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公开(公告)号：CN114035697B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202111418143.0
申请日：2021-11-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明公开了一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置，包括由MCU控制芯片、串口转键盘鼠标芯片、USB键盘鼠标转串口芯片、电源供电电路、电磁干扰滤波及防护电路、MicroSD卡存储器、液晶显示模块、矩阵按键模块、实时时钟电路、蜂鸣器电路、键盘鼠标输入接口、键盘鼠标输出接口、金属机壳，本发明为电磁兼容测试和低辐射抗电磁干扰要求情况下模拟键盘鼠标操作开展自动测试、自动控制等全面自动化提供一种有效可行的装置和方法，具有功能全面、数据存储结构合理、低辐射抗电磁干扰的优点。
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公开(公告)号：CN111931636B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202010786882.4
申请日：2020-08-07
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G06F18/10 , G06F18/213 , G01R31/00
Abstract: 本发明实施例公开了一种基于信号特征计算的滤波器件抑制作用评估方法，涉及信号测试技术领域，该方法包括：获取待进行评估的输入信号以及所述输入信号通过滤波器件后产生的畸变信号；分别计算所述输入信号和所述畸变信号在时域范围上波形的最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性；基于所述输入信号和所述畸变信号在最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性上的比值，形成骚扰相似度计算公式；基于所述骚扰相似度计算公式得到的计算结果，对所述滤波器件的抑制作用进行评估。通过本发明实施例的方案，能通过量化的方式对滤波器件的抑制作用进行评估。
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公开(公告)号：CN115015660A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202210614203.4
申请日：2022-05-31
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆或波导传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。
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公开(公告)号：CN114035697A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202111418143.0
申请日：2021-11-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明公开了一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置，包括由MCU控制芯片、串口转键盘鼠标芯片、USB键盘鼠标转串口芯片、电源供电电路、电磁干扰滤波及防护电路、MicroSD卡存储器、液晶显示模块、矩阵按键模块、实时时钟电路、蜂鸣器电路、键盘鼠标输入接口、键盘鼠标输出接口、金属机壳，本发明为电磁兼容测试和低辐射抗电磁干扰要求情况下模拟键盘鼠标操作开展自动测试、自动控制等全面自动化提供一种有效可行的装置和方法，具有功能全面、数据存储结构合理、低辐射抗电磁干扰的优点。
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公开(公告)号：CN115718224A
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202211099073.1
申请日：2022-09-07
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明涉及一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法，该方法包括根据毫米波频段设备的远场测试环境参数和实际工作环境参数分别计算毫米波频段设备在干燥空气和水汽条件下，远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗；根据毫米波频段设备在远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗以及路径长度计算在远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值；根据计算的远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值，进一步计算毫米波频段设备天线谐波乱真辐射发射的大气特征损耗修正因数；根据修正因数及毫米波频段设备在远场测试环境测试得到的天线谐波乱真辐射发射结果计算得出毫米波频段设备的天线谐波乱真辐射发射修正结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111931636A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN202010786882.4
申请日：2020-08-07
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明实施例公开了一种基于信号特征计算的滤波器件抑制作用评估方法，涉及信号测试技术领域，该方法包括：获取待进行评估的输入信号以及所述输入信号通过滤波器件后产生的畸变信号；分别计算所述输入信号和所述畸变信号在时域范围上波形的最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性；基于所述输入信号和所述畸变信号在最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性上的比值，形成骚扰相似度计算公式；基于所述骚扰相似度计算公式得到的计算结果，对所述滤波器件的抑制作用进行评估。通过本发明实施例的方案，能通过量化的方式对滤波器件的抑制作用进行评估。
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公开(公告)号：CN115389844A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211032020.8
申请日：2022-08-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于电磁兼容测试领域，具体地说，涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法可用于替代传统的远场测试法，该方法包括：步骤1)布置紧缩场测试系统；步骤2)配置测试系统的校验路径；步骤3)计算测试系统的空损Lreal；步骤4)将Lreal与理想空损Lideal进行对比，当Lreal与Lideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；步骤5)配置测试系统的测量路径；步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；步骤7)计算发射机的基波ERP；步骤8)测量谐波和乱真辐射发射ERP的值，并与基波ERP比较，判断待测EUT天线谐波乱真辐射发射是否满足GJB151B的要求，从而完成测试。
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公开(公告)号：CN115047270A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210626148.0
申请日：2022-06-02
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明提供了一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置及方法，包括：对受试IC无电磁干扰工作状态下的第一反馈信号进行采样并进行数据分析，装置根据数据分析结果与装置内预设的IC类型进行比对，识别出受试IC的类型，装置根据受试IC类型对应的预设方式对第一反馈信号进行自适应学习，并得到学习结果数据，装置根据学习结果数据确定受试IC的预设测试项，再对受试IC电磁兼容测试时的第二反馈信号进行采样，并将第二阶段的测试反馈信号与预设测试项和预设测试标准进行实时对比分析，判断受试IC的工作状态是否正常，若判断为否，则发出报警提示。与现有技术相比，本发明的监测结果准确、稳定性和适用性更强、监测范围更全面、智能化程度更高。
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公开(公告)号：CN218122115U
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202221350806.X
申请日：2022-05-31
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。
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公开(公告)号：CN220626531U
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202320570429.9
申请日：2023-03-21
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本实用新型涉及集成电路测试技术领域，提供了一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置，包括：监视辅助主机、本地上位机，所述监视辅助主机包括主机控制芯片、主机功能电路和电磁防护系统；所述主机控制芯片与所述主机电路电连接，用于获取电磁兼容测试数据并对测试数据进行识别、判断并发出指令；所述电磁防护系统覆盖设置于所述主机控制芯片和主机电路的外围与所述主机电路电连接；所述本地上位机设置于与所述监视辅助主机间隔第一预定距离的第一位置并与所述监视辅助主机电连接，用于向监视辅助主机接收数据和发送指令。与现有技术相比，本实用新型的监测结果准确、稳定性和适用性更强、监测范围更全面、智能化程度更高、使用更安全性。
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