公开(公告)号：CN115389844A

公开(公告)日：2022-11-25

申请号：CN202211032020.8

申请日：2022-08-26

Applicant: 中国电子技术标准化研究院

Inventor： 刘喆 ,  叶畅 ,  蔡利花 ,  孙美秋 ,  项道才 ,  王酣

IPC: G01R31/00 ,  G01R29/10 ,  G01R29/08

Abstract: 本发明属于电磁兼容测试领域，具体地说，涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法可用于替代传统的远场测试法，该方法包括：步骤1)布置紧缩场测试系统；步骤2)配置测试系统的校验路径；步骤3)计算测试系统的空损Lreal；步骤4)将Lreal与理想空损Lideal进行对比，当Lreal与Lideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；步骤5)配置测试系统的测量路径；步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；步骤7)计算发射机的基波ERP；步骤8)测量谐波和乱真辐射发射ERP的值，并与基波ERP比较，判断待测EUT天线谐波乱真辐射发射是否满足GJB151B的要求，从而完成测试。

公开(公告)号：CN115718224A

公开(公告)日：2023-02-28

申请号：CN202211099073.1

申请日：2022-09-07

Applicant: 中国电子技术标准化研究院

Inventor： 孙美秋 ,  刘喆 ,  项道才 ,  王酣 ,  蔡利花

IPC: G01R31/00 ,  G01R29/10 ,  G01R29/08

Abstract: 本发明涉及一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法，该方法包括根据毫米波频段设备的远场测试环境参数和实际工作环境参数分别计算毫米波频段设备在干燥空气和水汽条件下，远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗；根据毫米波频段设备在远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗以及路径长度计算在远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值；根据计算的远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值，进一步计算毫米波频段设备天线谐波乱真辐射发射的大气特征损耗修正因数；根据修正因数及毫米波频段设备在远场测试环境测试得到的天线谐波乱真辐射发射结果计算得出毫米波频段设备的天线谐波乱真辐射发射修正结果。