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公开(公告)号：CN115275620A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202211032014.2
申请日：2022-08-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于天线领域，具体地说，涉及一种制备用于成像的近场聚焦透镜天线的方法及一种近场聚焦透镜天线，该近场聚焦透镜天线包括：光滑内壁矩形喇叭天线(1)、近场聚焦透镜(2)、固定装置(3)；该方法包括：步骤1)计算喇叭天线的参数；步骤2)计算近场聚焦透镜的外部参数；步骤3)计算近场聚焦透镜的内部参数，并对得到的近场聚焦透镜天线进行公差分析与计算；步骤4)计算近场聚焦透镜天线的近场增益，以近场聚焦3dB直径作为分辨率的值，判断分辨率的计算结果是否符合设计要求；步骤5)仿真计算固定装置对透镜天线的力学和电学性能的影响，判断影响程度是否在可接受的范围内。
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公开(公告)号：CN113823916A
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202111013252.4
申请日：2021-08-31
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于太赫兹波通信天线技术领域，具体地说，涉及一种制备太赫兹透镜喇叭天线的方法，该太赫兹透镜喇叭天线包括：喇叭天线(1)和太赫兹透镜(2)；将太赫兹透镜(2)覆盖在喇叭天线(1)的喇叭开口处，且二者为一体式结构，不可拆卸；该方法包括：步骤1)计算喇叭天线的参数；步骤2)计算太赫兹透镜的外部参数；步骤3)计算太赫兹透镜的内部参数；步骤4)根据步骤1)‑步骤3)的结果，得到太赫兹透镜喇叭天线，利用蒙特卡洛法，对得到的太赫兹透镜喇叭天线进行公差调整；步骤5)利用口径场积分法，计算透镜喇叭天线的远场增益，并判断计算结果是否符合要求。
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公开(公告)号：CN115275620B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202211032014.2
申请日：2022-08-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于天线领域，具体地说，涉及一种制备用于成像的近场聚焦透镜天线的方法及一种近场聚焦透镜天线，该近场聚焦透镜天线包括：光滑内壁矩形喇叭天线(1)、近场聚焦透镜(2)、固定装置(3)；该方法包括：步骤1)计算喇叭天线的参数；步骤2)计算近场聚焦透镜的外部参数；步骤3)计算近场聚焦透镜的内部参数，并对得到的近场聚焦透镜天线进行公差分析与计算；步骤4)计算近场聚焦透镜天线的近场增益，以近场聚焦3dB直径作为分辨率的值，判断分辨率的计算结果是否符合设计要求；步骤5)仿真计算固定装置对透镜天线的力学和电学性能的影响，判断影响程度是否在可接受的范围内。
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公开(公告)号：CN115718224A
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202211099073.1
申请日：2022-09-07
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明涉及一种毫米波频段天线谐波乱真辐射发射特征损耗修正方法，该方法包括根据毫米波频段设备的远场测试环境参数和实际工作环境参数分别计算毫米波频段设备在干燥空气和水汽条件下，远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗；根据毫米波频段设备在远场测试环境的特征损耗和实际工作环境的特征损耗以及路径长度计算在远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值；根据计算的远场测试环境和实际工作环境的大气特征损耗值，进一步计算毫米波频段设备天线谐波乱真辐射发射的大气特征损耗修正因数；根据修正因数及毫米波频段设备在远场测试环境测试得到的天线谐波乱真辐射发射结果计算得出毫米波频段设备的天线谐波乱真辐射发射修正结果。
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公开(公告)号：CN112327476B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202011262125.3
申请日：2020-11-12
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于太赫兹波成像天线技术领域，具体地说，涉及一种制备太赫兹双远心透镜天线组的方法，包括：步骤1)获取太赫兹双远心透镜天线组所需要的外部参数；步骤2)获取太赫兹双远心透镜天线组的初始内部参数；步骤3)对太赫兹双远心透镜天线组进行优化，获得优化后的太赫兹双远心透镜天线；步骤4)初步判断太赫兹双远心透镜天线组的远心度和像平面光斑半径；步骤5)利用蒙特卡洛法，对步骤4)得到的太赫兹双远心透镜天线组进行公差调整；步骤6)根据获得的近场增益曲线图，获得像平面的光斑半径束，并判断像平面的光斑半径束是否合格。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112327476A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011262125.3
申请日：2020-11-12
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于太赫兹波成像天线技术领域，具体地说，涉及一种制备太赫兹双远心透镜天线组的方法，包括：步骤1)获取太赫兹双远心透镜天线组所需要的外部参数；步骤2)获取太赫兹双远心透镜天线组的初始内部参数；步骤3)对太赫兹双远心透镜天线组进行优化，获得优化后的太赫兹双远心透镜天线；步骤4)初步判断太赫兹双远心透镜天线组的远心度和像平面光斑半径；步骤5)利用蒙特卡洛法，对步骤4)得到的太赫兹双远心透镜天线组进行公差调整；步骤6)根据获得的近场增益曲线图，获得像平面的光斑半径束，并判断像平面的光斑半径束是否合格。
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公开(公告)号：CN119471175B
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202510074003.8
申请日：2025-01-17
Abstract: 本发明公开了一种ku波段高场强电场敏感度测试系统、设计方法及装置，该系统包括：产生激励信号的发射机、ku波段高场强电场敏感度测试天线和接收准平面波的场强探头；天线结构中，张角喇叭包括4个侧面；反射式曲面由曲线进行旋转所得，并由张角喇叭支撑，在张角喇叭的侧面和反射式曲面之间形成辐射口径；第一矩形波导将激励信号转化为电磁波；矩‑矩波导转换器将电磁波传递到第二矩形波导；第二矩形波导将电磁波传递到张角喇叭；张角喇叭以定向辐射的方式将电磁波辐射到反射式曲面上；反射式曲面将电磁波反射为准平面波，并向辐射口径正前方辐射到自由空间中。本发明可以在生成的高场强外部射频电磁环境中进行电场辐射敏感度测试。
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公开(公告)号：CN119471175A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202510074003.8
申请日：2025-01-17
Abstract: 本发明公开了一种ku波段高场强电场敏感度测试系统、设计方法及装置，该系统包括：产生激励信号的发射机、ku波段高场强电场敏感度测试天线和接收准平面波的场强探头；天线结构中，张角喇叭包括4个侧面；反射式曲面由曲线进行旋转所得，并由张角喇叭支撑，在张角喇叭的侧面和反射式曲面之间形成辐射口径；第一矩形波导将激励信号转化为电磁波；矩‑矩波导转换器将电磁波传递到第二矩形波导；第二矩形波导将电磁波传递到张角喇叭；张角喇叭以定向辐射的方式将电磁波辐射到反射式曲面上；反射式曲面将电磁波反射为准平面波，并向辐射口径正前方辐射到自由空间中。本发明可以在生成的高场强外部射频电磁环境中进行电场辐射敏感度测试。
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公开(公告)号：CN115389844A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211032020.8
申请日：2022-08-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明属于电磁兼容测试领域，具体地说，涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法可用于替代传统的远场测试法，该方法包括：步骤1)布置紧缩场测试系统；步骤2)配置测试系统的校验路径；步骤3)计算测试系统的空损Lreal；步骤4)将Lreal与理想空损Lideal进行对比，当Lreal与Lideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；步骤5)配置测试系统的测量路径；步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；步骤7)计算发射机的基波ERP；步骤8)测量谐波和乱真辐射发射ERP的值，并与基波ERP比较，判断待测EUT天线谐波乱真辐射发射是否满足GJB151B的要求，从而完成测试。
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公开(公告)号：CN115047270A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210626148.0
申请日：2022-06-02
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明提供了一种用于集成电路电磁兼容测试的监视辅助装置及方法，包括：对受试IC无电磁干扰工作状态下的第一反馈信号进行采样并进行数据分析，装置根据数据分析结果与装置内预设的IC类型进行比对，识别出受试IC的类型，装置根据受试IC类型对应的预设方式对第一反馈信号进行自适应学习，并得到学习结果数据，装置根据学习结果数据确定受试IC的预设测试项，再对受试IC电磁兼容测试时的第二反馈信号进行采样，并将第二阶段的测试反馈信号与预设测试项和预设测试标准进行实时对比分析，判断受试IC的工作状态是否正常，若判断为否，则发出报警提示。与现有技术相比，本发明的监测结果准确、稳定性和适用性更强、监测范围更全面、智能化程度更高。
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