蔽层上，且位于所述埋置腔体内；第一层薄膜介质衬底，覆盖于所述信号屏蔽层及所述微波射频电路上；无源传输线，设置于所述第一层薄膜介质衬底上，并通过贯穿所述第一层薄膜介质衬底的通孔与所述微波射频电路电连接；第二层薄膜介质衬底，覆盖于所述无源传输线上；微带贴片天线，设置于所述第二层薄膜介质衬底上，并通过贯穿所述第二层薄膜介质衬底的通孔与所述无源传输线电连接。本发明能实现毫米波探测器收发组件前端模块的小型化与高度集成化。
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公开(公告)号：CN113922790B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202111181047.9
申请日：2021-10-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03J3/02
Abstract: 本发明提供一种基于群时延调谐的功率合成电路及信号传输系统，包括：低噪声放大器，将电磁信号进行预防大；群时延调谐模块，通过外部电压调谐的方式来调整器件的群时延特性，从而改变功率放大电路的功率合成效果；峰值检波，连接在输出端用于检测信号输出的最大功率，并配合运放电路以及阈值电压控制电路实现对群时延调谐模块的调谐控制，形成完整的反馈回路。本发明可以有效的提升功率合成电路的合成效果，改善功率放大电路的放大效率，降低功耗，且通过反向调谐的方式还可以在一定程度上实现小范围的增益控制与补偿功能，可以应用于平坦群时延电路以及高功率合成效率的电路中。
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公开(公告)号：CN114325094B
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202111681561.9
申请日：2021-12-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明提供一种相位信息测量装置及方法，所述测量装置包括：至少一路相位信息测量电路，所述相位信息测量电路包括：功分器，用于对输入信号进行功率分配，生成第一功分信号及第二功分信号；峰值检测电路，连接所述功分器的第一输出端，用于提取所述第一功分信号的峰值电压并转换成数字信号；现场可编程门阵列、阈值控制电路、高速甄别器、第一时间标定电路、过零检测电路、高速触发器、第二时间标定电路、选择器及计数器。本发明的相位信息测量装置可以包括多路相位信息测量电路，并将相位信息转化为时间信息，利用周期信号幅度相位转化的原理进行时间测量，对200MHz以下的信号能够做到高精度的测量。
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公开(公告)号：CN113904647A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111199614.3
申请日：2021-10-14
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种压控群时延调节模块、数控调节电路及射频微波电路，包括：滤波器，接收输入信号，用于选择工作频段并滤除干扰信号；负群时延单元，连接于滤波器的输出端，用于传输信号并调整信号的负群时延特性；第一变容二极管，连接于负群时延单元的主路中，基于第一变容二极管的反向偏压实现对群时延特性的调节；变压器，初级线圈接收第一调谐电压，次级线圈连接于第一变容二极管的两端，用于对第一调谐电压进行变压调节并施加于第一变容二极管的两端，以改变第一变容二极管的反向偏压。本发明通过电压调节，有效调整电路的群时延特性，用于滤波器、放大器乃至射频微波电路的群时延特性补偿，还通过配置外围的DAC电路实现更为精准的数控调节。
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公开(公告)号：CN112530825B
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202011348038.X
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 , 上海明垒实业有限公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明提供一种在片多参数测量装置，包括：毫米波测试系统；合路器，两个输入端分别连接毫米波测试系统的两个测试输出端，将多频段的测试信号施加至探针台；探针台；BDC组件，射频输入端连接探针台的输出端，射频输出端连接毫米波测试系统的测试输入端，噪声输出端连接所述毫米波测试系统的噪声输入端，通过开关切换使实现在片多参数测量。本发明适用于高达110GHz的晶圆级电性能参数的测试；减小由测试连接线缆等造成的测试误差；采用开关切换的方法提升了测试测量的执行效率，保证BDC组件的组成器件不受损坏；同时支持常温测试以及高低温测试；同时支持无源参数测试以及有源参数测试。
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