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公开(公告)号：CN119892225A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510320629.2
申请日：2025-03-18
IPC: H04B10/079 , H04L69/22 , H04B10/25
Abstract: 本发明公开了一种光口以太网数据包发送速率校准装置及方法，所述装置包括光纤接口、光模块、第一晶振、FPGA、射频接口和控制单元；光纤接口从数据网络性能测试仪接收光口以太网数据包；光模块将光信号的光口数据转换为电信号；第一晶振为FPGA提供参考时钟；FPGA中的以太网数据解析模块在解析到正确的以太网数据包帧头信息时，产生同步的帧头触发脉冲信号；射频接口向外部测试仪器输出帧头触发脉冲信号；控制单元将外部测试仪器测量的帧头触发脉冲的频率与所设置的数据包发送速率进行比较，计算出数据网络性能测试仪的数据包发送速率的误差。本发明能够实现光口以太网数据包发送速率的校准，可以用于数据网络性能测试仪的数据包发送速率性能参数的校准。
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公开(公告)号：CN114978960B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210914293.9
申请日：2022-08-01
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
IPC: H04L43/0829 , H04L41/0695 , H04L41/0866
Abstract: 本申请公开一种以太网帧头触发器，包括：FPGA芯片、存储芯片、以太网芯片、SMA接口、JTAG接口及以太网接口，其中：所述以太网芯片，与所述以太网接口电性连接，用于通过所述以太网接口接收网络性能测试设备传输的以太网数据包；所述FPGA芯片，与所述以太网芯片及所述存储芯片电性连接，用于将每一个以太网数据包转换为一个对应的脉冲信号；所述SMA接口，与所述FPGA芯片电性连接，用于输出脉冲信号；所述JTAG接口，与所述FPGA芯片电性连接，用于对所述FPGA芯片进行配置及调试；所述存储芯片，与所述FPGA芯片电性连接，用于存储数据。本申请中的以太网帧头触发器，可实现对网络性能测试设备进行校准。
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公开(公告)号：CN116633429B
公开(公告)日：2023-10-03
申请号：CN202310900168.7
申请日：2023-07-21
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
Abstract: 本申请实施例了提供一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置，该用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置包括：DFB光源用于提供第一光信号。SLD/SLED光源用于提供第二光信号。第一光开关其中一端耦接DFB光源。第一程控光衰减器其中一端耦接第一光开关的另一端。第二光开关其中一端耦接SLD/SLED光源。第二程控光衰减器其中一端通过消偏光纤耦接第二光开关的另一端。光合束器其中一端耦接第一程控光衰减器的另一端和第二程控光衰减器的另一端。起偏器的输入端用于耦接光合束器的另一端，起偏器的输出端用于光输出。本申请实施例的技术方案可以输出PDL值在（0.1~20）dB连续可调的目标混合光，且目标混合光PDL值的精度优于0.1dB。
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公开(公告)号：CN116131940B
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310408252.7
申请日：2023-04-17
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
IPC: H04B10/079 , H04B17/00 , H04B17/11
Abstract: 本发明公开一种光不连续性测试仪校准装置，包括：控制装置，用于发送预设的第一控制指令给所述信号发生器；信号发生器，与电吸收调制器连接，用于根据所述第一控制指令产生不连续的电信号，并将所述电信号输出给所述电吸收调制器；电吸收调制器，放置在恒温装置中，用于根据所述电信号输出与所述电信号相对应的光不连续信号；恒温装置，用于保持所述电吸收调制器处于恒定温度下；所述控制装置，还用于发送预设的第二控制指令给所述程控光衰减器；程控光衰减器，与所述电吸收调制器连接，用于根据所述第二控制指令对所述电吸收调制器输出的光不连续信号进行衰减处理，并输出光不连续校准信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118138506B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410532996.4
申请日：2024-04-30
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
IPC: H04L43/0852 , H04L43/0829 , H04L43/50
Abstract: 本发明公开了一种数据网络测试仪校准装置及方法，所述装置包括以太网芯片、FPGA、DDR3存储器、控制器；以太网芯片与被校的数据网络测试仪相连，FPGA与以太网芯片相连，接收以太网芯片传输的以太网数据包，DDR3存储器用于存储FPGA接收的以太网数据包，控制器用于设置时延和丢包功能参数并传递给FPGA；FPGA在接收到的以太网数据包中加入模拟时延值或丢包值后，转发回数据网络测试仪，通过频率计测量两个通道间的时间间隔作为时延标准值，读取两个通道的读数计算丢包率标准值，将时延和丢包标准值与数据网络测试仪测得的时延和丢包率进行比对，计算出误差。本发明可以直接用于数据网络测试仪的校准，能够解决闭环互测的问题，提高工作效率，降低校准成本。
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公开(公告)号：CN116633429A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310900168.7
申请日：2023-07-21
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
Abstract: 本申请实施例了提供一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置，该用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置包括：DFB光源用于提供第一光信号。SLD/SLED光源用于提供第二光信号。第一光开关其中一端耦接DFB光源。第一程控光衰减器其中一端耦接第一光开关的另一端。第二光开关其中一端耦接SLD/SLED光源。第二程控光衰减器其中一端通过消偏光纤耦接第二光开关的另一端。光合束器其中一端耦接第一程控光衰减器的另一端和第二程控光衰减器的另一端。起偏器的输入端用于耦接光合束器的另一端，起偏器的输出端用于光输出。本申请实施例的技术方案可以输出PDL值在（0.1~20）dB连续可调的目标混合光，且目标混合光PDL值的精度优于0.1dB。
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公开(公告)号：CN116131940A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310408252.7
申请日：2023-04-17
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
IPC: H04B10/079 , H04B17/00 , H04B17/11
Abstract: 本发明公开一种光不连续性测试仪校准装置，包括：控制装置，用于发送预设的第一控制指令给所述信号发生器；信号发生器，与电吸收调制器连接，用于根据所述第一控制指令产生不连续的电信号，并将所述电信号输出给所述电吸收调制器；电吸收调制器，放置在恒温装置中，用于根据所述电信号输出与所述电信号相对应的光不连续信号；恒温装置，用于保持所述电吸收调制器处于恒定温度下；所述控制装置，还用于发送预设的第二控制指令给所述程控光衰减器；程控光衰减器，与所述电吸收调制器连接，用于根据所述第二控制指令对所述电吸收调制器输出的光不连续信号进行衰减处理，并输出光不连续校准信号。
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公开(公告)号：CN118138506A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410532996.4
申请日：2024-04-30
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
IPC: H04L43/0852 , H04L43/0829 , H04L43/50
Abstract: 本发明公开了一种数据网络测试仪校准装置及方法，所述装置包括以太网芯片、FPGA、DDR3存储器、控制器；以太网芯片与被校的数据网络测试仪相连，FPGA与以太网芯片相连，接收以太网芯片传输的以太网数据包，DDR3存储器用于存储FPGA接收的以太网数据包，控制器用于设置时延和丢包功能参数并传递给FPGA；FPGA在接收到的以太网数据包中加入模拟时延值或丢包值后，转发回数据网络测试仪，通过频率计测量两个通道间的时间间隔作为时延标准值，读取两个通道的读数计算丢包率标准值，将时延和丢包标准值与数据网络测试仪测得的时延和丢包率进行比对，计算出误差。本发明可以直接用于数据网络测试仪的校准，能够解决闭环互测的问题，提高工作效率，降低校准成本。
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公开(公告)号：CN114978960A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210914293.9
申请日：2022-08-01
Applicant: 广州赛宝计量检测中心服务有限公司
IPC: H04L43/0829 , H04L41/0695 , H04L41/0866
Abstract: 本申请公开一种以太网帧头触发器，包括：FPGA芯片、存储芯片、以太网芯片、SMA接口、JTAG接口及以太网接口，其中：所述以太网芯片，与所述以太网接口电性连接，用于通过所述以太网接口接收网络性能测试设备传输的以太网数据包；所述FPGA芯片，与所述以太网芯片及所述存储芯片电性连接，用于将每一个以太网数据包转换为一个对应的脉冲信号；所述SMA接口，与所述FPGA芯片电性连接，用于输出脉冲信号；所述JTAG接口，与所述FPGA芯片电性连接，用于对所述FPGA芯片进行配置及调试；所述存储芯片，与所述FPGA芯片电性连接，用于存储数据。本申请中的以太网帧头触发器，可实现对网络性能测试设备进行校准。
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