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公开(公告)号：CN107947774A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711144435.3
申请日：2017-11-17
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03K17/16 , H03K17/567 , H03K17/687
Abstract: 本发明提供一种用于IGBT栅极驱动芯片的LDMOS电平移位dv/dt噪声抑制电路，其中该IGBT栅极驱动芯片包括低压侧窄脉冲产生模块、LDMOS电平移位模块和输出驱动模块，且该输出驱动模块的输出端通过一栅极电阻与一待驱动的IGBT的栅极相连，其特征在于，该噪声抑制电路包括：电压检测电路，其输入端接所述IGBT的栅极；下拉电路，其输入端接所述电压检测电路的输出端；RS触发器，其R端接所述下拉电路的第一输出端，S端接所述下拉电路的第二输出端，Q端接所述输出驱动模块的输入端。本发明利用dv/dt噪声和IGBT栅极电压之间存在的特定关系，通过检测IGBT栅极电压的变化区间实现对dv/dt噪声的滤除。
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公开(公告)号：CN108508342B
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN201810522926.5
申请日：2018-05-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种IGBT短路过流检测电路，其包括：带通滤波器，其与所述第一IGBT的栅极连接；第一比较器，其与所述带通滤波器连接，并接收第一基准电压；T触发器，其与所述第一比较器连接，并输出第一逻辑信号；第二比较器，其与所述第一IGBT的栅极连接，并接收第二基准电压，输出第二逻辑信号；与门，其接收所述第一逻辑信号和第二逻辑信号，并输出硬开启错误检测信号；第三比较器，其与所述第一IGBT的栅极连接，并接收第三基准电压；以及RS触发器，其与所述第三比较器连接，并输出带载短路错误检测信号。本发明可以同时实现IGBT硬开启错误检测和IGBT带载短路检测，并且结构简单易行，节省成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109917179A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910211777.5
申请日：2019-03-20
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R19/25
Abstract: 本发明提供一种电流检测系统，包括一功率器件，其功率发射极和辅助发射极之间连接有低通滤波器，低通滤波器包括滤波器电容和滤波器电阻；采样信号调节电路，与低通滤波器的电容输出端相连；信号整形电路，连接于功率发射极和辅助发射极之间；以及可编程器件，其与采样信号调节电路的输出端和信号整形电路的输出端相连，接收信号整形电路的信号作为启动信号，控制采样信号调节电路进行采样。本发明还提供了一种电流检测方法和一种可编程器件。本发明的电流检测系统可以实现功率器件寄生参数与检测系统的时间常数自动匹配，而不需对每个功率器件的寄生参数进行测量，因此提高了检测精度，并且此检测系统电路结构简单，易于集成。
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公开(公告)号：CN109917179B
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201910211777.5
申请日：2019-03-20
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R19/25
Abstract: 本发明提供一种电流检测系统，包括一功率器件，其功率发射极和辅助发射极之间连接有低通滤波器，低通滤波器包括滤波器电容和滤波器电阻；采样信号调节电路，与低通滤波器的电容输出端相连；信号整形电路，连接于功率发射极和辅助发射极之间；以及可编程器件，其与采样信号调节电路的输出端和信号整形电路的输出端相连，接收信号整形电路的信号作为启动信号，控制采样信号调节电路进行采样。本发明还提供了一种电流检测方法和一种可编程器件。本发明的电流检测系统可以实现功率器件寄生参数与检测系统的时间常数自动匹配，而不需对每个功率器件的寄生参数进行测量，因此提高了检测精度，并且此检测系统电路结构简单，易于集成。
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公开(公告)号：CN107947774B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201711144435.3
申请日：2017-11-17
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03K17/16 , H03K17/567 , H03K17/687
Abstract: 本发明提供一种用于IGBT栅极驱动芯片的LDMOS电平移位dv/dt噪声抑制电路，其中该IGBT栅极驱动芯片包括低压侧窄脉冲产生模块、LDMOS电平移位模块和输出驱动模块，且该输出驱动模块的输出端通过一栅极电阻与一待驱动的IGBT的栅极相连，其特征在于，该噪声抑制电路包括：电压检测电路，其输入端接所述IGBT的栅极；下拉电路，其输入端接所述电压检测电路的输出端；RS触发器，其R端接所述下拉电路的第一输出端，S端接所述下拉电路的第二输出端，Q端接所述输出驱动模块的输入端。本发明利用dv/dt噪声和IGBT栅极电压之间存在的特定关系，通过检测IGBT栅极电压的变化区间实现对dv/dt噪声的滤除。
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公开(公告)号：CN108666981A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201710193706.8
申请日：2017-03-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H02H7/20 , G01R19/165
CPC classification number: H02H7/20 , G01R19/16571
Abstract: 本发明提供一种IGBT过流保护电路及方法，包括：检测待测IGBT的米勒平台的米勒平台识别模块；采集待测IGBT的米勒平台栅极电压，并得到过流保护信号的米勒平台栅极电压提取模块；过流保护信号起效时，将待测IGBT关闭的IGBT栅驱动模块。检测待测IGBT的栅极电压，当检测到米勒平台时，提取待测IGBT的米勒平台栅极电压，并基于待测IGBT的米勒平台栅极电压判断待测IGBT的集电极是否过流，若过流，则关断待测IGBT，实现过流保护。本发明避免使用高压大电流器件，利用IGBT的米勒平台效应，以及IGBT的米勒平台栅极电流与IGBT的集电极电流存在的特定关系，通过检测IGBT的米勒平台栅极电压间接实现对IGBT的集电极电流进行检测，进而实现过流保护，检测成本低、占用体积小、效率高。
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公开(公告)号：CN108508342A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810522926.5
申请日：2018-05-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种IGBT短路过流检测电路，其包括：带通滤波器，其与所述第一IGBT的栅极连接；第一比较器，其与所述带通滤波器连接，并接收第一基准电压；T触发器，其与所述第一比较器连接，并输出第一逻辑信号；第二比较器，其与所述第一IGBT的栅极连接，并接收第二基准电压，输出第二逻辑信号；与门，其接收所述第一逻辑信号和第二逻辑信号，并输出硬开启错误检测信号；第三比较器，其与所述第一IGBT的栅极连接，并接收第三基准电压；以及RS触发器，其与所述第三比较器连接，并输出带载短路错误检测信号。本发明可以同时实现IGBT硬开启错误检测和IGBT带载短路检测，并且结构简单易行，节省成本。
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