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公开(公告)号：CN111931636B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202010786882.4
申请日：2020-08-07
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G06F18/10 , G06F18/213 , G01R31/00
Abstract: 本发明实施例公开了一种基于信号特征计算的滤波器件抑制作用评估方法，涉及信号测试技术领域，该方法包括：获取待进行评估的输入信号以及所述输入信号通过滤波器件后产生的畸变信号；分别计算所述输入信号和所述畸变信号在时域范围上波形的最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性；基于所述输入信号和所述畸变信号在最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性上的比值，形成骚扰相似度计算公式；基于所述骚扰相似度计算公式得到的计算结果，对所述滤波器件的抑制作用进行评估。通过本发明实施例的方案，能通过量化的方式对滤波器件的抑制作用进行评估。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114035697B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202111418143.0
申请日：2021-11-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明公开了一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置，包括由MCU控制芯片、串口转键盘鼠标芯片、USB键盘鼠标转串口芯片、电源供电电路、电磁干扰滤波及防护电路、MicroSD卡存储器、液晶显示模块、矩阵按键模块、实时时钟电路、蜂鸣器电路、键盘鼠标输入接口、键盘鼠标输出接口、金属机壳，本发明为电磁兼容测试和低辐射抗电磁干扰要求情况下模拟键盘鼠标操作开展自动测试、自动控制等全面自动化提供一种有效可行的装置和方法，具有功能全面、数据存储结构合理、低辐射抗电磁干扰的优点。
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公开(公告)号：CN111931636A
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN202010786882.4
申请日：2020-08-07
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明实施例公开了一种基于信号特征计算的滤波器件抑制作用评估方法，涉及信号测试技术领域，该方法包括：获取待进行评估的输入信号以及所述输入信号通过滤波器件后产生的畸变信号；分别计算所述输入信号和所述畸变信号在时域范围上波形的最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性；基于所述输入信号和所述畸变信号在最大值、最小值、信号能量以及趋势相关性上的比值，形成骚扰相似度计算公式；基于所述骚扰相似度计算公式得到的计算结果，对所述滤波器件的抑制作用进行评估。通过本发明实施例的方案，能通过量化的方式对滤波器件的抑制作用进行评估。
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公开(公告)号：CN115015660A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202210614203.4
申请日：2022-05-31
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置及使用方法，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆或波导传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。
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公开(公告)号：CN114035697A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202111418143.0
申请日：2021-11-26
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明公开了一种低辐射抗电磁干扰的键盘鼠标模拟装置，包括由MCU控制芯片、串口转键盘鼠标芯片、USB键盘鼠标转串口芯片、电源供电电路、电磁干扰滤波及防护电路、MicroSD卡存储器、液晶显示模块、矩阵按键模块、实时时钟电路、蜂鸣器电路、键盘鼠标输入接口、键盘鼠标输出接口、金属机壳，本发明为电磁兼容测试和低辐射抗电磁干扰要求情况下模拟键盘鼠标操作开展自动测试、自动控制等全面自动化提供一种有效可行的装置和方法，具有功能全面、数据存储结构合理、低辐射抗电磁干扰的优点。
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公开(公告)号：CN218122115U
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202221350806.X
申请日：2022-05-31
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。提高了集成电路电磁辐射抗扰度测试的精准度，提升了电磁辐射干扰信号的测试范围，适用性更强。
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